等离子体处理装置和等离子体处理装置的制作方法

    公开(公告)号:CN110010438A

    公开(公告)日:2019-07-12

    申请号:CN201811524706.2

    申请日:2018-12-13

    Abstract: 本发明的技术问题为,能够在该被处理体的面内均匀地进行被处理体的等离子体处理。本发明的解决方案为一种等离子体处理装置,其从天线经由处理容器的顶板向处理容器内辐射微波,生成等离子体,对处理容器内的晶片进行等离子体处理,该等离子体处理装置包括:按压部件,其在与处理容器的顶板相对的面形成有槽,将天线按压于处理容器的顶板;和弹性部件,其配置于槽内,由按压部件与天线夹着而变形,对天线施加向处理容器的方向的按压力,槽在以与顶板垂直的规定轴为中心的同心的多个圆环状区域形成为以规定轴为中心的圆弧状或圆环状,弹性部件仅配置于上述多个圆环状区域的一部分。

    等离子体处理装置和等离子体处理装置的制作方法

    公开(公告)号:CN110010438B

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN201811524706.2

    申请日:2018-12-13

    Abstract: 本发明的技术问题为,能够在该被处理体的面内均匀地进行被处理体的等离子体处理。本发明的解决方案为一种等离子体处理装置,其从天线经由处理容器的顶板向处理容器内辐射微波,生成等离子体,对处理容器内的晶片进行等离子体处理,该等离子体处理装置包括:按压部件,其在与处理容器的顶板相对的面形成有槽,将天线按压于处理容器的顶板;和弹性部件,其配置于槽内,由按压部件与天线夹着而变形,对天线施加向处理容器的方向的按压力,槽在以与顶板垂直的规定轴为中心的同心的多个圆环状区域形成为以规定轴为中心的圆弧状或圆环状,弹性部件仅配置于上述多个圆环状区域的一部分。

    成膜装置和成膜材料供给方法

    公开(公告)号:CN103154305A

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN201180048262.X

    申请日:2011-10-03

    CPC classification number: C23C14/24 C03C17/002 C23C14/543 H01L51/0008

    Abstract: 本发明提供能够抑制蒸气产生部内部的压力上升和温度上升,能够进行精密的温度控制的成膜装置。对玻璃基板(G)进行成膜处理的成膜装置具有:収容玻璃基板(G)的处理室(5);通过对成膜材料进行加热,产生该成膜材料的蒸气的蒸气产生部(1);用于将在蒸气产生部(1)中产生的成膜材料的蒸气与运载气体一起输送到处理室(5)的输送路径(21);排气路径(22);设置在输送路径途中的调节阀装置(31);和设置在排气路径(22)途中的排气阀装置(32);对蒸气产生部(1)的温度进行检测的材料温度检测部(64);第一蒸气量检测部(23);和控制部(8),在对成膜材料进行加热时,根据蒸气产生部(1)的温度的高低,对排气阀装置(32)的开关动作进行控制,在将成膜材料向上述处理室输送时,在由第一蒸气量检测部(23)检测出的蒸气量稳定时,关闭排气阀装置(32),打开调节阀装置(31)。

    成膜装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102644051A

    公开(公告)日:2012-08-22

    申请号:CN201210035752.2

    申请日:2012-02-16

    Abstract: 从蒸镀头喷射的成膜材料,在被处理基板和处理室或者其他的蒸镀头之间反冲,成膜材料附着于与应被蒸镀的位置不同的部位,或者作为杂质混入来自各成膜材料喷出部的蒸气混合的相邻的膜中。本发明是一种成膜装置(1),具有:收纳被处理基板(被处理基板G)的处理室(11);和向该被处理基板喷出成膜材料的蒸气的成膜材料喷出部(13),该成膜装置(1),在处理室(11)的内部具有捕捉部(16、16),其捕捉从成膜材料喷出部(13)喷出的,被被处理基板(被处理基板G)反冲的成膜材料。

    基板处理方法和基板处理装置

    公开(公告)号:CN100514576C

    公开(公告)日:2009-07-15

    申请号:CN200680007627.3

    申请日:2006-02-20

    Abstract: 本发明涉及一种基板处理方法,其是基板处理装置的基板处理方法,具特征在于,该基板处理装置具有:处理容器,其内部具有支承被处理基板并该被处理基板上供给第一处理气体或第二处理气体的第一空间和在该第一空间的周围形成的、与该第一空间连通的第二空间;排出所述第一空间的气体的第一排气单元;和排出所述第二空间的气体的第二排气单元。该基板处理方法具有:将所述第一处理气体供给所述第一空间的第一工序;从所述第一空间排出该第一处理气体的第二工序;将所述第二处理气体供给所述第一空间的第三工序;和从所述第一空间排出所述第二处理气体的第四工序。其中,所述第二空间的压力由供给到该第二空间的压力调整气体进行调整。

    基板处理方法、记录介质和基板处理装置

    公开(公告)号:CN101138076A

    公开(公告)日:2008-03-05

    申请号:CN200680007627.3

    申请日:2006-02-20

    Abstract: 本发明涉及一种基板处理方法,其是基板处理装置的基板处理方法,其特征在于,该基板处理装置具有:处理容器,其内部具有支承被处理基板并该被处理基板上供给第一处理气体或第二处理气体的第一空间和在该第一空间的周围形成的、与该第一空间连通的第二空间;排出所述第一空间的气体的第一排气单元;和排出所述第二空间的气体的第二排气单元。该基板处理方法具有:将所述第一处理气体供给所述第一空间的第一工序;从所述第一空间排出该第一处理气体的第二工序;将所述第二处理气体供给所述第一空间的第三工序;和从所述第一空间排出所述第二处理气体的第四工序。其中,所述第二空间的压力由供给到该第二空间的压力调整气体进行调整。

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