基于ERC32的星载软件抗单粒子翻转故障的测试方法

    公开(公告)号:CN107992412B

    公开(公告)日:2021-05-11

    申请号:CN201711207545.X

    申请日:2017-11-27

    Abstract: 本发明提供了一种基于ERC32的星载软件抗单粒子翻转故障的测试方法,运行于ERC32星载软件测试平台,具体包括:利用测试平台的ERC32芯片所自带的TESCTR寄存器,根据程序运行区SRAM的特点设计向所述程序运行区SRAM注入EDAC一位错和两位错故障的功能;根据程序存储区EEPROM自带软件锁的特点,设计向EEPROM注入EDAC一位错和两位错故障的功能;最后将故障注入功能模块加载到被测试的星载软件中编译运行,实现对星载软件的抗单粒子功能有效性的测试。该方法无需留下JTAG接口,无需硬件仿真器,只需要加入一段软件代码,就可以可靠灵活的对星载软件进行抗单粒子翻转故障的测试。

    基于ERC32的星载软件抗单粒子翻转故障的测试方法

    公开(公告)号:CN107992412A

    公开(公告)日:2018-05-04

    申请号:CN201711207545.X

    申请日:2017-11-27

    Abstract: 本发明提供了一种基于ERC32的星载软件抗单粒子翻转故障的测试方法,运行于ERC32星载软件测试平台,具体包括:利用测试平台的ERC32芯片所自带的TESCTR寄存器,根据程序运行区SRAM的特点设计向所述程序运行区SRAM注入EDAC一位错和两位错故障的功能;根据程序存储区EEPROM自带软件锁的特点,设计向EEPROM注入EDAC一位错和两位错故障的功能;最后将故障注入功能模块加载到被测试的星载软件中编译运行,实现对星载软件的抗单粒子功能有效性的测试。该方法无需留下JTAG接口,无需硬件仿真器,只需要加入一段软件代码,就可以可靠灵活的对星载软件进行抗单粒子翻转故障的测试。

    一种利用GPIO接口模拟McBSP接口的方法

    公开(公告)号:CN107942794B

    公开(公告)日:2020-04-28

    申请号:CN201711208470.7

    申请日:2017-11-27

    Abstract: 本发明公开了一种利用GPIO接口模拟McBSP接口的方法,该方法包括如下步骤:步骤a:在DSP中选择5个GPIO接口模拟McBSP接口,1个模拟时钟信号CLK,1个模拟发送帧同步信号FSX,1个模拟接收帧同步信号FSR,1个模拟接收串行数据信号DR,1个模拟发送串行数据信号DX;步骤b:根据自身设计需要,设置时钟信号,固定周期值,发送和接收的数据字长的位数,发送和接收帧同步信号标志,时钟标志位;步骤c:在DSP的定时器中断处理程序中,设置发送和接收数据两个分支。本发明减少了时间复杂度,增加了DSP芯片的McBSP接口数量。

    基于FPGA/MCU结构的1553B远程终端装置

    公开(公告)号:CN103530263A

    公开(公告)日:2014-01-22

    申请号:CN201310471158.2

    申请日:2013-10-11

    Abstract: 一种基于FPGA/MCU结构的1553B远程终端装置,其包括1553B协议芯片、主处理器、辅助控制器和数据存储单元,所述1553B协议芯片用于按照1553B总线协议完成字与消息的处理,并与1553B总线进行数据交换;所述主处理器用于设置所述1553B协议芯片的工作模式以及初始化配置,并控制所述辅助控制器;所述辅助控制器对1553B协议芯片进行访问控制权切换以及直接存储器存取;所述数据存储单元存储辅助控制器获取的1553B总线数据。本发明充分利用了MCU设计成熟和FPGA处理速率高、使用灵活的优点,缩短了开发周期,降低了新产品的开发周期和成本;本发明用FPGA实现了1553B协议芯片的16位工作模式以及流水读访问,提高了1553B远程终端装置的工作效率。

    一种支持即插即用的星载软件容错方法

    公开(公告)号:CN106407046A

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201610873553.7

    申请日:2016-09-29

    CPC classification number: G06F11/1479

    Abstract: 本发明涉及多平台环境下星载软件容错的方法,公开了一种支持即插即用的星载软件容错方法,采取的步骤包括:异常触发、异常消息解析、故障所在设备驱动程序签名、故障所在软件模块签名、故障所在板卡签名、故障所在星载计算机签名、判断纠错能力、数据恢复处理、判断备份件、切换选用备份件、隔离故障设备或模块、记录故障信息。本发明解决了复杂应用环境下对多处理器及硬件设备的星载软件采取容错设计时不易扩展和兼容的问题,取得了提升软件快速开发能力、可靠性和支持设备即插即用等有益效果。

    基于FPGA/MCU结构的1553B远程终端装置

    公开(公告)号:CN103530263B

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201310471158.2

    申请日:2013-10-11

    Abstract: 一种基于FPGA/MCU结构的1553B远程终端装置,其包括1553B协议芯片、主处理器、辅助控制器和数据存储单元,所述1553B协议芯片用于按照1553B总线协议完成字与消息的处理,并与1553B总线进行数据交换;所述主处理器用于设置所述1553B协议芯片的工作模式以及初始化配置,并控制所述辅助控制器;所述辅助控制器对1553B协议芯片进行访问控制权切换以及直接存储器存取;所述数据存储单元存储辅助控制器获取的1553B总线数据。本发明充分利用了MCU设计成熟和FPGA处理速率高、使用灵活的优点,缩短了开发周期,降低了新产品的开发周期和成本;本发明用FPGA实现了1553B协议芯片的16位工作模式以及流水读访问,提高了1553B远程终端装置的工作效率。

    一种评估单体均衡控制测试效率的方法及其装置

    公开(公告)号:CN108983742A

    公开(公告)日:2018-12-11

    申请号:CN201711207565.7

    申请日:2017-11-27

    Abstract: 本申请提供了一种评估单体均衡控制测试效率的方法,包括:根据待测单体的代码信息,确定所述待测单体的K个功能分支和所述待测单体的复杂度向量ω;根据K个功能分支,统计待测单体的第一测试用例集的执行计数向量E1,以及第二测试用例集的执行计数向量E2;根据E1和复杂度向量ω确定所述第一测试用例集的测试密度向量DC1,根据E2和复杂度向量ω确定第二测试用例集的测试密度向量DC2;计算第一测试用例集的测试密度向量DC1和第二测试用例集的测试密度向量DC2的相关系数ρ(DC1,DC2),并根据ρ(DC1,DC2)确定待测单体的均衡控制测试效率。因此,本申请实施例提供了基于协方差的单体均衡控制测试效率评估方法,可以为单体均衡控制的可靠性分析和度量提供依据,测试效率更高。

    一种利用GPIO接口模拟McBSP接口的方法

    公开(公告)号:CN107942794A

    公开(公告)日:2018-04-20

    申请号:CN201711208470.7

    申请日:2017-11-27

    Abstract: 本发明公开了一种利用GPIO接口模拟McBSP接口的方法,该方法包括如下步骤:步骤a:在DSP中选择5个GPIO接口模拟McBSP接口,1个模拟时钟信号CLK,1个模拟发送帧同步信号FSX,1个模拟接收帧同步信号FSR,1个模拟接收串行数据信号DR,1个模拟发送串行数据信号DX;步骤b:根据自身设计需要,设置时钟信号,固定周期值,发送和接收的数据字长的位数,发送和接收帧同步信号标志,时钟标志位;步骤c:在DSP的定时器中断处理程序中,设置发送和接收数据两个分支。本发明减少了时间复杂度,增加了DSP芯片的McBSP接口数量。

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