公开(公告)号：CN107992412B

公开(公告)日：2021-05-11

申请号：CN201711207545.X

申请日：2017-11-27

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 陆灵君 ,  胡晓刚 ,  胡浩 ,  施雯 ,  李晓敏

IPC: G06F11/36 ,  G06F11/10 ,  G06F8/41

Abstract: 本发明提供了一种基于ERC32的星载软件抗单粒子翻转故障的测试方法，运行于ERC32星载软件测试平台，具体包括：利用测试平台的ERC32芯片所自带的TESCTR寄存器，根据程序运行区SRAM的特点设计向所述程序运行区SRAM注入EDAC一位错和两位错故障的功能；根据程序存储区EEPROM自带软件锁的特点，设计向EEPROM注入EDAC一位错和两位错故障的功能；最后将故障注入功能模块加载到被测试的星载软件中编译运行，实现对星载软件的抗单粒子功能有效性的测试。该方法无需留下JTAG接口，无需硬件仿真器，只需要加入一段软件代码，就可以可靠灵活的对星载软件进行抗单粒子翻转故障的测试。

公开(公告)号：CN107992412A

公开(公告)日：2018-05-04

申请号：CN201711207545.X

申请日：2017-11-27

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 陆灵君 ,  胡晓刚 ,  胡浩 ,  施雯 ,  李晓敏

IPC: G06F11/36 ,  G06F11/10 ,  G06F8/41

Abstract: 本发明提供了一种基于ERC32的星载软件抗单粒子翻转故障的测试方法，运行于ERC32星载软件测试平台，具体包括：利用测试平台的ERC32芯片所自带的TESCTR寄存器，根据程序运行区SRAM的特点设计向所述程序运行区SRAM注入EDAC一位错和两位错故障的功能；根据程序存储区EEPROM自带软件锁的特点，设计向EEPROM注入EDAC一位错和两位错故障的功能；最后将故障注入功能模块加载到被测试的星载软件中编译运行，实现对星载软件的抗单粒子功能有效性的测试。该方法无需留下JTAG接口，无需硬件仿真器，只需要加入一段软件代码，就可以可靠灵活的对星载软件进行抗单粒子翻转故障的测试。