一种比较法校准精密铂电阻温度计的装置

    公开(公告)号:CN220708590U

    公开(公告)日:2024-04-02

    申请号:CN202321796664.4

    申请日:2023-07-10

    Inventor: 姚丽芳 朱毅晨

    Abstract: 本实用新型公开了一种比较法校准精密铂电阻温度计的装置,其特征在于,包括可移出地安装在恒温槽上的等温安装台,其包括依次同轴固定安装的等温块、连接杆、支撑座;等温块上绕其中心轴环形阵列开设有一个标准铂电阻温度计插孔和多个精密铂电阻温度计插孔;对应地,支撑座上环形阵列开置有标准铂通孔、精密铂通孔;标准铂电阻温度计插孔和精密铂电阻温度计插孔深度相同,且均不小于50mm。该装置不仅能够满足目前市场上流通的绝大多数精密铂电阻温度计的校准需求,还能够同时对两支以上的温度计进行测量,大大提高了工作效率;而且具有良好的抗环境干扰性能,同时组装、置换简单,维护、使用成本低。

    一种晶圆测温系统的温度测量装置

    公开(公告)号:CN222188602U

    公开(公告)日:2024-12-17

    申请号:CN202421050597.6

    申请日:2024-05-14

    Abstract: 本实用新型涉及一种晶圆测温系统的温度测量装置,用于测量晶圆测温系统的温度误差,包括:恒温槽,用于提供恒定温场;等温块,包括第一装载空间和第二装载空间,第一装载空间用于装载晶圆测温系统,第二装载空间用于装载标准铂电阻温度计,至少部分等温块自开口端至封闭端从条形槽口插入至空腔内,在恒温槽提供的恒定温场下可以分别读取晶圆测温系统与标准铂电阻温度计测得的温度数据并对比,从而得出晶圆测温系统的温度误差值,结构简单、操作方便且测得的晶圆测温系统的误差值准确;并且通过设置有等温块,可以在测得晶圆测温系统温度误差的同时还可以防止晶圆测温系统直接与流体介质接触,从而保证晶圆测温系统的洁净度。

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