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公开(公告)号：CN119413303A
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202410787813.3
申请日：2024-06-18
Abstract: 本发明提供一种无线接触式表面温度测量装置及测温方法，装置包括传感器探头、无线传输模块、探头固定及压力调节机构、测试分析处理器，传感器探头包括探头壳体、设置在探头壳体内的内部电路和电源模块、设置在探头壳体下部的感温元件；探头固定及压力调节机构包括支撑架、加压丝杠、压簧、压力传感器、探头安装座和至少3个吸盘。检测时，通过无线传输模块实时传输检测数据，可以实现封闭环境中的表面温度检测。结合加压丝杠和压力传感器可以很好地控制接触程度，不受人为因素影响，提高温度测量准确性。采用吸盘固定方式，使得表面温度检测不仅可以用于水平面，也可以用于垂直表面等场合，提高适用性。
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公开(公告)号：CN118730342A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202411086142.4
申请日：2024-08-08
Applicant: 上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心) , 上海理工大学
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明公开了一种热电偶检定炉管及其使用方法，涉及热电偶校准技术领域，包括外炉管、均温块、测量端定位块、测量段调温块、控温端定位块和控温段调温块，所述均温块放置在外炉管内，所述均温块上设有控温偶孔，所述控温偶孔用于插设控温偶，所述外炉管的两端分别设置有测量端炉口和控温端炉口并分别设置有测量端定位块和控温端定位块；本发明可以在热电偶检定炉长期运行后根据其轴向温度场，灵活配置测量段调温块和控温段调温块的数量，调节外炉管与外界的传热，改善均温块内的温度场，减小热电偶校准结果的不确定度；延长检定炉使用周期，降低维修对校准工作的影响；不使用石棉，改善了检定人员工作环境。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116678520A
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202310465201.8
申请日：2023-04-27
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明公开了一种低温干体式温度校准器，包括液氮杜瓦罐、恒温器；其中，所述恒温器包括圆柱形中空金属外壳、圆柱形等温块、连接组件、金属法兰顶盖、保温盖、加热棒和温控传感器；工作时，所述恒温器悬于液氮杜瓦罐内，其顶部的保温盖过盈套装于液氮杜瓦罐罐口上，液氮杜瓦罐内液氮液面不超过外壳顶面。该校准器使用液氮提供低温环境，采用准绝热式恒温器有效地降低装置本身的漏热，依靠等温块和温控系统精准的控温来保证稳定的恒温环境，从而不仅能够为待检测件提供精确可调的‑190℃～‑80℃低温温度场，而且调节温度场时液氮消耗少，能源效率高。
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公开(公告)号：CN119958701A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510197361.8
申请日：2025-02-21
Applicant: 上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心) , 上海理工大学
Abstract: 本发明公开了一种热像式筛检仪移动校准用仿生装置，涉及热像式筛检仪校准技术领域，包括移动推车、仿生人头，所述仿生人头内置有效发射率为0.98的黑体辐射源，所述黑体辐射源的黑体空腔位于仿生人头额头的中心位置，所述黑体空腔外侧绕有第一加热线圈和第二加热线圈；本发明通过将黑体辐射源嵌入仿生人头的方式，能够用于筛检仪人脸识别情况下体温模式误差校准，本发明黑体辐射源配有不间断电源，在校准不同位置筛检仪时，避免了因位置移动而导致的黑体辐射源断电，避免了黑体辐射源重新启动、稳定而需要的等待时间，提高了现场校准的工作效率。本发明装置放置在移动推车上，方便现场校准移动，降低了校准人员的劳动强度。
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公开(公告)号：CN222069929U
公开(公告)日：2024-11-26
申请号：CN202421393463.4
申请日：2024-06-18
Abstract: 本实用新型提供一种无线接触式表面温度测量装置，涉及温度测量技术领域。该装置包括：传感器探头、无线传输模块、探头固定及接触面力微调模块、测试分析处理器，传感器探头用于感测被测表面的温度，探头固定及接触面力微调模块用于将传感器探头固定在被测表面处，无线传输模块用于获取来自传感器探头的温度信号并将信号无线传送至测试分析处理器，传感器探头包括探头壳体、内部电路和电源模块、支撑柱以及感温元件。本装置可以实现封闭环境中的表面温度检测，通过固定模块固定探头和表面接触，再结合力微调设备，可以很好地控制接触程度，不受人为因素影响。所采用的固定模块使得表面温度检测不仅可以用于水平面，也可以用于垂直表面。
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公开(公告)号：CN222188602U
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202421050597.6
申请日：2024-05-14
IPC: G01K15/00
Abstract: 本实用新型涉及一种晶圆测温系统的温度测量装置，用于测量晶圆测温系统的温度误差，包括：恒温槽，用于提供恒定温场；等温块，包括第一装载空间和第二装载空间，第一装载空间用于装载晶圆测温系统，第二装载空间用于装载标准铂电阻温度计，至少部分等温块自开口端至封闭端从条形槽口插入至空腔内，在恒温槽提供的恒定温场下可以分别读取晶圆测温系统与标准铂电阻温度计测得的温度数据并对比，从而得出晶圆测温系统的温度误差值，结构简单、操作方便且测得的晶圆测温系统的误差值准确；并且通过设置有等温块，可以在测得晶圆测温系统温度误差的同时还可以防止晶圆测温系统直接与流体介质接触，从而保证晶圆测温系统的洁净度。
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公开(公告)号：CN220437618U
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202321778949.5
申请日：2023-07-07
Abstract: 本实用新型属于表面传感器校准领域，公开了一种低温表面温度传感器校准装置，包括低温恒温槽、测试平台、直角精密铂电阻温度计、棒式精密铂电阻温度计；测试平台可移出地嵌入低温恒温槽，形成低温温场；测试平台包括等温槽，等温槽具有一个水平第一测温平面和一个竖直第二测温平面；直角精密铂电阻温度计可拆卸地安装在第一测温平面底部，在安装位置，其感温头与第一测温平面中心贴近；棒式精密铂电阻温度计可拆卸地安装在第二测温平面侧面，在安装位置，其感温头与第一测温平面和第二测温平面的交线中心贴近。该校准装置能够满足市面上各类表面温度传感器的校准需求，校准量程低至‑30℃，而且操作简便、测量准确度高。
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