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公开(公告)号:CN101459207A
公开(公告)日:2009-06-17
申请号:CN200910044852.X
申请日:2009-01-04
Applicant: 上海大学
IPC: H01L31/18
CPC classification number: Y02P70/521
Abstract: 本发明涉及一种Au/Cr-CZT复合电极的制备方法,属于CdZnTe(CZT)半导体材料探测器欧姆电极制备技术领域。本发明方法利用传统常用的现有真空蒸发装置,在CZT表面先蒸发沉积一层厚度为3~15nm的Cr层,然后再蒸发沉积一层厚度为50~150nm的Au电极层,然后在100~200℃温度下恒温10~60分钟,以促进电极层的合金化过程,真空蒸发的真空度在10-5~10-7Pa,然后待晶片自然冷却0.5~2小时,最终制得Au/Cr-CZT复合接触电极。本发明方法所得的Au/Cr-CZT复合电极与以往的Au-CZT电极相比,复合电极的接触附着力更强、I-V特性曲线显示其欧姆线性更佳,器件的能谱响应也得到了提高和改善。
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公开(公告)号:CN101459207B
公开(公告)日:2010-08-18
申请号:CN200910044852.X
申请日:2009-01-04
Applicant: 上海大学
IPC: H01L31/18
CPC classification number: Y02P70/521
Abstract: 本发明涉及一种Au/Cr-CZT复合电极的制备方法,属于CdZnTe(CZT)半导体材料探测器欧姆电极制备技术领域。本发明方法利用传统常用的现有真空蒸发装置,在CZT表面先蒸发沉积一层厚度为3~15nm的Cr层,然后再蒸发沉积一层厚度为50~150nm的Au电极层,然后在100~200℃温度下恒温10~60分钟,以促进电极层的合金化过程,真空蒸发的真空度在10-5~10-7Pa,然后待晶片自然冷却0.5~2小时,最终制得Au/Cr-CZT复合接触电极。本发明方法所得的Au/Cr-CZT复合电极与以往的Au-CZT电极相比,复合电极的接触附着力更强、I-V特性曲线显示其欧姆线性更佳,器件的能谱响应也得到了提高和改善。
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公开(公告)号:CN101397651A
公开(公告)日:2009-04-01
申请号:CN200810201997.1
申请日:2008-10-30
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明涉及一种CdZnTe晶体生长用石英安瓿内壁镀覆碳膜的方法及其装置,属特殊晶体生长用容器的镀膜工艺技术领域。本发明采用一种真空热分解镀膜技术,将待镀碳的石英安瓿放置于加热炉的石英炉管中,并藉真空抽气系统,保持其真空度在10-1~10-3Pa范围内,同时吸入作为碳源的无水乙醇,其流量控制在0.5~5ml/min范围内;将石英安瓿在真空中加热到热分解镀膜温度,该温度为950~1100℃,并在该温度下维持加热10~60分钟,使碳充分沉积,待冷却至室温后,即得镀碳膜的石英安瓿。本发明方法可以制得具有高结合力和致度的碳膜的石英安瓿,碳膜不易脱落,有利于CdZnTe晶体的合成生长。
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