电子器件检查装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115552259A

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202080100563.1

    申请日:2020-05-13

    Abstract: 本申请的电子器件检查装置(10)具备:检查台(3),对配置于半导体装置(90)的电极进行定位并保持;触头(2),由形状记忆合金形成为长条薄板状,基部(2b)固定于检查台(3),可变部(2a)在第一温度下呈漩涡形状且在第二温度下展开漩涡;以及测定部(61),通过经由触头(2)向电极通电,来测定半导体装置(90),构成为可变部(2a)的漩涡的轴与定位后的电极的电极面平行,在第二温度下,在可变部(2a)与定位后的电极之间形成沿着长度方向的接触区域(Rc)。

    半导体受光模块
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107946376B

    公开(公告)日:2020-03-13

    申请号:CN201710953120.7

    申请日:2017-10-13

    Inventor: 见上洋平

    Abstract: 提供一种半导体受光模块,该半导体受光模块被改良为即使在规格模块长不同的情况下也能够尽量不进行设计变更。半导体受光模块(10)具有:芯柱(12);罩部(14),其覆盖于芯柱(12);保持部(16),其与罩部(14)叠放;以及管座(18),其插入于保持部(16)。保持部(16)具有将罩部(14)的透镜(35)覆盖的主体部。在保持部(16)的主体部设置有从罩部(14)的相反侧贯通主体部到达透镜(35)的开口(16a)。固定螺钉(20)插入至设置于保持部(16)的螺纹孔(16b),固定螺钉(20)的螺钉主体部(20a)的螺钉前端与管座(18)的侧面抵接。

    半导体激光检查装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN116529859B

    公开(公告)日:2025-05-13

    申请号:CN202080107390.6

    申请日:2020-12-03

    Abstract: 将半导体激光元件(2)载置于第一加热冷却器(1)。在第二加热冷却器(3)之上安装有探头支架(4)。测定用探头(8)固定于探头支架(4)的末端。微动台(9)使第二加热冷却器(3)以及探头支架(4)移动而使测定用探头(8)的末端抵接于半导体激光元件(2)。检查装置(10)经由测定用探头(8)向半导体激光元件(2)输入检查信号。

    感光模块
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112955799A

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN201880095958.X

    申请日:2018-11-16

    Inventor: 见上洋平

    Abstract: 本发明提供的感光模块,接受器(6)具有光纤插芯(7)。透镜(5)具有入射侧曲面(9)、射出侧曲面(10)、设置于入射侧曲面(9)与射出侧曲面(10)之间的圆筒部(11)。接受器保持部(8)以使透镜(5)与光纤插芯(7)不接触而分离的方式保持接受器(6)。若从光纤插芯(7)出来的光从入射侧曲面(9)进入透镜(5),则在透镜(5)的内部聚光后再次扩散,从射出侧曲面(10)出来的光被聚光于感光元件(2)的感光面。

    光模块
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106451393B

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201610639226.5

    申请日:2016-08-05

    Inventor: 见上洋平

    Abstract: 得到一种光模块,其能够实现稳定的浪涌耐受性而不依赖于有无光的射入。在APD(Avalanche Photodiode)的阴极与电源端子(TV1)之间连接有自偏置电阻(R1)。用于浪涌对策的齐纳二极管(D1)的阴极连接于电源端子(TV1)与自偏置电阻(R1)的连接点,阳极与接地端子(TGND)直接连接。接地端子(TGND)被电气接地。齐纳二极管(D1)的击穿电压(Vz)比施加于电源端子(TV1)的电源电压(Vapd)大。

    半导体受光模块
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107946376A

    公开(公告)日:2018-04-20

    申请号:CN201710953120.7

    申请日:2017-10-13

    Inventor: 见上洋平

    Abstract: 提供一种半导体受光模块,该半导体受光模块被改良为即使在规格模块长不同的情况下也能够尽量不进行设计变更。半导体受光模块(10)具有:芯柱(12);罩部(14),其覆盖于芯柱(12);保持部(16),其与罩部(14)叠放;以及管座(18),其插入于保持部(16)。保持部(16)具有将罩部(14)的透镜(35)覆盖的主体部。在保持部(16)的主体部设置有从罩部(14)的相反侧贯通主体部到达透镜(35)的开口(16a)。固定螺钉(20)插入至设置于保持部(16)的螺纹孔(16b),固定螺钉(20)的螺钉主体部(20a)的螺钉前端与管座(18)的侧面抵接。

    半导体激光检查装置以及半导体激光检查方法

    公开(公告)号:CN116529859A

    公开(公告)日:2023-08-01

    申请号:CN202080107390.6

    申请日:2020-12-03

    Abstract: 将半导体激光元件(2)载置于第一加热冷却器(1)。在第二加热冷却器(3)之上安装有探头支架(4)。测定用探头(8)固定于探头支架(4)的末端。微动台(9)使第二加热冷却器(3)以及探头支架(4)移动而使测定用探头(8)的末端抵接于半导体激光元件(2)。检查装置(10)经由测定用探头(8)向半导体激光元件(2)输入检查信号。

    感光模块
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112955799B

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN201880095958.X

    申请日:2018-11-16

    Inventor: 见上洋平

    Abstract: 本发明提供的感光模块,接受器(6)具有光纤插芯(7)。透镜(5)具有入射侧曲面(9)、射出侧曲面(10)、设置于入射侧曲面(9)与射出侧曲面(10)之间的圆筒部(11)。接受器保持部(8)以使透镜(5)与光纤插芯(7)不接触而分离的方式保持接受器(6)。若从光纤插芯(7)出来的光从入射侧曲面(9)进入透镜(5),则在透镜(5)的内部聚光后再次扩散,从射出侧曲面(10)出来的光被聚光于感光元件(2)的感光面。

    光模块
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106451393A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201610639226.5

    申请日:2016-08-05

    Inventor: 见上洋平

    Abstract: 得到一种光模块,其能够实现稳定的浪涌耐受性而不依赖于有无光的射入。在APD(Avalanche Photodiode)的阴极与电源端子(TV1)之间连接有自偏置电阻(R1)。用于浪涌对策的齐纳二极管(D1)的阴极连接于电源端子(TV1)与自偏置电阻(R1)的连接点,阳极与接地端子(TGND)直接连接。接地端子(TGND)被电气接地。齐纳二极管(D1)的击穿电压(Vz)比施加于电源端子(TV1)的电源电压(Vapd)大。

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