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公开(公告)号:CN111837218B
公开(公告)日:2025-03-25
申请号:CN201980018203.4
申请日:2019-03-05
Applicant: 三菱瓦斯化学株式会社
IPC: H01L21/304 , C11D7/26 , C11D7/32 , C11D7/50 , C11D17/08 , H01L21/28 , H01L21/3213 , H01L21/768
Abstract: 根据本发明,可以提供如下清洗液,其含有:胺化合物(A)0.2~20质量%、水溶性有机溶剂(B)40~70质量%及水,前述胺化合物(A)含有选自由正丁胺、己胺、辛胺、1,4‑丁二胺、二丁胺、3‑氨基‑1‑丙醇、N,N‑二乙基‑1,3‑二氨基丙烷、及双(六亚甲基)三胺组成的组中的1者以上,并且前述水溶性有机溶剂(B)在20℃下的粘度为10mPa·s以下,所述清洗液的pH为9.0~14的范围。
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公开(公告)号:CN105377752A
公开(公告)日:2016-03-02
申请号:CN201480040081.6
申请日:2014-07-16
Applicant: 三菱瓦斯化学株式会社
IPC: C01B15/037 , C01B15/01
Abstract: 根据本发明,能够提供一种过氧化氢水溶液,其特征在于,用于使菌的数量减少,该过氧化氢水溶液含有过氧化氢、磷酸盐和铝盐作为必须成分。另外,根据本发明,能够提供一种杀菌方法,其特征在于,使上述过氧化氢水溶液的雾和/或气体与空气混合后,与对象物接触。
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公开(公告)号:CN111837218A
公开(公告)日:2020-10-27
申请号:CN201980018203.4
申请日:2019-03-05
Applicant: 三菱瓦斯化学株式会社
IPC: H01L21/304 , C11D7/26 , C11D7/32 , C11D7/50 , C11D17/08 , H01L21/28 , H01L21/3213 , H01L21/768
Abstract: 根据本发明,可以提供如下清洗液,其含有:胺化合物(A)0.2~20质量%、水溶性有机溶剂(B)40~70质量%及水,前述胺化合物(A)含有选自由正丁胺、己胺、辛胺、1,4‑丁二胺、二丁胺、3‑氨基‑1‑丙醇、N,N‑二乙基‑1,3‑二氨基丙烷、及双(六亚甲基)三胺组成的组中的1者以上,并且前述水溶性有机溶剂(B)在20℃下的粘度为10mPa·s以下,所述清洗液的pH为9.0~14的范围。
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公开(公告)号:CN116235282A
公开(公告)日:2023-06-06
申请号:CN202180065750.5
申请日:2021-09-22
Applicant: 三菱瓦斯化学株式会社
IPC: H01L21/304
Abstract: 一种半导体基板清洗用组合物,其含有:过氧化氢(A)、过氧化氢稳定剂(B)、碱化合物(C)和水,过氧化氢稳定剂(B)为选自由草酸、二亚乙基三胺五乙酸、羟乙基亚氨基二乙酸、草酸钾、5‑苯基‑1H‑四唑、三亚乙基四胺六乙酸、反式‑1,2‑环己二胺四乙酸、8‑羟基喹啉、L(+)‑异亮氨酸、DL‑缬氨酸、L(‑)‑脯氨酸、羟乙基乙二胺三乙酸、N,N‑二(2‑羟乙基)甘氨酸、甘氨酸、L‑色氨酸、2,6‑吡啶二羧酸、苯并噻唑、和DL‑丙氨酸组成的组中的至少1者,碱化合物(C)为选自由氢氧化季铵(C1)和氢氧化钾(C2)组成的组中的至少1者。
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公开(公告)号:CN105377752B
公开(公告)日:2020-01-24
申请号:CN201480040081.6
申请日:2014-07-16
Applicant: 三菱瓦斯化学株式会社
IPC: C01B15/037 , C01B15/01
Abstract: 根据本发明,能够提供一种过氧化氢水溶液,其特征在于,用于使菌的数量减少,该过氧化氢水溶液含有过氧化氢、磷酸盐和铝盐作为必须成分。另外,根据本发明,能够提供一种杀菌方法,其特征在于,使上述过氧化氢水溶液的雾和/或气体与空气混合后,与对象物接触。
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