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公开(公告)号:CN104103638B
公开(公告)日:2018-06-22
申请号:CN201410105617.X
申请日:2014-03-20
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L27/108 , H01L21/8242
CPC classification number: H01L29/4236 , H01L27/10814 , H01L27/10823 , H01L27/10855 , H01L27/10876 , H01L29/7827
Abstract: 提供了一种半导体装置及半导体模块。所述半导体装置包括:第一源区域/漏区域和第二源区域/漏区域,设置在半导体基板的活性区域中;以及栅极结构,与活性区域交叉并且设置在第一源区域/漏区域和第二源区域/漏区域之间,所述栅极结构包括:栅电极,具有第一部分和位于第一部分上的第二部分,栅电极位于比活性区域的上表面低的水平面处;绝缘覆盖图案,位于栅电极上;栅极电介质,位于栅电极和活性区域之间;以及空空间,位于活性区域和栅电极的第二部分之间。
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公开(公告)号:CN104423800A
公开(公告)日:2015-03-18
申请号:CN201410418118.6
申请日:2014-08-22
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F3/0481 , G06F17/30
CPC classification number: G06F3/03547 , G01C21/3664 , G06F3/04817 , G06F3/0482 , G06F3/04883 , G06Q10/109 , G06F3/0416
Abstract: 本公开提供运行电子设备的应用程序的方法和电子设备。所述方法包括:电子设备通过用户界面单元获取输入数据,通过用户界面单元提供应用程序列表,从应用程序列表中选择至少一个应用程序,基于所述输入数据确定通过所述至少一个应用程序执行的功能,以及通过用户界面单元提供所述功能。
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公开(公告)号:CN105514165B
公开(公告)日:2020-06-16
申请号:CN201510658801.1
申请日:2015-10-12
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/78 , H01L29/06 , H01L21/336
Abstract: 本发明提供了半导体器件及其制造方法,该半导体器件包括基板,该基板具有逻辑器件区域和邻近逻辑器件区域的输入/输出(I/O)器件区域,该逻辑器件区域上包括逻辑器件,该I/O器件区域上包括I/O器件。在逻辑器件区域上的第一鳍型场效应晶体管(FinFET)包括从基板突出的第一半导体鳍以及三栅结构,该三栅结构具有第一栅介电层和在第一栅介电层上的第一栅电极。在I/O器件区域上的第二FinFET包括从基板突出的第二半导体鳍以及双栅结构,该双栅结构具有第二栅介电层和在第二栅介电层上的第二栅电极。第一和第二栅介电层具有不同的厚度。相关的器件和制造方法也被讨论。
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公开(公告)号:CN105514165A
公开(公告)日:2016-04-20
申请号:CN201510658801.1
申请日:2015-10-12
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/78 , H01L29/06 , H01L21/336
Abstract: 本发明提供了半导体器件及其制造方法,该半导体器件包括基板,该基板具有逻辑器件区域和邻近逻辑器件区域的输入/输出(I/O)器件区域,该逻辑器件区域上包括逻辑器件,该I/O器件区域上包括I/O器件。在逻辑器件区域上的第一鳍型场效应晶体管(FinFET)包括从基板突出的第一半导体鳍以及三栅结构,该三栅结构具有第一栅介电层和在第一栅介电层上的第一栅电极。在I/O器件区域上的第二FinFET包括从基板突出的第二半导体鳍以及双栅结构,该双栅结构具有第二栅介电层和在第二栅介电层上的第二栅电极。第一和第二栅介电层具有不同的厚度。相关的器件和制造方法也被讨论。
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公开(公告)号:CN104103638A
公开(公告)日:2014-10-15
申请号:CN201410105617.X
申请日:2014-03-20
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L27/108 , H01L21/8242
CPC classification number: H01L29/4236 , H01L27/10814 , H01L27/10823 , H01L27/10855 , H01L27/10876 , H01L29/7827
Abstract: 提供了一种半导体装置及半导体模块。所述半导体装置包括:第一源区域/漏区域和第二源区域/漏区域,设置在半导体基板的活性区域中;以及栅极结构,与活性区域交叉并且设置在第一源区域/漏区域和第二源区域/漏区域之间,所述栅极结构包括:栅电极,具有第一部分和位于第一部分上的第二部分,栅电极位于比活性区域的上表面低的水平面处;绝缘覆盖图案,位于栅电极上;栅极电介质,位于栅电极和活性区域之间;以及空空间,位于活性区域和栅电极的第二部分之间。
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