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公开(公告)号:CN104103638B
公开(公告)日:2018-06-22
申请号:CN201410105617.X
申请日:2014-03-20
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L27/108 , H01L21/8242
CPC classification number: H01L29/4236 , H01L27/10814 , H01L27/10823 , H01L27/10855 , H01L27/10876 , H01L29/7827
Abstract: 提供了一种半导体装置及半导体模块。所述半导体装置包括:第一源区域/漏区域和第二源区域/漏区域,设置在半导体基板的活性区域中;以及栅极结构,与活性区域交叉并且设置在第一源区域/漏区域和第二源区域/漏区域之间,所述栅极结构包括:栅电极,具有第一部分和位于第一部分上的第二部分,栅电极位于比活性区域的上表面低的水平面处;绝缘覆盖图案,位于栅电极上;栅极电介质,位于栅电极和活性区域之间;以及空空间,位于活性区域和栅电极的第二部分之间。
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公开(公告)号:CN104103638A
公开(公告)日:2014-10-15
申请号:CN201410105617.X
申请日:2014-03-20
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L27/108 , H01L21/8242
CPC classification number: H01L29/4236 , H01L27/10814 , H01L27/10823 , H01L27/10855 , H01L27/10876 , H01L29/7827
Abstract: 提供了一种半导体装置及半导体模块。所述半导体装置包括:第一源区域/漏区域和第二源区域/漏区域,设置在半导体基板的活性区域中;以及栅极结构,与活性区域交叉并且设置在第一源区域/漏区域和第二源区域/漏区域之间,所述栅极结构包括:栅电极,具有第一部分和位于第一部分上的第二部分,栅电极位于比活性区域的上表面低的水平面处;绝缘覆盖图案,位于栅电极上;栅极电介质,位于栅电极和活性区域之间;以及空空间,位于活性区域和栅电极的第二部分之间。
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