半导体装置
    1.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116192574A

    公开(公告)日:2023-05-30

    申请号:CN202211491314.7

    申请日:2022-11-25

    Abstract: 一种半导体装置包括:数据采样器,其被配置为接收具有第一频率的数据信号并且以具有高于第一频率的第二频率的时钟信号对数据信号进行采样,输出与数据信号的单位间隔对应的时间的数据;错误采样器,其被配置为以具有第二频率并且相位与时钟信号的相位不同的错误时钟信号对数据信号进行采样,输出与单位间隔对应的时间的多条错误数据;以及眼开度监测(EOM)电路,其被配置为比较数据与多条错误数据中的每一条以获得单位间隔中的数据信号的眼图。

    用于测量时钟数据恢复性能的内置自测试电路以及包括该内置自测试电路的片上系统

    公开(公告)号:CN118606263A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410255003.3

    申请日:2024-03-06

    Abstract: 一种片上系统,包括:时钟生成电路,被配置为生成第一相位的参考时钟;发送电路,包括串行器,串行器被配置为根据第一相位的参考时钟对数据进行串行化;接收电路,包括时钟数据恢复(CDR)电路,CDR电路被配置为接收串行化数据并且生成第一恢复时钟和恢复数据;以及内置自测试(BIST)电路,包括CDR性能监控电路,CDR性能监控电路被配置为生成提供给延迟控制器的控制信号,延迟控制器被配置为将时钟信号延迟预设相位差,并且延迟控制器被配置为响应于控制信号而将时钟信号延迟预设相位差,并且将延迟的时钟信号提供给发送电路。

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