半导体装置以及半导体芯片
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111211118A

    公开(公告)日:2020-05-29

    申请号:CN201910943436.7

    申请日:2019-09-30

    Abstract: 本申请提供一种半导体装置及半导体芯片。半导体装置包含半导体衬底,半导体衬底具有定义于其中的划线。多个半导体芯片形成于半导体衬底的上表面上。至少一个导电结构在其划线内布置在半导体衬底的上表面上。圆角布置在导电结构的至少一个侧表面上。圆角被配置成引发经由导电结构的中心部分沿划线扩散的切割线。

    制造半导体芯片的方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110890325A

    公开(公告)日:2020-03-17

    申请号:CN201910726168.3

    申请日:2019-08-07

    Abstract: 提供了制造半导体芯片的方法。所述方法可以包括提供包括集成电路区域和切割区域的半导体衬底。所述切割区域可以在所述集成电路区域之间。所述方法还可以包括通过沿着所述切割区域将激光束发射到所述半导体衬底中来形成改性层,抛光所述半导体衬底的无源表面以使裂缝从改性层传播,以及沿着所述裂缝分离集成电路区域。所述切割区域可以包括在所述半导体衬底的有源表面上的多个多层金属图案,半导体衬底的有源表面与半导体衬底的无源表面相对。当在横截面中观察时,所述多个多层金属图案可以形成金字塔结构。

    用于打印网页的方法和装置

    公开(公告)号:CN1770089A

    公开(公告)日:2006-05-10

    申请号:CN200510072912.0

    申请日:2005-05-23

    Inventor: 尹俊浩

    CPC classification number: G06F17/217

    Abstract: 提供了一种调整打印输出的网页的大小的网络打印方法和装置。所述用于打印网页的方法包括步骤:输入关于某个网页的打印命令;比较网页的大小与纸张的大小;如果网页的大小大于纸张的大小,则将包含在网页中的文本和图像分别减小预定的单位;和产生关于包含减小的文本和图像的网页的打印输出数据并在纸上打印数据。因此,所述方法和装置防止当打印时截除超出纸张的网页内容。

    用于打印网页的方法和装置

    公开(公告)号:CN100334537C

    公开(公告)日:2007-08-29

    申请号:CN200510072912.0

    申请日:2005-05-23

    Inventor: 尹俊浩

    CPC classification number: G06F17/217

    Abstract: 提供了一种调整打印输出的网页的大小的网络打印方法和装置。所述用于打印网页的方法包括步骤:输入关于某个网页的打印命令;比较网页的大小与纸张的大小;如果网页的大小大于纸张的大小,则将包含在网页中的文本和图像分别减小预定的单位;和产生关于包含减小的文本和图像的网页的打印输出数据并在纸上打印数据。因此,所述方法和装置防止当打印时截除超出纸张的网页内容。

    半导体装置和包含该半导体装置的半导体封装件

    公开(公告)号:CN110858567A

    公开(公告)日:2020-03-03

    申请号:CN201910736321.0

    申请日:2019-08-09

    Abstract: 提供了一种半导体装置和一种半导体封装件。所述半导体装置包括:衬底,其包括半导体芯片区域和围绕所述半导体芯片区域的划线区域;绝缘膜,其设置在所述衬底上的所述半导体芯片区域和所述划线区域上方,并且包括第一表面、与所述第一表面相对的第二表面、连接所述第一表面和所述第二表面的第三表面,以及与所述第三表面相对并连接所述第一表面和所述第二表面的第四表面;以及开口部分,其形成在所述绝缘膜的所述第二表面和所述绝缘膜的所述第四表面上以暴露所述衬底,其中,所述开口部分形成在所述划线区域中,并且其中所述绝缘膜的所述第一表面和所述绝缘膜的所述第三表面不包括暴露所述衬底的开口部分。

    晶片结构与半导体器件
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116613124A

    公开(公告)日:2023-08-18

    申请号:CN202310020818.9

    申请日:2023-01-06

    Abstract: 公开了晶片结构和半导体器件。一种半导体器件可以包括衬底和衬底上的单元阵列结构。衬底可以包括器件区域和在平面图中围绕器件区域的虚设区域。单元阵列结构可以包括多个第一介电层、多个栅极结构、竖直沟道结构和虚设图案。竖直沟道结构可以在器件区域上,并且可以穿透多个栅极结构和多个第一介电层。单元阵列结构包括位于衬底的边缘之上的外侧壁和位于单元阵列结构的外侧壁上的凹进部分。虚设图案可以覆盖该凹进部分的侧壁和该凹进部分的底表面。虚设图案和竖直沟道结构可以包括相同的材料。

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