UV发光二极管及其制造方法

    公开(公告)号:CN103069584A

    公开(公告)日:2013-04-24

    申请号:CN201180039456.3

    申请日:2011-01-18

    Abstract: 本发明提供了一种UV发光二极管及其制造方法。UV发光二极管包括:第一导电类型半导体层、有源层和第二导电类型半导体层,顺序地形成在基底上;电极,形成在第二导电类型半导体层上;以及开口,通过去除第一导电类型半导体层、有源层、第二导电类型半导体层、反射结构和透明电极中的至少部分形成,以穿过所述开口来暴露部分第一导电类型半导体层。在UV发光二极管中,UV光从有源层发射,穿过开口,然后传播到外部。

    具有高位错密度的中间层的发光二极管及其制造方法

    公开(公告)号:CN102576782A

    公开(公告)日:2012-07-11

    申请号:CN201080038644.X

    申请日:2010-08-25

    Inventor: 柳泓在 芮景熙

    CPC classification number: H01L33/32 H01L33/02 H01L33/12

    Abstract: 这里公开了一种具有高位错密度的中间层的发光二极管及其制造方法。所述发光二极管包括:基底;缓冲层,设置在基底上;基于氮化镓的n型接触层,设置在缓冲层上;基于氮化镓的p型接触层,设置在n型接触层上;活性层,插入在n型接触层和p型接触层之间;基于氮化镓的第一下半导体层,插入在缓冲层和n型接触层之间;基于氮化镓的第一中间层,插入在第一下半导体层和n型接触层之间,其中,第一中间层的位错密度低于缓冲层的位错密度,并且高于第一下半导体层的位错密度。通过这种构造,可以通过具有相对高位错密度的第一中间层来防止在第一下半导体层内形成的位错转移到n型接触层。

    发光二极管及其制造方法

    公开(公告)号:CN101689584B

    公开(公告)日:2012-04-18

    申请号:CN200880016875.3

    申请日:2008-05-16

    CPC classification number: H01L33/22 H01L33/0095 H01L33/44

    Abstract: 本发明提供了一种制造发光二极管的方法,该方法包括以下步骤:在基底上形成化合物半导体层,所述化合物半导体层包括下半导体层、有源层和上半导体层;通过用研磨剂摩擦所述基底来刮擦所述基底的表面。根据本发明,使用所述研磨剂来摩擦并刮擦发光二极管的表面,由此可以使得从所述有源层发射的光有效地出射到外面。因此,可以提高发光二极管的光出射效率。

Patent Agency Ranking