用于使半导体膜结晶的结晶方法

    公开(公告)号:CN101442000B

    公开(公告)日:2011-01-19

    申请号:CN200810188143.4

    申请日:2005-08-09

    Abstract: 本发明有助于将形成在非晶或者多晶膜(12)中的再结晶区域(21)的精确对准。在再结晶区域内形成对准标记(15),该对准标记(15)在形成电子器件例如薄膜晶体管(98)的步骤中有用。此外,在从半导体膜获得大晶粒尺寸晶体相位半导体的步骤中,在相同的曝光步骤中,在该半导体膜上形成在随后的步骤中可用作对准标记的标记结构。因此,本发明包括光强调制结构(SP)和标记形成结构(MK),该光强调制结构(SP)调制光并且形成用于结晶的光强分布,该标记形成结构(MK)调制光并且形成包括预定形状图案的光强分布,并且还形成表示结晶区上预定位置的标记。

    激光结晶设备及激光结晶方法

    公开(公告)号:CN100433245C

    公开(公告)日:2008-11-12

    申请号:CN200510078817.1

    申请日:2005-03-11

    Inventor: 高见芳夫

    Abstract: 本发明公开了一种激光结晶设备(1),其能够以几μm的高空间分辨率和几纳秒的高瞬时分辨率进行观察,该设备包括用于将激光照射到设置在衬底(26)上的薄膜并熔化和结晶该薄膜的结晶光学系统(2),所述激光结晶设备(1)包括:照明光源(31),设置在激光的光学路径之外并发射照亮所述薄膜以便进行观察的照明光;照明光学系统(3),包括环形光学元件(3A),环形光学元件(3A)具有位于中心处的激光的光学路径,并将照明光沿所述光学路径从照明光源(31)引导至薄膜上;和观察光学系统(4),用于显示包括薄膜的衬底(26)的放大图像。

    结晶装置、结晶方法
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100395866C

    公开(公告)日:2008-06-18

    申请号:CN200410063523.7

    申请日:2004-07-09

    Abstract: 本发明提供结晶装置、结晶方法。本发明的结晶装置具备照明光学系统(2)、以及将来自上述照明光学系统的光束调制成预定光强度分布的移相器(1),将被光调制的光束照射至多晶半导体膜或非晶质半导体膜(4)来生成晶体半导体膜。上述照明光学系统(2)射出剖面为非圆形状的光束。还在照明光学系统和移相器之间设置回转机构(3),用于使来自上述照明光学系统的光束和上述移相器以光束的光轴为中心而光学地相对回转。

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