一种可消除OCT共轭镜像的定相差谱域OCT装置

    公开(公告)号:CN208937182U

    公开(公告)日:2019-06-04

    申请号:CN201821839819.7

    申请日:2018-11-09

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本实用新型涉及一种可消除OCT共轭镜像的定相差谱域OCT装置,包括超辐射发光二极管、第一准直器、聚焦物镜、第一分束镜、第二分束镜、第三分束镜、第四分束镜、第一反射镜、样品、光开关、光谱仪;本实用新型结构简单,能够有效解决传统移相法移相精度不准确及移相稳定性问题,同时,在信号采集时采用光开关的切换配合单光谱仪采集的方法代替双光谱仪采集的方法使得两干涉信号一致性更高,系统设计成本更低,商业价值较高。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    宽带光干涉型微纳结构表面超精密成像装置

    公开(公告)号:CN221302218U

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202322586933.0

    申请日:2023-09-22

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本实用新型提出宽带光干涉型微纳结构表面超精密成像装置,装置包括光谱仪、超宽带宽光源、显微探测臂和显微参考臂,显微探测臂处设有参考光路,显微探测臂处设有探测光路;光源的光经光纤耦合器分光并分别输入参考光路和探测光路;进入参考光路的光经准直、聚焦后,送至反射镜反射形成参考光;进入探测光路的光经准直、聚焦后,送至被测目标表面反射形成探测光;参考光、探测光回送至光纤耦合器内相互干涉以形成送入光谱仪的干涉光信号;所述光谱仪以透射式光栅按波长展开干涉光信号,形成强度呈正弦式变化的成像信号;本实用新型能将系统的轴向分辨率提升至亚微米量级,在系统轴向分辨率的提升方面,能实现纳米级精度的微结构表面超精密成像。

    可消除OCT共轭镜像的定相差线阵谱域OCT装置

    公开(公告)号:CN208937184U

    公开(公告)日:2019-06-04

    申请号:CN201821841033.9

    申请日:2018-11-09

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本实用新型涉及一种可消除OCT共轭镜像的定相差线阵谱域OCT装置。包括超辐射发光二极管、第一准直器、第一至第二聚焦物镜、第一至第四分束镜、第一至第三柱透镜、第一反射镜、光开关、二维光谱仪;所述第一分束镜、第二分束镜、第三分束镜、第四分束镜组成干涉仪,其中第一分束镜、第二分束镜位置固定,第三分束镜与第四分束镜组成分束镜组且能够移动。本实用新型装置相对于传统的线阵谱域OCT来说,能够在满足线阵谱域OCT横向并行探测的同时增加系统的一倍的成像深度,使得线阵谱域OCT的能够在更多的领域得到更广的应用。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种可消除OCT共轭镜像的定相差双路线阵谱域OCT装置

    公开(公告)号:CN208937181U

    公开(公告)日:2019-06-04

    申请号:CN201821838722.4

    申请日:2018-11-09

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本实用新型涉及一种可消除OCT共轭镜像的定相差双路线阵谱域OCT装置,包括超辐射发光二极管、准直器、第一分束镜、第二分束镜、第三分束镜、第四分束镜、第一柱透镜、第二柱透镜、第三柱透镜、第一聚焦物镜、第二聚焦物镜、反射镜、第一二维光谱仪、第二二维光谱仪、以及上位机。本实用新型能够一次性产生相位差90°的两个二维干涉信号并使用两个二维光谱仪同步采集两二维干涉信号,然后结合两相去共轭镜像法去除共轭镜像。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种可消除多色误差的OCT共轭镜像去除装置

    公开(公告)号:CN208476779U

    公开(公告)日:2019-02-05

    申请号:CN201821106108.9

    申请日:2018-07-13

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本实用新型提供一种可消除多色误差的OCT共轭镜像去除装置,其包括依次光路连接的超辐射发光二极管、GRIN光纤准直器、物镜、分光镜、压电陶瓷;所述分光镜与一刻线光栅光路连接;刻线光栅与一CCD相机光路连接;所述压电陶瓷、CCD相机分别与一上位机电性连接。本实用新型去除宽带光源多色误差的影响,同时提高系统误差容忍度。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种基于变密度正弦条纹的转轴转速测量装置

    公开(公告)号:CN206583924U

    公开(公告)日:2017-10-24

    申请号:CN201621259511.6

    申请日:2016-11-23

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本实用新型涉及一种基于变密度正弦条纹的转轴转速测量装置,包括一变密度正弦条纹传感器,设置于待测转轴圆周表面,用以编码所述待测转轴的转角位置;一高速图像采集及传输模块,用以对所述待测转轴上的变密度正弦条纹传感器进行连续成像与记录,并将采集到的条纹图像信号传输至计算机;一计算机,用以对所述高速图像采集及传输模块进行控制,并对传输到计算机的条纹图像信号进行存储和处理。该装置可实现对一定转速范围内转轴转速的非接触测量,装置简单,测量速度快,精度高。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    基于共路传输的宽带光干涉型粗糙度测量装置

    公开(公告)号:CN221077581U

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202322900040.9

    申请日:2023-10-27

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本实用新型涉及一种基于共路传输的宽带光干涉型粗糙度测量装置,包括超辐射发光二极管、1×2光纤耦合器、光纤准直器、立方体分光镜、参考臂、探测臂、光谱仪和上位机;准直器、分光镜、参考臂和探测臂组成干涉装置并安装于可调安装架上,位移台上设置被测对象;光纤耦合器同一侧的两接口连接超辐射发光二极管和光谱仪,另一侧的单输出口连接干涉装置;超辐射发光二极管辐射出宽带光经光纤耦合器传输,再经准直器、分光镜分成参考光与探测光,分别进入参考臂和探测臂,经过参考镜和被测对象表面反射后汇合并发生干涉,经过光纤耦合器进入光谱仪,进而进入线阵CMOS相机中成像并传输至上位机。该装置有利于提高非接触式粗糙度测量的精确度,且易用性好。

    微结构模态分析声激励频域光学相干层析检测装置

    公开(公告)号:CN208688648U

    公开(公告)日:2019-04-02

    申请号:CN201821486206.X

    申请日:2018-09-12

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本实用新型涉及一种微结构模态分析声激励频域光学相干层析检测装置,包括:声激励模块、干涉仪模块、光栅光谱仪模块和计算机。首先通过声激励模块产生声波信号激励微结构产生振动。其次,通过干涉仪模块测量微结构产生的振动,带有振动信息的干涉信号进入光栅光谱仪模块中由相机采集光谱信号并传入计算机中。最后,采用波长标定算法和频谱校正算法对傅里叶变换后的频域干涉光谱信号的峰值频率进行精确校正,通过校正后的峰值频率随时间变化关系获得微结构振动时域曲线,即还原出振动信号。该装置可对微结构实现非接触式亚纳米量级振动测量,测量装置简单,测量速度快,可靠性强。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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