半导体装置和检查电路及检查方法

    公开(公告)号:CN1764845A

    公开(公告)日:2006-04-26

    申请号:CN200480007964.3

    申请日:2004-03-17

    Inventor: 棚田好文

    Abstract: 提供一种半导体装置的检查电路及检查方法,其中,具有由多个NAND电路经多个反相器串联的结构与多个NOR电路经上述多个反相器串联的结构,将像素部中设置的多个源信号线分别与NAND电路及NOR电路的一个输入端相连接,从串联的NAND电路及NOR电路的最后级得到检查输出。这样,就可以提供一种可以使用小规模的电路进行简单并且正确的不良判定的检查电路及检查方法。

    脉冲输出电路,移位寄存器,和电子设备

    公开(公告)号:CN1518221A

    公开(公告)日:2004-08-04

    申请号:CN200410002830.4

    申请日:2004-01-17

    CPC classification number: G11C19/28 G09G3/3688 G09G2310/0275 G11C19/00

    Abstract: 一种显示装置驱动电路,包括单一导电类型的TFT,并输出标准幅度的输出信号。一个脉冲被输入TFT101和104以导通这些TFT,节点α的电位升高。当节点α的电位达到(VDD-VthN)时,该节点α变为浮置状态。相应地,TFT105导通,当时钟信号变为高电平时,一个输出节点的电位升高。另一方面,当所述输出节点的电位升高时,由于电容装置107的操作使得TFT105的栅极电位进一步升高,从而TFT105的栅极电位变得高于(VDD-VthN)。这样,输出节点的电位升高到VDD,而不会由于TFT105的阈值电压导致电压下降。然后在下一级一个输出被输入到TFT103,使TFT103导通,同时TFT102和106的节点α的电位下降,使得TFT105截止。结果,输出节点的电位变为低电平。

    半导体器件
    87.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1384546A

    公开(公告)日:2002-12-11

    申请号:CN02118504.2

    申请日:2002-04-26

    CPC classification number: H01L29/786 H03K19/01714 H03K19/01721

    Abstract: 本发明提供了一种半导体器件,仅仅用一种导电类型的TFT构成一个电路,从而减少制造步骤,并且能正常获得一个输出信号的电压振幅。在连接到输出节点的一个TFT(203)的栅极和源极之间形成一个电容(205),并且由TFT(201)和(202)构成的电路具有使节点α进入浮动状态的功能。当节点α处在浮动状态时,通过电容(205)使节点α的电位高于采用TFT(203)的栅极-源极电容耦合获得的VDD,这样就能获得振幅为VDD-GND的输出信号,不会因TFT的门限值造成振幅衰减。

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