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公开(公告)号：CN105865754B
公开(公告)日：2018-01-19
申请号：CN201610329562.X
申请日：2016-05-18
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种光纤干涉仪臂长差的测量装置。包括可调谐激光光源模块、被测光纤干涉仪模块、参考光纤干涉仪模块和采集与控制模块，可调谐激光光源模块的两个输出端分别连接被测光纤干涉仪模块和参考光纤干涉仪模块，参考光纤干涉仪模块的输出端和被测光纤干涉仪模块的输出端分别连接采集与控制模块的数据采集卡的不同通道，采集与控制模块的计算机通过与可调谐激光光源和可移动反射镜进行连接实现对其的控制和触发信号的接收。本测量装置可以精确地测量出被测光纤干涉仪的臂长差，具有结构简单、成本低、测量精度高范围广和自动定标等优点。
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公开(公告)号：CN105043718B
公开(公告)日：2017-11-21
申请号：CN201510212810.8
申请日：2015-04-30
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种光学偏振器件分布式偏振串扰测量的噪声抑制装置与抑制方法。一种光学偏振器件分布式偏振串扰测量的噪声抑制装置，包括宽谱光源、起偏器、第1光纤旋转连接器、第2光纤旋转连接器、待测光纤器件、光程相关器、偏振串扰检测与信号记录装置。本发明使用偏振分束器将传输光与耦合光彻底分离，避免干涉拍噪声的影响；在控制电路热噪声的基础上，使用衰减器对传输光进行衰减，让耦合光成为主探测光，使散粒噪声成为限制系统信噪比的主要噪声，使用本发明提供的方法调节至合适参数，可保持系统动态范围不变的前提下，信噪比提升20～40dB，有效提高测量灵敏度。
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公开(公告)号：CN107339943A
公开(公告)日：2017-11-10
申请号：CN201710537207.6
申请日：2017-07-04
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明提供的是一种偏振复用的共光路自校准薄膜厚度测量装置及测量方法。包含光源输出模块、膜厚测量探头模块、解调干涉仪模块、偏振分束模块以及采集与控制模块。本发明采用偏振复用技术，两探头使用正交态偏振光。测量探头能实现传输光线的透射和反射，无待测薄膜时可实现两探头绝对距离H的测量；待测薄膜安置两探头间，实现两探头与待测薄膜前后表面的绝对距离H1和H2的测量；待测薄膜厚度d可由d＝H-(H1+H2)确定。本发明实现不需要标定物即可对待测薄膜厚度进行测量，共光路的设计克服了测量过程中由于系统内部机械不稳定和外部环境变化带来的影响，具有自校准、特征白光干涉峰识别简单、动态范围大、测量结果可溯源等优点。
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公开(公告)号：CN107314888A
公开(公告)日：2017-11-03
申请号：CN201710511150.2
申请日：2017-06-29
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/00
Abstract: 本发明提供的是一种多功能铌酸锂集成器件的偏振性能测量方法。同时对波导芯片消光比、光纤的耦合串音、波导输入输出端光纤的分布式消光比进行测量；利用不同偏振角度的起偏器和检偏器对波导进行多次测量，得到波导输入/输出端光纤内部的串扰数据，计算串扰数据的能量分布曲线，得到光纤的分布式消光比；测量得到带有芯片消光比、耦合串音信息的干涉图样，利用干涉图样中左右对称的干涉峰测量消光比和串音，判断左右两端测量结果的差值是否满足要求，如果差值较大需要重新测量，直至结果符合要求为止。该方法充分利用白光干涉精度高，动态范围大的特点，对探测到的偏振串扰数据进行测量，使测量结果准确、可靠。
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公开(公告)号：CN107167085A
公开(公告)日：2017-09-15
申请号：CN201710277954.0
申请日：2017-04-25
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供的是一种共光路自校准薄膜厚度测量装置及测量方法。包括光源输出模块、膜厚测量探头模块、干涉与解调模块以及采集与控制模块等四部分。本发明的测量探头能同时实现对传输光线的透射和反射，无待测薄膜时可实现两探头间绝对距离H的测量；待测薄膜安置在两探头中间，实现两探头与待测薄膜前后表面绝对距离H1和H2的测量；待测薄膜厚度d可由d＝H‑(H1+H2)确定。本发明实现不需标定样品即可对透明与不透明薄膜的厚度进行测量，干涉光束共光路克服了测量过程中由于测量系统内部机械不稳定和外部环境变化所带来的影响，具有自校准、测量结果可溯源、稳定性高等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105953817A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610265230.X
申请日：2016-04-26
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01C25/00
CPC classification number: G01C25/00
Abstract: 本发明提供的是一种光纤陀螺核心敏感光路的组装方法。在Y波导芯片与2×2保偏耦合器、Y波导芯片和光纤环组装时，利用白光干涉分布式测量的特点，对Y波导输入、输出处的保偏光纤的对准情况进行测量，使用特征峰的幅值大小确定组装角度，将光纤陀螺与Y波导的制作过程合并，对器件进行筛选、对准和固化状态进行调整，实现2×2保偏耦合器、Y波导和光纤环之间无焊点的连接，提高光纤陀螺的一体化水平。本发明具有光纤陀螺核心敏感光路焊点少、一体化程度高、监测装置搭建简单、Y波导输入与输出口串扰低等优点，广泛用于光纤陀螺核心敏感光路的组装中。
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公开(公告)号：CN105865753A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610329545.6
申请日：2016-05-18
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/30 , G01M11/0271
Abstract: 本发明提供的是一种光纤干涉仪臂长差的测量装置及测量方法。包括激光光源模块、被测光纤干涉仪模块、参考干涉仪模块和采集与控制模块。可调谐激光器发出波长线性变化的光进入被测干涉仪和参考干涉仪模块、使用计算机控制模拟量输出板卡驱动绕好光纤的压电陶瓷，解调得到的信号后获得两模块精确的位相变化量；改变参考干涉仪模块两臂光程差同时使用光源模块中的分布式反馈激光器结合PGC算法解调出光程差变化量；改变参考干涉仪两臂光程差后重复第一步；依据臂长差测量公式计算出被测光纤干涉仪臂长差。本发明通过引入压电陶瓷、分布式反馈激光器等，运用PGC算法可精确测得被测光纤干涉仪的臂长差，具有测量精度高、范围广和自动定标等优点。
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公开(公告)号：CN103900680B
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201410120580.8
申请日：2014-03-28
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明提供的是一种利用光源抑制偏振串音测量噪声的装置及检测方法。装置由宽谱光源、待测偏振器件、光程相关器、差分探测装置、光电信号转换与信号记录装置组成，特征是宽谱光源是具有高偏振度的低相干光源，光源之后放置具有高消光比的偏振器件；方法是：光源和偏振器件之间连接偏振态控制器，通过对光源输出光的偏振状态调节，使线偏振光与偏振器件的起偏角严格重合。该装置将高偏振度光源与高消光比偏振器件进行组合，通过提高注入到待测器件中信号光的消光比，来抑制光学相干域偏振计中的测量噪声，提高对器件偏振特性的测量精度。本发明结构简单、性能优良、调节容易，可广泛应用于光纤型保偏器件光学性能的高精度测量与分析等领域。
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公开(公告)号：CN103900797B
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201410120591.6
申请日：2014-03-28
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种带有光程扫描位置和速度校正的光学相干域偏振测量装置。包括宽谱光源、待测偏振器件、光程相关器、光程扫描校正装置、干涉信号检测与处理装置，其特征是增加的光程扫描校正装置由激光光源、光纤3×3耦合器、光程扫描装置中的移动反射镜、法拉第旋镜、光电探测器构成；光纤3×3耦合器对干涉信号进行移相完成Michelson型光纤干涉仪的无源信号调制；法拉第旋镜用来消除干涉仪的偏振衰落；基于双探测器的校正算法实现对光程扫描位置和速度的高精度和快速测量。该装置提高了光程扫描的精度及均匀性，具有体积小、测量精度高、易与现有应用结构结合等优点，广泛用于基于白光干涉测量远离的干涉光程扫描与测试中。
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公开(公告)号：CN105157733A
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201510293444.3
申请日：2015-06-02
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01D5/26
Abstract: 本发明设计属于光纤干涉仪测量领域，具体涉及到一种改进的生成载波相位PGC解调方法。改进的生成载波相位PGC解调方法，用干涉仪后端的3×3耦合器输出的第一路固定相移FPS信号和第二路FPS信号进行FPS算法相位解调；第一路PGC信号采用相位生成载波算法进行解调，最后将两种算法解调结果进行合理融合。本发明将基于3×3耦合器的固定相移法与PGC算法相结合，使用PGC算法解调低频小信号，使用FPS算法输出高频大信号，这样可以在保持原有的采样率的情况下提高系统的相位分辨率，增大动态范围最终实现保持采样率不变的情况下，增加相位分辨率与动态范围，消除伴生调幅影响。
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