一种光纤陀螺核心敏感光路的组装方法

    公开(公告)号:CN105953817B

    公开(公告)日:2018-10-26

    申请号:CN201610265230.X

    申请日:2016-04-26

    Abstract: 本发明提供的是一种光纤陀螺核心敏感光路的组装方法。在Y波导芯片与2×2保偏耦合器、Y波导芯片和光纤环组装时,利用白光干涉分布式测量的特点,对Y波导输入、输出处的保偏光纤的对准情况进行测量,使用特征峰的幅值大小确定组装角度,将光纤陀螺与Y波导的制作过程合并,对器件进行筛选、对准和固化状态进行调整,实现2×2保偏耦合器、Y波导和光纤环之间无焊点的连接,提高光纤陀螺的一体化水平。本发明具有光纤陀螺核心敏感光路焊点少、一体化程度高、监测装置搭建简单、Y波导输入与输出口串扰低等优点,广泛用于光纤陀螺核心敏感光路的组装中。

    基于OFDR原理的双脉冲长距离分布式振动检测装置及检测方法

    公开(公告)号:CN115839762A

    公开(公告)日:2023-03-24

    申请号:CN202211252117.X

    申请日:2022-10-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于OFDR原理的双脉冲长距离分布式振动检测装置,包括窄线宽激光光源和待测干涉仪,本发明还包括辅助干涉仪和相位噪声解调与消除机构,窄线宽激光光源包括NLL激光器和第一光纤耦合器,第一光纤耦合器的的第一输出通道和第二输出通道分别与待测干涉仪和辅助干涉仪相连,待测干涉仪和辅助干涉仪均与相位噪声解调与消除机构相连。本发明采用上述结构的基于OFDR原理的双脉冲长距离分布式振动检测装置,利用两个同源脉冲进行瑞利散射探测,配合辅助干涉仪进行混频,实现相位噪声的消除,突破相干长度对量程的限制,实现长量程、频率响应高的振动信号检测,且光路中仅需做两次混频,解调算法简单,相位校正速度快。

    一种光纤偏振器件的高消光比测量方法

    公开(公告)号:CN105841928B

    公开(公告)日:2018-08-17

    申请号:CN201610157528.9

    申请日:2016-03-18

    Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域,具体涉及到一种光纤偏振器件的高消光比测量方法。一种光纤偏振器件的高消光比测量方法,在待测高消光比偏振器件即Y波导的输入、输出端分别焊接两段不同长度的保偏光纤,构成带有定量串扰标记的测量组件;焊接时利用集总式消光比测试仪对焊接点的消光比进行定量控制并记录其测量值,同时对起偏器尾纤、检偏器尾纤、高消光比偏振器件尾纤、焊接保偏光纤的长度进行设定;将测量组件接入分布式光纤偏振串扰测试装置中,利用外接光纤焊接点之间的二阶串扰测量值对待测偏振器件消光比进行标定和自校准。在测量过程时,可对串扰标记和测量峰进行同步测量,杜绝测量环境改变和器件连接精度等引入的误差。

    一种光纤器件的透射和反射性能测试装置及方法

    公开(公告)号:CN105784336B

    公开(公告)日:2018-05-18

    申请号:CN201610265283.1

    申请日:2016-04-26

    Abstract: 本发明提供的是一种光纤器件的透射和反射性能同时测试的装置及方法。向待测器件中注入宽谱光,产生能反映其透射和反射性能的两路光信号,并将光信号注入到光学相干域偏振测量技术透射性能测试结构和光学低相干反射技术的反射性能测试结构中,使用共用延迟部件进行扫描,对两路光信号进行测量,同时得到待测光纤器件的透射和反射特征。在使用同一光源和同一延迟部件的情况下,光纤器件的透射和反射性能测试装置可精确测量待测器件的偏振性能、色散特性、损耗特性、相干光谱特性等特征参数。本发明具有集成程度高、测试参数全、抗电磁干扰、器件组成简单等优点,可广泛用于保偏光纤、集成波导调制器等光学器件性能的高精度测量与分析。

    一种保偏光纤消光比的测量方法

    公开(公告)号:CN106989904A

    公开(公告)日:2017-07-28

    申请号:CN201710284514.8

    申请日:2017-04-25

    Abstract: 本发明提供的是一种保偏光纤消光比的测量方法。根据待测光纤内的耦合情况,依次测量得到干涉峰与主峰的半高全宽的宽度、左右端点位置和能量,利用干涉峰能量与主峰能量的比值计算得到光纤内串扰点的消光比;计算低信噪比下的干涉峰的能量时,需要测量干涉信号中的噪声功率,计算干涉峰能量中包含的噪声能量,最后消除噪声在测量过程中引入的偏差;该方法测量精度高,测量结果消除色散影响,可以实现低信噪比下高消光比的精确测量,可广泛应用于对消光比测量要求高的光学器件的分析。

    一种用于光学相干偏振测量的标定装置及其动态范围标定方法

    公开(公告)号:CN105823624A

    公开(公告)日:2016-08-03

    申请号:CN201610157526.X

    申请日:2016-03-18

    CPC classification number: G01M11/02

    Abstract: 本发明属于光纤测量技术领域,具体涉及到一种用于光学相干偏振测量的标定装置及其动态范围标定方法。本发明包括宽谱光源与功率监测装置510、第一光纤连接器521、第二光纤连接器522、高精度标定装置530、光程相关器540、偏振串扰检测与信号记录装置550。使用特定长度和对准角度的保偏光纤搭建标定装置,可对测量峰的位置和幅度进行精确定位;利用多个串扰点的二阶干涉峰,可对较低峰值进行精确定位。利用不同的标定梯度,提高标定精度和准确性。

    一种对保偏光纤缺陷点测量中的伪干涉峰鉴别方法

    公开(公告)号:CN105823620A

    公开(公告)日:2016-08-03

    申请号:CN201610152972.1

    申请日:2016-03-17

    CPC classification number: G01M11/30 G01M11/0278

    Abstract: 本发明提供的是一种对保偏光纤缺陷点测量中的伪干涉峰鉴别方法。通过改变待测光纤与起偏器/检偏器之间的对轴角度,分别实现对干涉信号中不同特征干涉峰的抑制和放大;不同对轴角度条件下,将测量干涉峰与预测干涉峰位置?幅值的理论公式进行比对,得到干涉信号中的特征干涉峰的幅值、阶次等信息;通过4次不同对轴角度测量,即可鉴别出其中的伪干涉峰和代表真实缺陷点的干涉峰。本发明中的操作方法简单有效,有助于从分布式干涉测量中准确地估计保偏光纤缺陷点信息,可以广泛应用于保偏光纤中缺陷点的精确测量。

    一种基于周期性相位噪声估计的光频域反射解调方法

    公开(公告)号:CN115560782A

    公开(公告)日:2023-01-03

    申请号:CN202211271617.8

    申请日:2022-10-18

    Abstract: 本发明公开了一种基于周期性相位噪声估计的光频域反射解调方法,所述方法在光频域反射计装置中构建参考干涉仪,通过对参考干涉仪信号中的非线性相位进行移动滑动平均滤波,滤除随机噪声并抑制微分操作中随机噪声的放大效应,通过三阶泰勒展开精确估计光源周期性相位噪声,再使用去斜滤波器逐步补偿待测信号中与距离无关以及与距离相关的相位噪声。该方法提高了光源相位噪声中周期性成分的估计精度,有效抑制光源相位噪声对信号的影响,在增长测量距离的同时能够保持高空间分辨率,可广泛应用于高精度分布式光纤传感等领域。

    多功能铌酸锂集成器件的偏振性能测量方法

    公开(公告)号:CN107314888B

    公开(公告)日:2019-08-06

    申请号:CN201710511150.2

    申请日:2017-06-29

    Abstract: 本发明提供的是一种多功能铌酸锂集成器件的偏振性能测量方法。同时对波导芯片消光比、光纤的耦合串音、波导输入输出端光纤的分布式消光比进行测量;利用不同偏振角度的起偏器和检偏器对波导进行多次测量,得到波导输入/输出端光纤内部的串扰数据,计算串扰数据的能量分布曲线,得到光纤的分布式消光比;测量得到带有芯片消光比、耦合串音信息的干涉图样,利用干涉图样中左右对称的干涉峰测量消光比和串音,判断左右两端测量结果的差值是否满足要求,如果差值较大需要重新测量,直至结果符合要求为止。该方法充分利用白光干涉精度高,动态范围大的特点,对探测到的偏振串扰数据进行测量,使测量结果准确、可靠。

    一种基于共光路干涉仪结构的光频域测量装置

    公开(公告)号:CN115683363A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202211252100.4

    申请日:2022-10-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于共光路干涉仪结构的光频域测量装置,共光路干涉仪模块的环境参考干涉仪与测量干涉仪基于共光路结构;环境参考干涉仪的第一环形器的第一端口a与可调谐激光光源模块的第一输出端连接,第一环形器的第二端口a与共光路结构连接,第一环形器的第三端口a与系统信号检测与记录模块连接;测量干涉仪的第二环形器的第一端口b与待测光学器件模块的输出端光纤连接,第二环形器的第二端口b与共光路结构连接,第二环形器的第三端口b与系统信号检测与记录模块连接;共光路结构与系统信号检测与记录模块连接。本发明采用上述基于共光路干涉仪结构的光频域测量装置,在测量光学器件的同时可抑制相位噪声与环境噪声。

Patent Agency Ranking