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公开(公告)号：CN105953817B
公开(公告)日：2018-10-26
申请号：CN201610265230.X
申请日：2016-04-26
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明提供的是一种光纤陀螺核心敏感光路的组装方法。在Y波导芯片与2×2保偏耦合器、Y波导芯片和光纤环组装时，利用白光干涉分布式测量的特点，对Y波导输入、输出处的保偏光纤的对准情况进行测量，使用特征峰的幅值大小确定组装角度，将光纤陀螺与Y波导的制作过程合并，对器件进行筛选、对准和固化状态进行调整，实现2×2保偏耦合器、Y波导和光纤环之间无焊点的连接，提高光纤陀螺的一体化水平。本发明具有光纤陀螺核心敏感光路焊点少、一体化程度高、监测装置搭建简单、Y波导输入与输出口串扰低等优点，广泛用于光纤陀螺核心敏感光路的组装中。
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公开(公告)号：CN105043718B
公开(公告)日：2017-11-21
申请号：CN201510212810.8
申请日：2015-04-30
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种光学偏振器件分布式偏振串扰测量的噪声抑制装置与抑制方法。一种光学偏振器件分布式偏振串扰测量的噪声抑制装置，包括宽谱光源、起偏器、第1光纤旋转连接器、第2光纤旋转连接器、待测光纤器件、光程相关器、偏振串扰检测与信号记录装置。本发明使用偏振分束器将传输光与耦合光彻底分离，避免干涉拍噪声的影响；在控制电路热噪声的基础上，使用衰减器对传输光进行衰减，让耦合光成为主探测光，使散粒噪声成为限制系统信噪比的主要噪声，使用本发明提供的方法调节至合适参数，可保持系统动态范围不变的前提下，信噪比提升20～40dB，有效提高测量灵敏度。
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公开(公告)号：CN105953817A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610265230.X
申请日：2016-04-26
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01C25/00
CPC classification number: G01C25/00
Abstract: 本发明提供的是一种光纤陀螺核心敏感光路的组装方法。在Y波导芯片与2×2保偏耦合器、Y波导芯片和光纤环组装时，利用白光干涉分布式测量的特点，对Y波导输入、输出处的保偏光纤的对准情况进行测量，使用特征峰的幅值大小确定组装角度，将光纤陀螺与Y波导的制作过程合并，对器件进行筛选、对准和固化状态进行调整，实现2×2保偏耦合器、Y波导和光纤环之间无焊点的连接，提高光纤陀螺的一体化水平。本发明具有光纤陀螺核心敏感光路焊点少、一体化程度高、监测装置搭建简单、Y波导输入与输出口串扰低等优点，广泛用于光纤陀螺核心敏感光路的组装中。
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公开(公告)号：CN104792503A
公开(公告)日：2015-07-22
申请号：CN201510223974.0
申请日：2015-05-05
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明的目的在于提供一种增强测量信号的信噪比，提高偏振串扰测量的灵敏度和动态范围，用于光学器件偏振性能的高精度测量与分析的光学偏振器件分布式串扰测量灵敏度增强的装置。一种光学偏振器件分布式串扰测量灵敏度增强的装置，包括宽谱光源、起偏器、待测偏振器件、第一光纤旋转连接器、第二光纤旋转连接器、光程解调与信号探测器、信号检测与处理装置。本发明在单一相关器测量极限的基础上，采用光程相关器两支路同步测量的结构，使用偏振分束器将传输在两偏振主轴上的信号光分离，两路干涉信号同步扫描后线性叠加，在将测量信噪比提升倍的同时，又能测量分布式串扰的绝对强度，大幅提高测量系统灵敏度和准确性。
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公开(公告)号：CN105841928B
公开(公告)日：2018-08-17
申请号：CN201610157528.9
申请日：2016-03-18
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种光纤偏振器件的高消光比测量方法。一种光纤偏振器件的高消光比测量方法，在待测高消光比偏振器件即Y波导的输入、输出端分别焊接两段不同长度的保偏光纤，构成带有定量串扰标记的测量组件；焊接时利用集总式消光比测试仪对焊接点的消光比进行定量控制并记录其测量值，同时对起偏器尾纤、检偏器尾纤、高消光比偏振器件尾纤、焊接保偏光纤的长度进行设定；将测量组件接入分布式光纤偏振串扰测试装置中，利用外接光纤焊接点之间的二阶串扰测量值对待测偏振器件消光比进行标定和自校准。在测量过程时，可对串扰标记和测量峰进行同步测量，杜绝测量环境改变和器件连接精度等引入的误差。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105784336B
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201610265283.1
申请日：2016-04-26
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种光纤器件的透射和反射性能同时测试的装置及方法。向待测器件中注入宽谱光，产生能反映其透射和反射性能的两路光信号，并将光信号注入到光学相干域偏振测量技术透射性能测试结构和光学低相干反射技术的反射性能测试结构中，使用共用延迟部件进行扫描，对两路光信号进行测量，同时得到待测光纤器件的透射和反射特征。在使用同一光源和同一延迟部件的情况下，光纤器件的透射和反射性能测试装置可精确测量待测器件的偏振性能、色散特性、损耗特性、相干光谱特性等特征参数。本发明具有集成程度高、测试参数全、抗电磁干扰、器件组成简单等优点，可广泛用于保偏光纤、集成波导调制器等光学器件性能的高精度测量与分析。
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公开(公告)号：CN105823624A
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201610157526.X
申请日：2016-03-18
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种用于光学相干偏振测量的标定装置及其动态范围标定方法。本发明包括宽谱光源与功率监测装置510、第一光纤连接器521、第二光纤连接器522、高精度标定装置530、光程相关器540、偏振串扰检测与信号记录装置550。使用特定长度和对准角度的保偏光纤搭建标定装置，可对测量峰的位置和幅度进行精确定位；利用多个串扰点的二阶干涉峰，可对较低峰值进行精确定位。利用不同的标定梯度，提高标定精度和准确性。
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公开(公告)号：CN105823624B
公开(公告)日：2018-08-31
申请号：CN201610157526.X
申请日：2016-03-18
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种用于光学相干偏振测量的标定装置及其动态范围标定方法。本发明包括宽谱光源与功率监测装置510、第一光纤连接器521、第二光纤连接器522、高精度标定装置530、光程相关器540、偏振串扰检测与信号记录装置550。使用特定长度和对准角度的保偏光纤搭建标定装置，可对测量峰的位置和幅度进行精确定位；利用多个串扰点的二阶干涉峰，可对较低峰值进行精确定位。利用不同的标定梯度，提高标定精度和准确性。
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公开(公告)号：CN104792503B
公开(公告)日：2018-08-31
申请号：CN201510223974.0
申请日：2015-05-05
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明的目的在于提供一种增强测量信号的信噪比，提高偏振串扰测量的灵敏度和动态范围，用于光学器件偏振性能的高精度测量与分析的光学偏振器件分布式串扰测量灵敏度增强的装置。一种光学偏振器件分布式串扰测量灵敏度增强的装置，包括宽谱光源、起偏器、待测偏振器件、第一光纤旋转连接器、第二光纤旋转连接器、光程解调与信号探测器、信号检测与处理装置。本发明在单一相关器测量极限的基础上，采用光程相关器两支路同步测量的结构，使用偏振分束器将传输在两偏振主轴上的信号光分离，两路干涉信号同步扫描后线性叠加，在将测量信噪比提升倍的同时，又能测量分布式串扰的绝对强度，大幅提高测量系统灵敏度和准确性。
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公开(公告)号：CN105841928A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610157528.9
申请日：2016-03-18
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种光纤偏振器件的高消光比测量方法。一种光纤偏振器件的高消光比测量方法，在待测高消光比偏振器件即Y波导的输入、输出端分别焊接两段不同长度的保偏光纤，构成带有定量串扰标记的测量组件；焊接时利用集总式消光比测试仪对焊接点的消光比进行定量控制并记录其测量值，同时对起偏器尾纤、检偏器尾纤、高消光比偏振器件尾纤、焊接保偏光纤的长度进行设定；将测量组件接入分布式光纤偏振串扰测试装置中，利用外接光纤焊接点之间的二阶串扰测量值对待测偏振器件消光比进行标定和自校准。在测量过程时，可对串扰标记和测量峰进行同步测量，杜绝测量环境改变和器件连接精度等引入的误差。
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