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公开(公告)号：CN106018286B
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201610330924.7
申请日：2016-05-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/17
Abstract: 基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法，涉及弥散介质光学参数分布的重建探测装置和光学参数分布的重建方法。为了解决传统接触式测量的光学系数重建过程中存在的装置复杂和无法区分各个方向的辐射强度信号的问题。弥散介质光学参数分布的重建探测装置包括激光控制器、激光头、至少一个光场相机和数据采集处理系统；本发明利用光场相机获取调频激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟弥散介质内的红外辐射传输过程，并结合最优化方法，重建得到介质内部的吸收、散射系数分布图像，从而探测得到弥散介质的内部结构。本发明适用于弥散介质光学参数分布的重建领域。
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公开(公告)号：CN108305233A
公开(公告)日：2018-07-20
申请号：CN201810184833.6
申请日：2018-03-06
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T5/00
CPC classification number: G06T5/006 , G06T2207/10052 , G06T2207/30204
Abstract: 一种针对微透镜阵列误差的光场图像校正方法，涉及针对微透镜阵列误差的光场图像校正技术，为了解决现有整体校正方法对于微透镜阵列面形误差所引起图像畸变的校正存在计算量过大、校准不当的问题。采用光场相机对白色匀光板成像，获取光场原始白图像；将光场原始白图像初步划分为若干微透镜区域，确定误差子图像的大小；检测各误差子图像的边缘轮廓，提取边缘特征点的坐标；确定所有误差子图像的几何误差矩阵；将各误差子图像的几何误差矩阵进行矩阵变换，求解相应的误差子图像的校正矩阵，得到光场图像校正矩阵；利用光场图像校正矩阵对待校正图像的像素点进行坐标变换，得到校正后的光场图像。本发明适用于校正光场图像。
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公开(公告)号：CN107610182A
公开(公告)日：2018-01-19
申请号：CN201710866593.3
申请日：2017-09-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T7/80
Abstract: 一种光场相机微透镜阵列中心的标定方法，本发明涉及光场相机微透镜阵列中心的标定方法。本发明的目的是为了解决现有微透镜阵列中心标定方法的渐晕峰值与微透镜中心不一致，实现过程复杂，并且标定精度受到多频相移的影响以及需预设模板并且对微透镜阵列的排布形式和几何参数均有一定限制的问题。过程为：一：使用光场相机对白色匀光板成像，获取光场原始白图像I；二：定义光场原始白图像I坐标系：三：得到光场原始白图像I的行列像素和；四：根据光场原始白图像I的行列像素和划分微透镜单元区域；五：根据得到的微透镜单元区域选取候选中心区域；六：确定微透镜中心及划分子图像区域。本发明涉及光场成像与数字图像处理技术领域。
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公开(公告)号：CN106018286A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610330924.7
申请日：2016-05-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/17
CPC classification number: G01N21/17 , G01N2021/1734
Abstract: 基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法，涉及弥散介质光学参数分布的重建探测装置和光学参数分布的重建方法。为了解决传统接触式测量的光学系数重建过程中存在的装置复杂和无法区分各个方向的辐射强度信号的问题。弥散介质光学参数分布的重建探测装置包括激光控制器、激光头、至少一个光场相机和数据采集处理系统；本发明利用光场相机获取调频激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟弥散介质内的红外辐射传输过程，并结合最优化方法，重建得到介质内部的吸收、散射系数分布图像，从而探测得到弥散介质的内部结构。本发明适用于弥散介质光学参数分布的重建领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105003180B
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201510451127.X
申请日：2015-07-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 无源自驱多功能智能节能窗，属于节能窗技术领域。本发明是为了解决建筑能耗中建筑外窗的热损耗大的问题。它的窗户本体包括窗体外框、窗体内框、夹层侧壁和窗玻璃，窗体外框、窗体内框和夹层侧壁形成凹槽结构的窗户本体，窗体外框和窗体内框上分别固定有窗玻璃；一片温差发电片固定在窗体外框的内壁上，另一片温差发电片固定在窗体内框的内壁上，散热板夹接在两片温差发电片之间，并与夹层侧壁相固定；光伏发电片附着在窗体外框的外壁上，多源电能收集器固定在夹层侧壁的外表面上，单片机固定在窗体内框的外表面上；窗体内框上窗玻璃的内侧表面上覆盖有VO2薄膜，VO2薄膜的表面上均匀布置蛇形排布的电热线。本发明为一种节能窗。
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公开(公告)号：CN105547485A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510889296.1
申请日：2015-12-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01J5/0018 , G01J5/10
Abstract: 基于微透镜阵列与调制激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与调制激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将调制激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。本发明实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
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公开(公告)号：CN105547469A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510889073.5
申请日：2015-12-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J1/42
CPC classification number: G01J1/42
Abstract: 基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将脉冲激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。通过本发明的仿真计算，可实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
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公开(公告)号：CN105319174A
公开(公告)日：2016-02-10
申请号：CN201510907097.9
申请日：2015-12-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 同时获取半透明材料温变导热系数及吸收系数的测量方法，涉及同时获取半透明介质温度相关导热系数及吸收系数技术。测量过程中使用某波长连续激光照射待测样品，借助探测器测量待测样本的随时间变化的温度响应以及透射辐射强度，最后通过逆问题求解技术间接得到待测样品随温度变化的导热系数及吸收系数。本发明通过建立导热系数及吸收系数随温度变化的半透明介质导热辐射耦合换热的正、反问题模型，在介质其他参数已知的前提下，提出了采用微粒群优化算法同时反演得到半透明介质温度相关导热系数及吸收系数的方法。本发明适用于航天、国防和民用工业。
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公开(公告)号：CN105203437A
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201510603970.5
申请日：2015-09-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 基于前向散射多角度测量的球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布的同时重构方法，属于球形颗粒的物性参数测量技术领域。本发明是为了解决现有常规的测量球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布方法中，不能同时获得二者的测量结果，并且测量结果不准确的问题。它在测量过程中使用两种不同波长的连续激光照射球形粒子系样本表面，借助探测器测量粒子系不同角度内的透射信号，最后通过逆问题求解技术间接得到粒子系的光学常数以及粒径分布情况；它通过建立球形颗粒系不同角度内透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，在粒子系的其他参数已知的前提下，提出光学常数与颗粒系粒径分布的同时重建技术。本发明用于球形颗粒光学常数与粒径分布的同时重构。
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