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公开(公告)号：CN106023082B
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201610348998.3
申请日：2016-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法，属于红外光学成像领域。目前缺少通过微透镜阵列测量光场信号的技术方法。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置，数据采集处理系统(7)连接激光控制器(1)和三个微透镜阵列光场相机；激光控制器(1)连接激光头(2)，激光头(2)和三个微透镜阵列光场相机围成的区域中心设置弥散介质(3)。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建方法，包括介质边界出射辐射测量、近红外脉冲激光在弥散介质的传输计算、光学参数场重建环节。本发明实现对弥散介质光学参数场的重建，为近红外光学成像和红外探测技术提供新的技术手段。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106023082A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610348998.3
申请日：2016-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法，属于红外光学成像领域。目前缺少通过微透镜阵列测量光场信号的技术方法。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置，数据采集处理系统(7)连接激光控制器(1)和三个微透镜阵列光场相机；激光控制器(1)连接激光头(2)，激光头(2)和三个微透镜阵列光场相机围成的区域中心设置弥散介质(3)。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建方法，包括介质边界出射辐射测量、近红外脉冲激光在弥散介质的传输计算、光学参数场重建环节。本发明实现对弥散介质光学参数场的重建，为近红外光学成像和红外探测技术提供新的技术手段。
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公开(公告)号：CN105547469B
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201510889073.5
申请日：2015-12-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J1/42
Abstract: 基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将脉冲激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。通过本发明的仿真计算，可实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
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公开(公告)号：CN106018286B
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201610330924.7
申请日：2016-05-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/17
Abstract: 基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法，涉及弥散介质光学参数分布的重建探测装置和光学参数分布的重建方法。为了解决传统接触式测量的光学系数重建过程中存在的装置复杂和无法区分各个方向的辐射强度信号的问题。弥散介质光学参数分布的重建探测装置包括激光控制器、激光头、至少一个光场相机和数据采集处理系统；本发明利用光场相机获取调频激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟弥散介质内的红外辐射传输过程，并结合最优化方法，重建得到介质内部的吸收、散射系数分布图像，从而探测得到弥散介质的内部结构。本发明适用于弥散介质光学参数分布的重建领域。
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公开(公告)号：CN106018286A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610330924.7
申请日：2016-05-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/17
CPC classification number: G01N21/17 , G01N2021/1734
Abstract: 基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法，涉及弥散介质光学参数分布的重建探测装置和光学参数分布的重建方法。为了解决传统接触式测量的光学系数重建过程中存在的装置复杂和无法区分各个方向的辐射强度信号的问题。弥散介质光学参数分布的重建探测装置包括激光控制器、激光头、至少一个光场相机和数据采集处理系统；本发明利用光场相机获取调频激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟弥散介质内的红外辐射传输过程，并结合最优化方法，重建得到介质内部的吸收、散射系数分布图像，从而探测得到弥散介质的内部结构。本发明适用于弥散介质光学参数分布的重建领域。
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公开(公告)号：CN105547469A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510889073.5
申请日：2015-12-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J1/42
CPC classification number: G01J1/42
Abstract: 基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将脉冲激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。通过本发明的仿真计算，可实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
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