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公开(公告)号：CN110376867A
公开(公告)日：2019-10-25
申请号：CN201910552174.1
申请日：2019-06-25
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种高时空分辨率的离轴数字全息显微成像系统及方法，包括照明单元、显微放大单元、中继成像单元、定量相位成像单元；照明单元包括部分相干光源、第九透镜、孔径光阑和第八透镜；显微放大单元包括显微物镜、第三反射镜和第七透镜；中继成像单元包括第一透镜和第二透镜；定量相位成像单元包括第一半透半反镜、光程补偿器、一维透射光栅、第三透镜、第四透镜、第一平面反射镜、第二平面反射镜、第一滤波器、第二滤波器、第五透镜、第六透镜、第二半透半反镜和成像探测器。本发明可有效减低散斑噪声，同时能够实现相位物体的全场定量显微测量，具有时空分辨率高等优点。
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公开(公告)号：CN108670269A
公开(公告)日：2018-10-19
申请号：CN201810616181.9
申请日：2018-06-14
Applicant: 北京理工大学深圳研究院
IPC: A61B5/1455
CPC classification number: A61B5/1455 , A61B5/14532
Abstract: 本发明公开了一种基于光散射能量的人体无创血糖测量装置，属于新型数字医疗检测仪器、光谱与光度测量等领域，特别涉及非侵入式人体血糖检测。本发明涉及的一种基于光散射能量的无创血糖测量的基本装置，通过对人体手指尖、手掌、肢体等部位的测量，就可以实时、快速获得有关人体血糖浓度的信息。本发明装置可以工作在可见光及红外谱波段；基于该装置，可以设计制作一种完全无创的血糖监测或检测仪器，并且具有实时快速、无需耗材、无其它不良副作用等优点。本发明涉及的一种基于光散射能量的无创血糖测量装置，主要由发射光源、准直器、散射传感器、直射传感器、信号采集与处理电路等组成。
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公开(公告)号：CN108564628A
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：CN201810341987.1
申请日：2018-04-17
Applicant: 北京理工大学
CPC classification number: G06T7/73 , G06T5/20 , G06T5/40 , G06T7/11 , G06T7/13 , G06T7/33 , G06T2207/10048 , G06T2207/20032 , G06T2207/20164
Abstract: 本发明提出一种面向掘进机自动化的截割头视觉定位定向系统，该系统由数台防爆红外摄像仪、数个相机支架和一台工控计算机组成。其中，防爆红外摄像仪用于采集截割头不同视角图像。工控计算机内置视觉处理平台对图像进行预处理和拼接得到截割头宽视场全景图像，进一步进行特征点识别与匹配跟踪工作，拟合出截割头边缘轮廓的曲线；数据处理平台根据特征点的位置坐标及曲线方程，计算出截割头中心一点的坐标、俯仰角以及偏航角。本发明的特点在于使用多台红外摄像仪对截割头进行多视角成像，结合红外图像拼接技术得到截割头的宽视场图像，利用计算机视觉科学实现掘进机截割头的定位定向功能。
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公开(公告)号：CN107966111A
公开(公告)日：2018-04-27
申请号：CN201711169584.5
申请日：2017-11-21
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种用于数字全息重构过程的自动对焦方法。该方法包括如下步骤：得到待处理数字全息图后，估算对焦距离并设置第一对焦距离区间、第二对焦距离区间、采样数和采样间隔距离，得到一系列临时对焦距离；分别对第一对焦区间和第一对焦区间内的临时对焦距离进行数字全息重构，得到光强图像序列；分别计算光强图像序列的自聚焦评价函数，得到第一评价函数曲线和第二评价函数曲线，进而作差得到差动评价曲线；在差动评价曲线横坐标为零的点附近选取一段曲线，进行线性拟合；拟合曲线过零点的位置即为图像聚焦位置。本发明可用于数字全息重构过程中的自动对焦，具有技术简单，定位精度高、速度快的特点。
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公开(公告)号：CN107121065A
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：CN201710308199.8
申请日：2017-05-04
Applicant: 北京理工大学深圳研究院
Abstract: 本发明公开了一种便携式相位定量检测装置，包括光源模块和相位显微成像模块，光源模块利用单色LED光源、准直光学组件和反射镜为相位显微成像模块提供均匀稳定的照明光源，相位显微成像模块通过采用柔性变焦透镜、显微物镜、4f成像系统和相机来实现系统轴向快速扫描和采集放大率恒定的光强图像，利用采集到的三幅光强图像求解光强传输方程，即可获得物体的相位信息。本装置工作时只需将其安装在精密位移台上，即可具备相位检测功能，具有结构简单、便于携带以及检测速度快等特点，特别适合于生物细胞相位成像方面的应用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103639903B
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201310606598.4
申请日：2013-11-25
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明为三向关联调整磁射流体加工装置，公开了属于精密光学表面加工领域的一种加工工具。包括旋转支架、支撑架、驱动臂、从动臂、齿轮组、摩擦片、电磁铁、主轴、蜗轮蜗杆、喷头壳体等。蜗轮蜗杆安装在支撑架中；驱动臂和从动臂安装在支撑架两侧；摆臂齿轮组位于从动臂上；喷头壳体和从动臂连接在一起。偏摆调节时，电磁铁通电带动摩擦片使旋转支架和主轴分离；主轴带动蜗轮蜗杆使驱动臂和从动臂偏摆，带动摆臂齿轮组的转动，使喷头向相反方向偏摆相同的角度，同时实现水平和垂直方向的偏移。本发明装置能够完成多种喷射方式，同时实现喷头偏摆、水平偏移和垂直偏移三个方向的关联调整，有效解决了传统喷头结构调节复杂，偏摆角度和偏移量关联精度差等问题，适用于复杂光学表面的加工。
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公开(公告)号：CN104097142B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201410286022.9
申请日：2014-06-24
Applicant: 北京理工大学
IPC: B24B41/04
Abstract: 本发明涉及一种电控磁场柔性囊式充液抛光装置，属于超精密光学表面柔性加工工具领域。包括：柔性囊体、流变液、电磁铁、可变电阻器、圆环碳刷、转动轴、卡槽等。工作时，调节每一个可变电阻器获得所需电流，分别给每一组电磁铁供电，供电导线通过圆环碳刷与外部相连；在众电磁铁综合磁场作用下，柔性囊体内部的流变液变为粘稠状或接近固态，使工作面与工件形成仿形接触，并能通过电流的大小控制囊体的柔度；转动轴上的卡槽用于将装置固定在常用机床的动力头上，以获得驱动动力使装置高速旋转进行抛光工作。本发明提供的抛光装置的工具头的柔度可调、磁场可控、对曲面曲率变化适应性好，可满足超光滑自由曲面的快速研抛加工要求。
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公开(公告)号：CN103286659B
公开(公告)日：2016-02-24
申请号：CN201310190539.3
申请日：2013-05-22
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了属于超精密光学表面加工领域的一种偏心自转式气压施力大口径保形抛光装置。包括电机、旋转接头、套筒、主轴、活塞、球头、抛光盘、卡圈、非牛顿流体、保形膜；抛光盘采用偏心自转式结构，能够产生具有中心峰值的类高斯去除函数；气体通过旋转接头、中空的主轴，进入主轴末端的气缸，推动活塞对抛光盘施加确定性的压力；非球面的加工过程中，在抛光盘下表面安装的非牛顿流体能够根据当前接触区域的面形实时的变形，保证聚氨酯与非球面表面紧密贴合，产生稳定的去除函数；本发明适用于大口径非球面光学元件的超精密表面加工。
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公开(公告)号：CN102997864B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201210548184.6
申请日：2012-12-17
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及一种大口径光学非球面镜检测系统，包括干涉仪、标准球面透射镜头、一维电控平移台、五维电控精密平台及计算机数控系统，通过计算机控制一维电控平移台和五维电控精密平台来调整干涉仪与被测非球面的相对位置，完成对非球面的检测。检测过程中，干涉仪发出的比较球面波与被测非球面相应的内切圆匹配，产生一系列可分辨的子孔径干涉条纹，提取各干涉条纹对应的波程差数据并存储；在完成对各子孔径波程差数据预处理后，由子孔径拼接算法重构出被测非球面面形误差。本发明无需设计和制造补偿器以及高精度电控平移台，为大口径、大相对口径非球面的检测提供了一种有效手段，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN102962764B
公开(公告)日：2015-03-18
申请号：CN201210548198.8
申请日：2012-12-17
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了属于超精密光学表面加工领域的一种刚性偏心传动公自转气压施力数控抛光装置。包括电机、固定架、基座、带轮、皮带、万向节、气动旋转接头、自转轴、自转传递杆、公转块、燕尾滑块、燕尾槽、气缸、球头、抛光盘；工作时，通过调节燕尾滑块在燕尾槽中的位置来改变自转轴的偏心量；自转电机与自转轴通过可伸缩的万向节连接，实现自转运动的刚性传递；一定气压的气体依次通过气动旋转接头、中空的自转传递杆、中空的自转轴，进入气缸，对抛光盘施加确定的压力，最终实现对光学元件的确定性加工。本发明适用于大口径光学元件的超精密表面加工。
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