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公开(公告)号：CN108981607A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810516472.0
申请日：2018-05-25
Applicant: 北京理工大学深圳研究院
IPC: G01B11/25
Abstract: 本专利公开了一种基于双线激光器的物体彩色三维轮廓扫描装置。其主要包括线激光器发射模块、两相四线步进电机、载物平台、控制器、传感器以及处理程序。本发明专利提供的物体彩色轮廓扫描装置采用三角测量法，可以避免对被测物体表面造成损伤，并且可以应用于测量柔性物体。采用双线激光器投射避免了被测物体遮挡传感器的可视区域导致扫描数据的丢失问题。线激光光束垂直投射在物体表面，传感器通过处理程序可以得到一组三维测量数据，通过对多组数据的精确拼接和对线激光照射的特征区域进行像素的提取，旋转一周后可以复现物体完整的表面轮廓和重现物体表面的色彩。这尤其对文物的数据采集和保护具有重大意义。
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公开(公告)号：CN110763598A
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201910868405.X
申请日：2019-09-12
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种外置型数字全息相位定量成像装置，沿光路方向依次包括一维周期光栅，半透半反镜，第四透镜，第二反射镜和成像探测器。本发明，通过对成像探测器采集到的条纹图进行数值重构，即可获得被测物体的定量相位信息。本发明的装置能够获得对比度更高的全场干涉条纹图，且结构简凑便于装调，可以直接作为光学显微镜的外接设备，用于生物细胞等微纳结构物体的定量显微测量，具有很强的市场应用前景。
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公开(公告)号：CN110514111A
公开(公告)日：2019-11-29
申请号：CN201910822369.3
申请日：2019-08-30
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种便携式数字全息显微成像装置与方法，沿光路方向依次包括一维衍射光栅、第一半透半反镜、第一成像透镜、第一反射镜、第二成像透镜、第二反射镜、相机和计算机。本发明将光栅衍射技术和数字全息技术相结合，能够获得全视场内对比度更好的干涉条纹图，能够实现全视场内物体的相位定量测量。本发明可以直接作为光学显微镜的外接设备使用，用于微透镜阵列、生物细胞等微纳结构物体的相位测量，因此具有很强的应用价值和市场前景。
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公开(公告)号：CN107218320B
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201710645040.5
申请日：2017-08-01
Applicant: 北京理工大学
IPC: F16D57/00
Abstract: 本发明公开了一种电流变缓速制动器，包括设置于输出轴径向外侧的密闭的第一工作腔，所述第一工作腔内设置有内摩擦片、外摩擦片，所述内摩擦片套在所述输出轴外壁并和所述输出轴相互固定，所述外摩擦片套在所述输出轴外壁并和所述第一工作腔的侧壁相互固定，所述内摩擦片、外摩擦片沿所述输出轴的轴向依次交替设置并且相邻的内外摩擦片之间留有间距，所述内、外摩擦片之间相互绝缘，所述第一工作腔内充有电流变液体，所述输出轴、第一工作腔的侧壁、内摩擦片表面及外摩擦片表面均为良性导体。本发明电流变缓速制动器通过对外加电场的连续控制，可实现制动力大小的连续控制与调节，并且结构简单、重量轻、反应速度快。
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公开(公告)号：CN107966110A
公开(公告)日：2018-04-27
申请号：CN201711162580.4
申请日：2017-11-21
Applicant: 北京理工大学
CPC classification number: G01B11/2441 , G01B9/023
Abstract: 本发明公开了一种双模态数字全息显微装置，包括：光源、扩束准直系统、第一立方分束镜、第一挡板、第一平面反射镜、第一显微物镜、第二立方分束镜、第二显微物镜、第二平面反射镜、第二挡板、第三平面反射镜、消色差透镜、第三立方分束镜和摄像器件。其中，光源发出的光束经过扩束准直系统后被第一立方分束镜分成透射和反射两路光束。通过控制第一挡板和第二挡板对光束传播路径进行控制，从而实现反射式和透射式两种测量模态的切换。本发明装置既可以用于透明样品的三维显微成像，也可用于反射式样品表面三维显微成像，具有测试方便、结构简凑的特点，能够更广泛地应用到工程实际测量领域中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101774150A
公开(公告)日：2010-07-14
申请号：CN201010105731.4
申请日：2010-02-04
Applicant: 北京理工大学
IPC: B24B29/00
Abstract: 本发明公开了一种用于电流变抛光的公自转组合式运动抛光工具，包括阳极和阴极抛光盘、自转轴、公转轴、自转和公转电机、齿轮组、轴承、螺栓、支架、电刷、绝缘片等。阳极和阴极抛光盘之间用绝缘片隔开，正对放置组成抛光轮，并通过过盈配合固定在自转轴上；自转轴通过轴承安装在支架上；公转轴底部与支架固定。自转和公转电机分别通过控制自转轴和公转轴的转动来控制抛光轮作公自转组合式运动。通电时，电流变液聚集在抛光轮表面，形成柔性抛光头，当它与工件接触并发生相对运动，即可实现抛光。本发明提及的抛光工具的抛光轮能实现公自转运动，可有效克服抛光轨迹效应以及提高抛光区域中心的去除率，适用于复杂光学表面的加工。
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公开(公告)号：CN108592825A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201810516238.8
申请日：2018-05-25
Applicant: 北京理工大学深圳研究院
IPC: G01B11/26
CPC classification number: G01B11/26
Abstract: 本发明涉及精密仪器制造和测试计量技术领域，具体公开了一种基于差动补偿的光电自准直装置及方法。该装置包括光源、小孔光阑、第一分光棱镜、准直物镜、差动补偿器、待测平面镜、CCD图像传感器。本装置采用的差动补偿器能克服已有装置和方法中的不足，使得参考光束和测量光束在空间上足够靠近，因此两束光中的漂移是近似相同的，差分后可有效减小示值漂移，具有较高的测量精度和抗干扰能力。
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公开(公告)号：CN108562239A
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：CN201810023655.9
申请日：2018-01-10
Applicant: 北京理工大学
CPC classification number: G01B11/254 , G01B11/2441
Abstract: 本发明公开了一种共光路干涉条纹投射装置，包括：光源、会聚透镜、孔径光阑、准直透镜、可调光阑、显微物镜、干涉条纹产生装置和工业相机。光源发出的光束，先后经过会聚透镜和孔径光阑作用，再经过准直透镜和可调光阑作用，入射到显微物镜内形成高质量的点光源；点光源发出的光入射到干涉条纹产生装置后产生干涉条纹投射到待测物体表面，经物体反射的变形条纹图被工业相机采集，最后通过相位测量轮廓术算法恢复出物体的三维形貌。本发明装置具有结构简单稳定、干涉条纹图像中心和边缘亮度分布均匀且条纹周期调节方便等特点，可应用于工业检测等领域。
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公开(公告)号：CN102997863B
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201210435137.0
申请日：2012-11-05
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及一种全口径光学非球面面形误差直接检测系统。包括干涉仪、标准球面透射镜头、一维电控平移台、五维精密电控平台及数控系统；通过一维和五维电控平台调整干涉仪和被测非球面的位置，使干涉仪产生的比较球面波与被测非球面某一内切圆相匹配，利用干涉仪测量出被测非球面与比较球面之间的波程差数据；提取波程差特征点数据并进行圆拟合，得到最佳匹配点位置，进而计算出比较球矢高方程；最后从波程差数据中减去非球面与比较球面方程间的理论矢高差,即得到被测非球面的面形误差信息。本发明无需辅助镜和补偿器，是一种高精度、高效率和经济型的非球面面形误差检测方法。
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公开(公告)号：CN101745866A
公开(公告)日：2010-06-23
申请号：CN201010105725.9
申请日：2010-02-04
Applicant: 北京理工大学
IPC: B24B29/04
Abstract: 本发明属于超精密光学表面加工工具领域，涉及一种电流变摆轴圆筒抛光装置。包括电机、支架座、连接杆、旋转轴、底座、圆环电刷，还包括阳极和阴极抛光装置、硬质绝缘材料；电机安装在支架座上；旋转轴一端用联轴器与电机转轴连接，一端与阴极抛光装置固定，抛光时旋转轴与工件轴成一定的角度；阳极和阴极抛光装置与硬质绝缘材料固定一体构成集成电极抛光头；支架和底座通过连接杆固定；电刷套利用螺栓固定在底座上；圆环电刷置于电刷套的凹槽内，并与阳极抛光装置上端紧密接触；工作时，电流变液聚集在集成电极抛光头边沿，当与工件接触并发生相对运动时，即实现抛光。本发明抛光装置正负极能整体旋转、旋转轴可任意摆动，适用于复杂光学表面的确定性加工。
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