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公开(公告)号：CN107462880A
公开(公告)日：2017-12-12
申请号：CN201710760247.7
申请日：2017-08-30
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01S7/481
CPC classification number: G01S7/4812
Abstract: 本发明公开一种双面快速转向反射镜装置，它包括：双面反射镜、致动器、底座、柔性支撑、镜片安装台和位移传感器。在需要对光束进行指向跟踪且收发同轴的应用场合，接收回波时需要对发射出去的光束进行角度补偿，采用两个指向镜装置很难做到发射出去的扫描角和补偿的回波角度同步，而采用同一镜片的两面能有效保证转角的一致性，使回波能有效补偿发射的角度，实现探测器上接收的角度相对稳定。本发明的优点在于，大幅减小了用两个光束指向镜进行收发同轴的指向误差，同时可节省安装空间，又可方便操作控制。
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公开(公告)号：CN105784329A
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：CN201610236140.8
申请日：2016-04-15
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种直角屋脊棱镜脊的宽度测量的装置及方法，测量装置采用光学差分的测量方法，由激光器和平行光管产生近似于远距离的平行光，平行光经过汇聚光学系统后形成的圆形光斑照射在直角屋脊棱镜脊上，经过直角屋脊棱镜的两个直角面的反射后产生的两束光分别经透镜汇聚后再由激光功率计探测，最后由两个激光功率计的数值信息，外推出直角屋脊棱镜脊的宽度。本发明解决了直角屋脊棱镜脊宽度的测量问题，且方法简便易行。
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公开(公告)号：CN102255655A
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：CN201110161213.9
申请日：2011-06-15
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: H04B10/08
Abstract: 本发明公开一种激光通信中跟踪相机兼容实现链路效率的检测方法。利用激光通信中ATP系统的跟踪相机测算信标光光斑质心的同时计算接收光束能量。它采用激光器、衰减片、分光棱镜、CMOS相机、光功率计等组成地面定标系统事先测算相机阵面单个像元上单位像素值所示能量a(单位J)将此值存储在相机中。通信时在ATP系统中使用该相机，计算探测阵面上所有像元的像素值总和，乘以标定值a再除以相机积分时间就可得到接收光束功率，根据已知发射端光功率、发散角、通信距离可得链路效率。该方法可使激光通信ATP系统实时监测链路效率β，以及时调整相机积分时间或通信系统信标光发射能量，保证系统精确跟瞄，进而顺利实现激光通信。
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公开(公告)号：CN119722454A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411541937.X
申请日：2024-10-31
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G06T3/4053 , G06T3/4046 , G06N3/0464
Abstract: 本发明属于光子成像技术领域，涉及一种少光子低分辨图像处理方法、装置及光学探测系统；根据泊松探测模型构建高斯光斑的少光子低分辨图像数据集；构建少光子亚像素图像处理模型，模型包括沿正传播方向依次串联的初始卷积模块、第一深度卷积模块、第一上采样卷积模块、第二深度卷积模块、第二上采样卷积模块和全连接层；将少光子低分辨图像输入至少光子亚像素图像处理模型中，基于少光子亚像素图像处理模型输出的特征图构建图像处理损失函数；利用少光子低分辨图像数据集对少光子亚像素图像处理模型进行训练，直到图像处理损失函数的值最小，得到训练好的少光子亚像素图像处理模型，从而基于该模型输出的高分辨图像获取高精度质心估计。
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公开(公告)号：CN118474564B
公开(公告)日：2024-11-19
申请号：CN202410626619.7
申请日：2024-05-20
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: H04N25/76
Abstract: 本发明提供一种CMOS图像传感器的抗辐射加固装置和方法，所述装置包括刷新重构芯片、FPGA和CMOS图像传感器；FPGA接收外部指令，并对CMOS图像传感器的内部寄存器进行配置；FPGA对CMOS图像传感器的内部寄存器进行回读检测；刷新重构芯片对FPGA进行回读检测；当检测到CMOS图像传感器发生单粒子翻转时，如果FPGA未发生单粒子翻转，则FPGA对CMOS图像传感器进行重新配置；如果FPGA发生单粒子翻转，则刷新重构芯片先对FPGA进行重载操作，然后FPGA再对CMOS图像传感器进行重新配置。本发明的抗辐射加固装置在CMOS图像传感器发生单粒子翻转时无需断电重启即可实现自动检测和校正，能够有效提高CMOS图像传感器的工作效率和适用性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118915259A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202411114605.3
申请日：2024-08-14
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所 , 上海量子科学研究中心
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明提供一种光学设备及其对焦调节机构，所述对焦调节机构包括：导轨座；电机，通过电机座安装在导轨座上；丝杆，安装在导轨座上；球铰球面螺母，与丝杆通过螺纹牙配合由丝杆驱动做一维轴向直线运动；球铰柱面座，与球铰球面螺母通过球铰实现运动解耦；直线导轨，包括：定导轨与动导轨，定导轨安装在导轨座上，动导轨与球铰柱面座固定连接；成像系统，固定连接于球铰柱面座上。本发明采用球铰柱面与球铰球面配合，有效地释放了直线导轨与丝杆螺母两直线运动副的自由度约束，不仅降低了丝杆螺母摩擦磨损与机构堵转风险，还满足了光学设备对焦面调节高可靠性、高精度需求，且整个机构的结构形式简洁，降低了对加工、装配的要求。
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公开(公告)号：CN118474564A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410626619.7
申请日：2024-05-20
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: H04N25/76
Abstract: 本发明提供一种CMOS图像传感器的抗辐射加固装置和方法，所述装置包括刷新重构芯片、FPGA和CMOS图像传感器；FPGA接收外部指令，并对CMOS图像传感器的内部寄存器进行配置；FPGA对CMOS图像传感器的内部寄存器进行回读检测；刷新重构芯片对FPGA进行回读检测；当检测到CMOS图像传感器发生单粒子翻转时，如果FPGA未发生单粒子翻转，则FPGA对CMOS图像传感器进行重新配置；如果FPGA发生单粒子翻转，则刷新重构芯片先对FPGA进行重载操作，然后FPGA再对CMOS图像传感器进行重新配置。本发明的抗辐射加固装置在CMOS图像传感器发生单粒子翻转时无需断电重启即可实现自动检测和校正，能够有效提高CMOS图像传感器的工作效率和适用性。
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公开(公告)号：CN118151364A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410437347.6
申请日：2024-04-12
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明所述二维转台是一种应用于大口径空间望远镜的运动机构，用于完成空间激光通信的自动捕获、跟踪、瞄准等任务。二维转台采用关节式构型，包括U型架、俯仰轴系、方位轴系和光学组件。俯仰轴系安装在U型架上，其传动轴由三段拼接而成，包括俯仰传动轴固定段、俯仰传动轴承载框和俯仰传动轴游动段，三者组合加工，同轴度优于3μm，在俯仰电机驱动下可相对于U型架独立转动(即俯仰转动)；方位轴系整体安装在俯仰轴系的承载框上，其方位传动轴采用一体化设计，在方位电机驱动下可相对于俯仰轴系独立转动(即方位转动)，此外，方位轴内部安装有光学反射镜，用于通光，在俯仰和方位两维转动过程中，能始终保持光轴与转动轴的共线。最后，本发明所述ATP二维转台可实现‑90°～+45°俯仰转动，‑32°～+32°的方位转动，能够满足望远镜的跟踪任务要求。
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公开(公告)号：CN118054858A
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202410261028.4
申请日：2024-03-07
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: H04B10/50 , H04B10/524 , H04B10/564 , H04J3/06 , H04L27/00
Abstract: 本发明提供一种基于超导纳米线单光子阵列探测器的时隙同步系统及方法，涉及无线光通信技术领域，该系统包括FPGA开发板、射频功率放大器、激光调制器、1550nm激光器、固定衰减、可调衰减、偏振控制器、超导纳米线单光子阵列探测器、读出电路、时间数字转换器、计算机，其中计算机用于基于时间戳数据，考虑非时齐泊松探测过程并修正最大似然估计算法，计算时隙偏移的局部最优估计值，最终实现时隙同步。本发明可以提高时隙偏移估计模型在不同时隙偏移状态下的鲁棒性并降低现有时隙同步方案的硬件复杂度和通信误码率。
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公开(公告)号：CN117571657A
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202311250375.9
申请日：2023-09-26
Applicant: 国科大杭州高等研究院 , 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明提供的超连续谱激光空间位移光谱检测仪检测时，包括以下步骤：步骤1，仪器初始化，设定超连续消像差锥形镜甲沿发射光轴平移的扫描步长和起终位置，并将超连续消像差锥形镜甲移动至起始位置；步骤2，控制光阀于全透射状态，进行超连续空间位移光谱探测，获取探测目标涂层和基层不同深度的超连续谱反射率；步骤3，控制光阀于全反射状态，进行超连续谱成像探测，获得探测目标涂层的纹理信息；步骤4，综合步骤2和步骤3的探测结果对探测目标涂层进行分析。本发明的一种超连续谱激光空间位移光谱检测方法及应用，采用两种工作模式，并复用光学元件，同时检测待检目标涂层及基层不同深度的超连续反射光谱信息以及涂层的纹理等图像信息。
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