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公开(公告)号：CN103148939A
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN201310062603.X
申请日：2013-02-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域，具体的讲是一种抑制二级光谱的紫外光谱测量方法及系统，其中包括当进行110nm-200nm波段的紫外光谱测量时，将真空仓抽真空，紫外辐射透过所述真空仓的氟化镁窗口进入到检测设备，其中所述氟化镁窗口用于吸收波段在110nm以下的紫外辐射；当进行200nm-400nm波段的紫外光谱测量时，向所述真空仓中注入气体，所述紫外辐射通过所述真空仓中的空气和所述氟化镁窗口进入到检测设备，其中所述空气吸收波段在200nm以下的紫外辐射。通过本发明的实施例，在紫外光谱测量时光源光谱辐射度校准和探测器响应度校准中，将二级光谱的杂散辐射有效滤除，减少测量误差，提升测量精度。
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公开(公告)号：CN120027920A
公开(公告)日：2025-05-23
申请号：CN202311562234.0
申请日：2023-11-22
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/46
Abstract: 本发明涉及一种材料辐射特性的测量方法，解决了现有技术中在较高温度下材料辐射特性测量精度低的问题。包括如下步骤：将被测材料置于温控装置中，被测材料的中心正对温控装置的辐射口，并设置到设定温度；所述被测材料为结构材料或窗口材料；调整被测材料、标准黑体与傅立叶光谱辐射计位置，使得被测材料和标准黑体发出的辐射信号能够分别被所述傅立叶光谱辐射计接收并测量得到光谱辐射量值；基于被测材料和标准黑体发出的光谱辐射量值，使用处理器计算得到材料的辐射特性；包括：结构材料的法向光谱发射率、窗口材料的辐射透射率和基于所述辐射透射率计算的窗口材料的法向光谱发射率。实现了高温下材料辐射特性的精确测量。
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公开(公告)号：CN115732289A
公开(公告)日：2023-03-03
申请号：CN202111025371.1
申请日：2021-09-02
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种真空紫外放电管，该放电管包括氟化镁光学窗口、过渡腔、软玻璃腔和硬玻璃泡壳，过渡腔包括多个热膨胀系数不同的过渡单元，且多个过渡单元按照热膨胀系数的大小顺序依次连接，硬玻璃泡壳与热膨胀系数最低的过渡单元连接，软玻璃腔一端与热膨胀系数最高的过渡单元与连接，另一端与氟化镁光学窗口连接。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中氟化镁光学窗口无法实现可靠封接的技术问题。
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公开(公告)号：CN114323061A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202011055701.7
申请日：2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明公开了一种星光模拟器几何参数现场校准装置及系统，装置包括光学元件、平移机构、图像采集装置及数据处理装置；所述光学元件安装于所述平移机构上，所述图像采集装置安装于所述平移机构的一端；所述光学元件用于将待校准星光模拟器的出射光进行折转，所述平移机构用于带动所述光学元件和所述图像采集装置进行平移，平移过程中所述图像采集装置用于采集出射光经所述光学元件转折后形成的星光图像并发送至所述数据处理装置，所述数据处理装置用于根据所述星光图像计算所述待校准星光模拟器的平行度；该装置无需使用准直仪，避免人眼对准和读书误差，提高星光模拟器平行度校准的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN113916386A
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202010644796.X
申请日：2020-07-07
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J9/00
Abstract: 一种基于气体电离室的真空紫外波长校准装置，包括：真空紫外光源为气体放电光源，前端窗口为氟化镁窗口，用来提供覆盖120nm～200nm波段范围的光谱能量；真空紫外单色分光系统包括入射狭缝、分光光栅、出射狭缝，真空紫外光源的光经入射狭缝进入，经分光光栅分光形成单色光，经出射狭缝出射；真空紫外准直系统包括多片光学镜片，使得真空紫外准直系统的焦面位置与真空紫外单色分光系统的出射狭缝位置重合，对真空紫外单色分光系统的出射光进行准直，形成平行光出射；真空紫外漫射系统为长方形，铝基底材料进行打磨制成，其表面为漫反射表面；真空紫外切换机构为圆形转台或平移导轨，可将漫射系统移入移出。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111721418B
公开(公告)日：2021-08-27
申请号：CN201910211695.0
申请日：2019-03-20
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了一种空间环境下校准源辐射参数定量化标定及量值传递系统，该系统包括空间环境模拟舱(1)、校准源(2)、光路折转镜(4)、真空标准辐射源(5)、量值传递用辐射计(7)；所述的光路折转镜(4)将校准源(2)或真空标准辐射源(5)发出的红外辐射光反射入量值传递用辐射计(7)，由其测量两者的辐射量值，并通过调节使两者信号相等，即可认为真空标准辐射源和校准源的辐射量值相等。本发明可实现在轨定标用校准源的在轨多点、高精度、宽温度范围、快速量值溯源与传递，确保红外载荷用校准源的量值准确。
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公开(公告)号：CN111721416A
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN201910211687.6
申请日：2019-03-20
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了一种真空低温环境下红外辐射计用内标定源及温控系统，所述内标定源包括调制扇(201)，通过电机(206)驱动；所述调制扇(201)由外壳包覆，所述外壳设置入射光路开口(207)，所述外壳的外层包括金属外壳(202)和隔热层(203)，所述外壳的内层为加热膜(204)。所述温控系统包括标定源控制器、功率输出器件和温度传感器，所述温度传感器实时采集外标定源温度，并实时反馈给标定源控制器，所述标定源控制器将内标定源温度实测值与设定值比较，输出控制信号，驱动所述功率输出器件输出功率，从而调节内标定源加热器件的功率，使得内标定源稳定在设定温度值。本发明阐述的内标定源作为红外辐射计的标定源，可实现实时标定，保证测量准确性。
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公开(公告)号：CN111006773A
公开(公告)日：2020-04-14
申请号：CN201911179919.0
申请日：2019-11-26
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种空间环境下的MEMS红外辐射面均匀性提升系统，属于红外辐射定标技术领域，解决了现有红外辐射面的温度均匀性差的问题。本发明的空间环境下的MEMS红外辐射面均匀性提升系统，包括热匀化导热层、加热层和分离式电极组，热匀化导热层位于加热层和MEMS红外辐射面之间；分离式电极组为加热层供电，使加热层发热；加热层对MEMS红外辐射面进行加热；热匀化导热层对MEMS红外辐射面起到热匀化作用，提升MEMS红外辐射面温度的均匀性。本发明能够大幅度提升空间环境下MEMS红外辐射面的均匀性，温度分布均匀性优于3K，确保其满足红外载荷辐射定标的使用要求。
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公开(公告)号：CN110470636A
公开(公告)日：2019-11-19
申请号：CN201810435109.6
申请日：2018-05-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01N21/47
Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域，公开了一种用于真空紫外BRDF特性测量的系统。该系统包括：真空紫外探测器、探测转臂、转臂旋转中心、探测转台、样品转台和样品平移台，其中，所述真空紫外探测器设置在所述探测转臂上，所述转臂旋转中心带动所述探测转臂进行绕水平轴的旋转运动，所述探测转台带动所述探测转臂进行绕垂直轴的旋转运动，所述样品转台带动待测样品进行绕垂直轴的旋转运动，所述样品平移台带动所述待测样品进行沿水平方向的平移运动，以对所述待测样品进行多角度漫反射信号探测，得到所述待测样品的BRDF值。由此，可以实现对待测样品的双向反射分布函数进行精确测量。
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公开(公告)号：CN104483019B
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201410705356.5
申请日：2014-12-01
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明提供了一种真空紫外成像光谱仪的校准方法，包括：校准真空紫外成像光谱仪的波长测量范围、波长准确度、光谱响应率、均匀性以及空间角分辨率。本发明还提供了一种真空紫外成像光谱仪的校准装置，包括：依次设置于光路中的光源、真空紫外单色分光系统、真空紫外积分球、真空紫外靶标、真空紫外准直光学系统，以及与需要被校的真空紫外成像光谱仪可切换地设置于真空紫外准直光学系统的输出端的真空紫外标准探测器和用以实现真空紫外成像光谱仪的空间角度变换的真空三维扫描机构。采用本发明的技术方案能够及时发现真空紫外成像光谱仪设计过程中存在的缺陷，同时能够有效保证真空紫外成像光谱仪获取数据的准确性。
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