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公开(公告)号：CN105890873A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610260362.3
申请日：2016-04-25
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01M11/00
CPC classification number: G01M11/00
Abstract: 本发明涉及一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置和方法，本发明装置由黑体控制器、辐射黑体、热红外高光谱成像仪和计算机模块组成，其中计算机模块包含数据采集单元和盲元检测单元，利用该装置通过步骤(1)将热红外高光谱成像仪对准黑体并充满视场，通过黑体控制器将黑体温度设置为N个(N≥30)不同的温度，待温度稳定后数据采集单元控制成像仪采集N组数据；(2)将N组数据按照温升进行波段叠加，生成温升黑体热红外高光谱数据；(3)采集非盲元温升光谱，通过光谱匹配途径进行盲元检测，标记盲元生成盲元检测结果。本发明从光谱维角度考虑实现热红外高光谱成像仪的盲元高精度检测，对热红外高光谱成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN208902265U
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201821640467.2
申请日：2018-10-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本专利公开一种适用于星载宽谱段相机的光谱定标系统，定标系统由卤素灯、单色仪、三孔通用积分球和高精度光谱仪组成。卤素灯发出的光经过单色仪分光得到单色光，单色光进入三孔通用积分球，入射光经积分球内部面反射之后从其他两个孔透出均匀的光。用高精度光谱仪测量其中一个出光口的辐射亮度，用宽谱段相机对另一个出光口成像。通过计算获得宽谱段相机的光谱响应函数。通过三孔通用积分球将光分为均匀的两路，既可以通过高精度光谱仪测量宽谱段内的辐射亮度光谱，又可以与宽谱段相机同步成像，实现两者同步测量，提高了宽谱段相机光谱定标效率和精度。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN212007519U
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN202020775778.0
申请日：2020-05-12
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本专利公开了一种遥感反射率转换的装置，装置由漫反射板、支架、镜头、光纤、光谱仪和计算机模块组成。在获取航空成像仪数据同时，采用本装置采集漫反射板辐亮度数据，对航空成像仪数据进行光谱漂移检测，进而综合两种数据生成反射率转换辅助数据，最后进行反射率数据转换。本专利针对低空航空遥感，解决了目前反射率数据处理的难题，具有简单易行的优点，对成像仪数据预处理和遥感应用具有重要的作用。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN204330135U
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201420770208.7
申请日：2014-12-09
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本专利公开了一种适用于热红外高光谱成像仪的光谱定标系统，定标系统中，碳硅棒可以发出稳定的热红外辐射，经过聚焦镜、反射镜、扩束镜进入单色仪，经过单色仪分光之后出射高光谱分辨率的热红外辐射，被热红外高光谱成像仪接收，采用波长扫描法进行光谱定标，获得各个波段的光谱响应函数。碳硅棒对热红外高光谱成像仪进行波长扫描光谱定标之后，再以波长可调式CO2红外激光器发出的单色光束为光源，通过变换红外激光器的出射波长，选择波长可调式CO2激光器的多个特征波长，用特征波长光谱定标法对热红外高光谱成像仪进行绝对定标。本专利实现了高光谱分辨率的热红外高光谱成像仪的快速光谱定标，光谱定标误差达到1 nm以下。
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公开(公告)号：CN207528348U
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201721113894.0
申请日：2017-09-01
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本专利公开一种适用于机载热红外成像光谱仪大气校正系统。系统包括支架、稳定平台、镀金漫反射板、光纤固定架、镀金板温度探头、数据线、温度计主机、光纤和高精度热红外光谱仪。利用MODITRAN生成不同大气状况下大气下行热红外辐射、大气程辐射和大气透过率，建立参考数据库。再次从参考数据库中搜索与该系统测量结果最匹配的大气下行热红外辐射光谱，查找对应的大气程辐射、地表大气下行热红外辐射和大气透过率。最后以时间为基准，根据辐射传输方程，从辐射定标后的成像光谱仪获取的热红外高光谱数据中，逐像元计算离地辐射光谱，实现热红外成像光谱仪的大气校正。本专利的大气校正系统和方法可大幅度提高机载热红外高光谱数据大气校正精度。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN206146624U
公开(公告)日：2017-05-03
申请号：CN201621121391.3
申请日：2016-10-14
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01M11/00
Abstract: 本专利涉及一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置，本专利装置由黑体控制器、标准黑体、热红外高光谱成像仪和计算机模块组成，标准黑体可以发射稳定的热红外辐射，将热红外高光谱成像仪对准黑体并充满视场，热红外高光谱成像仪接收热红外辐射，通过计算机模块控制热红外高光谱成像仪采集8‑12.5μm范围的数据，调节黑体控制体，改变标准黑体温度将黑体温度设置为N个(N≥30)不同的温度，待温度稳定后，如此往复，获取不同温度的N组热红外辐射数据，获取温升黑体热红外高光谱数据，生成盲元图像，完成盲元检测。基于该装置从光谱维角度实现热红外高光谱探测器盲元的高精度检测，对热红外高光谱成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。
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