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公开(公告)号：CN118759696B
公开(公告)日：2025-04-29
申请号：CN202411101695.2
申请日：2024-08-12
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明涉及光学镜头领域，提供一种可见近红外光谱成像镜头，用于可见近红外光谱成像，从物面到像面依次包括：第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、光阑、第五透镜、第六透镜、第七透镜、第八透镜以及集成滤光片；第四透镜的靠近像面一侧为非球面，第六透镜的靠近像面一侧为非球面，第一透镜、第二透镜、第三透镜、第五透镜、第七透镜以及第八透镜为球面镜；第一透镜、第四透镜、第五透镜、第六透镜以及第八透镜为正透镜，第二透镜、第三透镜、第七透镜为负透镜。用以解决现有技术中针对可见近红外光谱的成像镜头存在结构复杂、成像质量差的缺陷、视场小的缺陷，本发明的方案可以通过将光阑设置在光路中央，控制光束出射角，形成像方远心光路，提高光谱成像的质量。
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公开(公告)号：CN118778225B
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411101675.5
申请日：2024-08-12
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明涉及光学镜头领域，提供一种短波红外光谱成像镜头，用于短波红外光谱成像，从物面到像面依次包括第一透镜、第二透镜、第三透镜、光阑、第四透镜、第五透镜、第六透镜、第七透镜以及集成滤光片；第一透镜、第三透镜以及第五透镜为负透镜，第二透镜、第四透镜、第六透镜以及第七透镜为正透镜；第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、第五透镜、第六透镜以及第七透镜为球面镜。用以解决现有技术中的短波红外光谱成像镜头加工难度以及装调检测难度高，应用场景受限的缺陷，本申请的方案中通过使用球面镜降低了镜头的加工难度以及装调检测难度，同时基于若干不同材料透镜的组合关系提高了成像镜头的成像质量，减小图像畸变。
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公开(公告)号：CN118759696A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202411101695.2
申请日：2024-08-12
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明涉及光学镜头领域，提供一种可见近红外光谱成像镜头，用于可见近红外光谱成像，从物面到像面依次包括：第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、光阑、第五透镜、第六透镜、第七透镜、第八透镜以及集成滤光片；第四透镜的靠近像面一侧为非球面，第六透镜的靠近像面一侧为非球面，第一透镜、第二透镜、第三透镜、第五透镜、第七透镜以及第八透镜为球面镜；第一透镜、第四透镜、第五透镜、第六透镜以及第八透镜为正透镜，第二透镜、第三透镜、第七透镜为负透镜。用以解决现有技术中针对可见近红外光谱的成像镜头存在结构复杂、成像质量差的缺陷、视场小的缺陷，本发明的方案可以通过将光阑设置在光路中央，控制光束出射角，形成像方远心光路，提高光谱成像的质量。
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公开(公告)号：CN110887563A
公开(公告)日：2020-03-17
申请号：CN201911124456.8
申请日：2019-11-18
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种高光谱面阵探测器坏元检测的方法，本方法首先进行成像光谱仪装机与图像数据采集，对获取的数据进行预处理和数据分布统计，提取统计数据的特征统计位置，对特征数据进行像元排序与高低拐点阈值提取，最后进行坏元的检测与标记。本发明可以对高光谱多类型面阵探测器的坏元进行检测，检测类型包括无响应、过响应、闪元、狭缝染灰等，解决了目前多谱段不同种类探测器多类型坏元检测的难题，对成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。
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公开(公告)号：CN118915277A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202410991968.9
申请日：2024-07-23
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明涉及光学镜头领域，提供一种长波红外光谱成像镜头，用于长波红外光谱成像，从物面到像面依次包括同光轴设置的光阑、第一弯月透镜、第二弯月透镜、第三弯月透镜、第四弯月透镜和第五弯月透镜、杜瓦窗口、集成滤光片；第一弯月透镜为正透镜，第二弯月透镜为负透镜，第三弯月透镜为正透镜，第四弯月透镜为正透镜，第五弯月透镜为负透镜；第一弯月透镜的靠近物面一侧为偶次非球面，第四弯月透镜的靠近物面一侧为偶次非球面。用以解决相关技术中的长波红外镜头在辐射定标方面表现不佳，进而会影响到成像的质量的缺陷，本申请的方案可以方便黑体定标以及实现和前端系统实现更好的匹配，达到高精度的定标要求，进而提高成像的质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110887563B
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN201911124456.8
申请日：2019-11-18
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种高光谱面阵探测器坏元检测的方法，本方法首先进行成像光谱仪装机与图像数据采集，对获取的数据进行预处理和数据分布统计，提取统计数据的特征统计位置，对特征数据进行像元排序与高低拐点阈值提取，最后进行坏元的检测与标记。本发明可以对高光谱多类型面阵探测器的坏元进行检测，检测类型包括无响应、过响应、闪元、狭缝染灰等，解决了目前多谱段不同种类探测器多类型坏元检测的难题，对成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。
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公开(公告)号：CN119738047A
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202510229434.7
申请日：2025-02-28
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明实施例提供一种基于宽视场红外成像系统的小像移成像方法，属于红外成像技术领域。该方法包括：基于宽视场红外成像系统，获取目标环境区域的图像数据集，并按照时间序列对所述图像数据集内的图像进行排序；根据所排序后的图像的分布特征，对所述图像数据集内的图像进行空间配准；采用宽幅低秩矩阵去噪算法，对空间配准后的所述图像数据集内的图像进行处理，以得到清晰图像。本方法不依赖于复杂且受限的机械式、光学式、电子式像移补偿手段，有效避免了因探测器特性或系统结构问题导致的适用性难题，同时克服了图像式像移补偿技术不成熟所带来的图像清晰度不足的缺陷。
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公开(公告)号：CN118999787A
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202410991997.5
申请日：2024-07-23
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明涉及光谱成像领域，提供一种全谱段成像探测系统，包括主镜、次镜、视场分离器、可见短波后光路系统、中长波后光路系统；可见短波后光路系统包括第一偏折镜、第二偏折镜、第三反射镜、第四反射镜以及第五反射镜；光依次经过主镜、次镜、第一偏转镜、第二偏转镜、第三反射镜、第四反射镜以及第五反射镜后进行可见短波波段成像；中长波后光路系统包括第三偏折镜、第四偏折镜、第六反射镜、第七反射镜以及第八反射镜；光依次经过主镜、次镜、第三偏转镜、第四偏折镜、第六反射镜、第七反射镜以及第八反射镜后进行中长波波段成像。用以解决现有技术中的星载大口径对地探测相机往往只能进行单一谱段的成像，不能满足高分辨率全谱段信息同步获取的缺陷，本申请的方案可以在一台载荷上完成全谱段的成像探测。
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公开(公告)号：CN111076815B
公开(公告)日：2020-11-20
申请号：CN201911124467.6
申请日：2019-11-18
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种高光谱图像非均匀性校正的方法，本发明首先获取成像光谱仪数据并进行数据预处理，然后对数据进行分布统计，利用不同分布位置的数据生成辐射校正系数，最后完成高光谱图像的非均匀性校正。本发明针对缺少非均匀性校正系数或系数失效导致的图像非均匀性校正的难题，本方法基本不会造成图像信息的损失，对成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。
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公开(公告)号：CN111076815A
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201911124467.6
申请日：2019-11-18
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种高光谱图像非均匀性校正的方法，本发明首先获取成像光谱仪数据并进行数据预处理，然后对数据进行分布统计，利用不同分布位置的数据生成辐射校正系数，最后完成高光谱图像的非均匀性校正。本发明针对缺少非均匀性校正系数或系数失效导致的图像非均匀性校正的难题，本方法基本不会造成图像信息的损失，对成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。
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