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公开(公告)号：CN114942070B
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202210259802.9
申请日：2022-03-16
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种适用于推扫式红外高光谱成像仪的盲元检测方法，涉红外高光谱遥感领域。所要解决的是推扫式红外高光谱成像仪的盲元检测问题。该方法步骤如下：(1)黑体数据获取；(2)基于黑体数据盲元检测；(3)基于盲元掩膜的数据修复；(4)基于红外高光谱成像数据自身闪元检测与数据修复。本发明充分利用红外高光谱数据的光谱连续特性，实现红外高光谱成像仪的盲元检测，是一种高效率的、准确性好的、稳定的红外高光谱成像仪的盲元检测方法。
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公开(公告)号：CN115329809A
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202210913240.5
申请日：2022-08-01
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开一种适用于红外光谱数据的光谱平滑方法，该方法步骤如下：(1)判断红外光谱数据，在光谱维上是否等间隔采样；(2)如果红外光谱数据为非等间隔采样，则对红外光谱数据进行等间隔重采样；(3)对等间隔采样红外光谱数据进行均值滤波；(4)计算均值滤波前后的光谱相似度；(5)判断光谱相似度是否在阈值范围之内。如果不在阈值范围之内，则继续做均值滤波；如果在阈值范围之内，则输出平滑后红外光谱数据。本发明的方法具有准确性好，易操作，参数容易确定等特点。
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公开(公告)号：CN114942070A
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN202210259802.9
申请日：2022-03-16
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种适用于推扫式红外高光谱成像仪的盲元检测方法，涉红外高光谱遥感领域。所要解决的是推扫式红外高光谱成像仪的盲元检测问题。该方法步骤如下：(1)黑体数据获取；(2)基于黑体数据盲元检测；(3)基于盲元掩膜的数据修复；(4)基于红外高光谱成像数据自身闪元检测与数据修复。本发明充分利用红外高光谱数据的光谱连续特性，实现红外高光谱成像仪的盲元检测，是一种高效率的、准确性好的、稳定的红外高光谱成像仪的盲元检测方法。
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公开(公告)号：CN112284535A
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN202010965487.2
申请日：2020-09-15
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种渐进式在轨推扫式中短波红外成像光谱仪暗背景去除方法，该方法步骤如下：(1)实验室内采集仪器所有可能的工作环境温度下所有积分时间的全幅暗背景数据；(2)根据实验室内获取的全幅暗背景数据计算校正系数矩阵；(3)结合在轨采集的全幅暗背景数据更新校正数矩阵；(4)在轨成像数据暗背景扣除。本发明的方法以扫式中短波红外成像光谱仪暗背景产生机理为基础，充分考虑了数据的完备性和仪器在轨运行时的衰减，是一种可持续的、准确性好的在轨推扫式中短波红外成像光谱仪数据暗背景去除方法。
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公开(公告)号：CN109632685B
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN201910021592.8
申请日：2019-01-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01N21/3504
Abstract: 本发明公开了一种基于双波段差分红外成像系统的工业气体排放探测方法，本发明基于气体分子振动而形成特有红外吸收光谱的特性，对目标场景内相邻两个极窄波段进行高灵敏度红外成像，通过差分检测实现场景内气体云团的探测。本方法具有探测距离远、作业效率高、识别精度准、全天时工作的优点，相对现有傅里叶红外光谱探测、商用可燃气体检测仪、主动激光探测等方法，能够探测气体云团的几何形态和浓度信息，并在探测效率上有明显优势。本系统稳定性强，集成度高，特别适用于工业污染气体排放监控、石油化工天然气泄漏探测、海上油田设备老化监控等领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110887563A
公开(公告)日：2020-03-17
申请号：CN201911124456.8
申请日：2019-11-18
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种高光谱面阵探测器坏元检测的方法，本方法首先进行成像光谱仪装机与图像数据采集，对获取的数据进行预处理和数据分布统计，提取统计数据的特征统计位置，对特征数据进行像元排序与高低拐点阈值提取，最后进行坏元的检测与标记。本发明可以对高光谱多类型面阵探测器的坏元进行检测，检测类型包括无响应、过响应、闪元、狭缝染灰等，解决了目前多谱段不同种类探测器多类型坏元检测的难题，对成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。
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公开(公告)号：CN106441808A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610895419.7
申请日：2016-10-14
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01M11/00
CPC classification number: G01M11/00
Abstract: 本发明涉及一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置和方法，本发明装置包括黑体控制器、标准黑体、热红外高光谱成像仪和计算机模块，该装置通过步骤(1)将热红外高光谱成像仪对准标准黑体并充满视场，通过黑体控制器将标准黑体温度设置为N个不同的温度，待温度稳定后发射的辐射光被热红外高光谱成像仪接收，计算机模块控制热红外高光谱成像仪采集N组数据；(2)将N组数据按照温升进行波段叠加，生成温升黑体热红外高光谱数据；(3)采集非盲元温升光谱，通过光谱匹配途径进行盲元检测，标记盲元生成盲元检测结果。本发明从光谱维角度考虑实现热红外高光谱成像仪的盲元高精度检测，对热红外高光谱成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。
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公开(公告)号：CN105372040A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201510864376.1
申请日：2015-12-01
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明涉及一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置和方法，本发明装置由黑体控制器、辐射黑体、热红外高光谱成像仪和计算机模块组成，其中计算机模块包含数据采集单元和盲元检测单元，利用该装置通过步骤(1)将热红外高光谱成像仪对准黑体并充满视场，通过黑体控制器将黑体温度设置为N个(N≥30)不同的温度，待温度稳定后数据采集单元控制成像仪采集N组数据；(2)将N组数据按照温升进行波段叠加，生成温升黑体热红外高光谱数据；(3)采集非盲元温升光谱，通过光谱匹配途径进行盲元检测，标记盲元生成盲元检测结果。本发明从光谱维角度考虑实现热红外高光谱成像仪的盲元高精度检测，对热红外高光谱成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。
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公开(公告)号：CN104535183A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201410748416.1
申请日：2014-12-09
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种适用于热红外高光谱成像仪的光谱定标系统，定标系统中，碳硅棒可以发出稳定的热红外辐射，经过聚焦镜、反射镜、扩束镜进入单色仪，经过单色仪分光之后出射高光谱分辨率的热红外辐射，被热红外高光谱成像仪接收，采用波长扫描法进行光谱定标，获得各个波段的光谱响应函数。碳硅棒对热红外高光谱成像仪进行波长扫描光谱定标之后，再以波长可调式CO2红外激光器发出的单色光束为光源，通过变换红外激光器的出射波长，选择波长可调式CO2激光器的多个特征波长，用特征波长光谱定标法对热红外高光谱成像仪进行绝对定标。本发明实现了高光谱分辨率的热红外高光谱成像仪的快速光谱定标，光谱定标误差达到1nm以下。
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公开(公告)号：CN115290592A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202210913242.4
申请日：2022-08-01
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01N21/3504 , G06F17/18
Abstract: 本发明公开一种适用于雾天的红外高光谱气体成像仪外场测试方法，涉及红外高光谱技术领域；所要解决的是雾天情况下的红外高光谱气体成像仪的外场测试问题；该方法步骤如下：(1)能见度测量；(2)红外高光谱气体成像仪作用距离计算；(3)布设测试场景；(4)风源设置；(5)安装气体传感网；(6)测试场景三维重建；(7)数据同步测量；(8)气体三维浓度场模拟与校正；(9)气体柱浓度反演误差计算。本发明的方法充分考虑了雾天风速较小的情况，采用工业风扇提供风源促进待测气体扩散，是一种可行的、准确性好的红外高光谱气体成像仪外场测试方法。
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