机载倾斜相机摄影装置
    51.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1825203A

    公开(公告)日:2006-08-30

    申请号:CN200610025045.X

    申请日:2006-03-24

    Abstract: 一种机载倾斜相机摄影装置,包括:台数为2-5m多台高空间分辨率面阵CCD相机;一姿态测量装置,提供影像姿态和位置参数;一数据存储设备;一计算机控制系统,负责对以上部件进行数据采集控制以及存储维护,并发送同源触发脉冲启动该多台面阵CCD相机,从而实现同步采集资料。本发明具有获取不同角度的高空间分辨率航空影像、工作效率高和稳定可靠等特点。

    一种改进型奥夫纳尔检验超大口径凹非球面镜的光学系统

    公开(公告)号:CN110779462B

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN201911093645.3

    申请日:2019-11-11

    Abstract: 本发明公开了一种改进型奥夫纳尔检验超大口径凹非球面镜的光学系统。由检测设备发出光线经第一补偿透镜和第二补偿透镜透射,至待检凹非球面镜自准后返回。光学系统选用大入射光线孔径角,第一补偿透镜承担较大的非球面法线像差,大大提高了补偿能力,在小口径比条件下实现了非球面球差的平衡;补偿器口径与被检非球面口径比非常小,仅为0.025;采用两片式补偿器结构,补偿透镜数量少、全球面设计,打破了为了检验大口径非球面将补偿系统非球面镜化的设计局限,方案简单,加工周期更短;检验光路像质优良,波像差达到PV值优于0.1λ,适合高精度的非球面面形加工。改进型奥夫纳尔检验可以实现14m超大口径、1:1.43超大相对孔径的非球面镜检验。

    反射长焦望远镜装调中测量焦距的刀口装置与测量方法

    公开(公告)号:CN110793755B

    公开(公告)日:2025-03-11

    申请号:CN201911093495.6

    申请日:2019-11-11

    Abstract: 本发明公开了一种反射长焦望远镜装调中测量焦距的刀口装置与测量方法。在大口径望远镜装调过程中,采用一个带有可读数的高精度五维调整架的刀口装置,附带装调过程中的用到的激光干涉仪和光电自准直仪,实现了在大口径反射式长焦望远镜装调过程中高精度测试望远镜系统的焦距,解决了传统大口径反射式长焦望远镜装调过程中无法精确控制主次镜焦距问题,大大提高了装调精度与光校效率。

    一种用于微量地外天体矿物样品的双向反射光谱测量装置

    公开(公告)号:CN118376594B

    公开(公告)日:2024-11-19

    申请号:CN202410815880.1

    申请日:2024-06-24

    Abstract: 本发明涉及光谱测量技术领域,尤其涉及一种用于微量地外天体矿物样品的双向反射光谱测量装置;包括单色照明模块、显微光谱测量模块、样品承载模块和控制与数据分析模块,单色照明模块设有出光口,显微光谱测量模块设有入光口,样品承载模块位于出光口和入光口之间,控制与数据分析模块分别与单色照明模块、显微光谱测量模块、样品承载模块电性连接;样品承载模块用于放置待测样品并对待测样品进行防护;通过同步控制单色照明模块和显微光谱测量模块,实现对样品承载模块中的微量待测样品获取不同谱段的光谱数据,且样品承载模块还具有防护作用,实现地外天体微量样品的双向反射光谱测量,且实现具备样品防护能力的双向反射光谱测量。

    一种基于曝光参数序列的成像光谱自适应曝光系统与方法

    公开(公告)号:CN118803432A

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202410777580.9

    申请日:2024-06-17

    Abstract: 本发明公开了一种基于曝光参数序列的成像光谱自适应曝光系统与方法,涉及成像光谱仪技术领域。方法包括基于预选的特征曝光参数Pn(λ′),获取特征波长λ′对应的光谱图像数据;计算获取到特征波长λ′的光谱图像的均值#imgabs0#比较均值#imgabs1#与设定的阈值DN′λ',输出最优曝光参数序列对应的序号n;基于最优曝光参数序列En中所有探测波长对应的曝光参数Pn(λ)对各探测波长λ进行成像探测,获取各探测波长λ的光谱图像,完成成像光谱自适应曝光操作。系统包括自适应曝光参数调控模块、光学器件、分光器件与探测器。本发明与常规成像光谱自动曝光方法相比提升了光谱采集速度,简化了定标步骤,降低了定标难度,确保了获取的光谱数据的定量化精度。

    一种快速测量激光测距系统性能的装置及方法

    公开(公告)号:CN108693516B

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN201810945377.2

    申请日:2018-08-20

    Abstract: 本发明公开了一种快速测量激光测距系统性能的装置及方法,该发明利用分色片的分光功能,将带有刻线的分划板与激光光纤端面等距离的固定到分色片两侧,通过光纤将延迟回波发生器组件产生的激光经过平行光管发射至被检设备,同时在平行光管焦面放置光纤输出的信标光源作为指示光,来实现快速测量激光测距系统性能。该装置及方法可用于激光测距系统中的激光发散角、光斑能量以及激光测距系统测距能力的检测,还可用于标定被检设备激光收发的光轴偏差。该发明的装置及方法也适用于各种激光测距系统性能的实时标定,也适用于主被动结合的光电系统收发同轴检测等领域,该系统焦面模块固定、定标方法简单、价格低廉。

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