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公开(公告)号：CN107339943B
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201710537207.6
申请日：2017-07-04
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明提供的是一种偏振复用的共光路自校准薄膜厚度测量装置及测量方法。包含光源输出模块、膜厚测量探头模块、解调干涉仪模块、偏振分束模块以及采集与控制模块。本发明采用偏振复用技术，两探头使用正交态偏振光。测量探头能实现传输光线的透射和反射，无待测薄膜时可实现两探头绝对距离H的测量；待测薄膜安置两探头间，实现两探头与待测薄膜前后表面的绝对距离H1和H2的测量；待测薄膜厚度d可由d＝H‑(H1+H2)确定。本发明实现不需要标定物即可对待测薄膜厚度进行测量，共光路的设计克服了测量过程中由于系统内部机械不稳定和外部环境变化带来的影响，具有自校准、特征白光干涉峰识别简单、动态范围大、测量结果可溯源等优点。
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公开(公告)号：CN105841928B
公开(公告)日：2018-08-17
申请号：CN201610157528.9
申请日：2016-03-18
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种光纤偏振器件的高消光比测量方法。一种光纤偏振器件的高消光比测量方法，在待测高消光比偏振器件即Y波导的输入、输出端分别焊接两段不同长度的保偏光纤，构成带有定量串扰标记的测量组件；焊接时利用集总式消光比测试仪对焊接点的消光比进行定量控制并记录其测量值，同时对起偏器尾纤、检偏器尾纤、高消光比偏振器件尾纤、焊接保偏光纤的长度进行设定；将测量组件接入分布式光纤偏振串扰测试装置中，利用外接光纤焊接点之间的二阶串扰测量值对待测偏振器件消光比进行标定和自校准。在测量过程时，可对串扰标记和测量峰进行同步测量，杜绝测量环境改变和器件连接精度等引入的误差。
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公开(公告)号：CN105784336B
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201610265283.1
申请日：2016-04-26
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种光纤器件的透射和反射性能同时测试的装置及方法。向待测器件中注入宽谱光，产生能反映其透射和反射性能的两路光信号，并将光信号注入到光学相干域偏振测量技术透射性能测试结构和光学低相干反射技术的反射性能测试结构中，使用共用延迟部件进行扫描，对两路光信号进行测量，同时得到待测光纤器件的透射和反射特征。在使用同一光源和同一延迟部件的情况下，光纤器件的透射和反射性能测试装置可精确测量待测器件的偏振性能、色散特性、损耗特性、相干光谱特性等特征参数。本发明具有集成程度高、测试参数全、抗电磁干扰、器件组成简单等优点，可广泛用于保偏光纤、集成波导调制器等光学器件性能的高精度测量与分析。
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公开(公告)号：CN105157733B
公开(公告)日：2017-11-21
申请号：CN201510293444.3
申请日：2015-06-02
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01D5/26
Abstract: 本发明设计属于光纤干涉仪测量领域，具体涉及到一种改进的生成载波相位PGC解调方法。改进的生成载波相位PGC解调方法，用干涉仪后端的3×3耦合器输出的第一路固定相移FPS信号和第二路FPS信号进行FPS算法相位解调；第一路PGC信号采用相位生成载波算法进行解调，最后将两种算法解调结果进行合理融合。本发明将基于3×3耦合器的固定相移法与PGC算法相结合，使用PGC算法解调低频小信号，使用FPS算法输出高频大信号，这样可以在保持原有的采样率的情况下提高系统的相位分辨率，增大动态范围最终实现保持采样率不变的情况下，增加相位分辨率与动态范围，消除伴生调幅影响。
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公开(公告)号：CN107289922A
公开(公告)日：2017-10-24
申请号：CN201710050099.X
申请日：2017-01-23
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01C19/72
Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种共光路的光纤陀螺环正反向同时测量装置。一种共光路的光纤陀螺环正反向同时测量装置，包括光源装置、测试装置11、光程相关器12、光电信号转换与信号记录装置13；光程相关器12包括由第1六端口耦合器121、第2六端口耦合器122、第1准直透镜123、第2准直透镜124和扫描台125组成。本发明减少了光纤陀螺环偏振耦合测量装置的测试时间，提高测量效率，消除温度等环境因素的影响，能够准确地获得光纤陀螺环的偏振耦合对称性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104280217B
公开(公告)日：2017-10-03
申请号：CN201410535211.5
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导双通道光学性能测量装置。Y波导双通道光学性能测量装置，包括高偏振宽谱光源、待测Y波导器件、光学干涉扫描解调装置、偏振串音检测与记录装置：待测Y波导的第一输出保偏尾纤、第二通道输出保偏尾纤分别与光学干涉扫描解调装置的第一输入端、第二输入端连接，构成马赫‑泽德干涉仪；光学干涉扫描解调装置依次由光程发生器、光程扫描装置和光电探测器连接构成。该测试装置使用Y波导作为白光干涉仪的一部分测试其两个输出通道光学性能，两个通道不会交叉干扰，这样使测试结果更加准确。
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公开(公告)号：CN106989904A
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201710284514.8
申请日：2017-04-25
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种保偏光纤消光比的测量方法。根据待测光纤内的耦合情况，依次测量得到干涉峰与主峰的半高全宽的宽度、左右端点位置和能量，利用干涉峰能量与主峰能量的比值计算得到光纤内串扰点的消光比；计算低信噪比下的干涉峰的能量时，需要测量干涉信号中的噪声功率，计算干涉峰能量中包含的噪声能量，最后消除噪声在测量过程中引入的偏差；该方法测量精度高，测量结果消除色散影响，可以实现低信噪比下高消光比的精确测量，可广泛应用于对消光比测量要求高的光学器件的分析。
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公开(公告)号：CN104280216B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201410535202.6
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置及其Y波导偏振串音识别与处理方法。Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置，包括高偏振宽谱光源、待测集成波导调制器即Y波导、双通道光耦合装置、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置，双通道光耦合装置第一输入端，第一输入端连接Y波导第一通道输出端、第二通道输出端，将两个通道的光信号合并为一路，由输出端输出送入光程解调装置。该测试装置使Y波导的测试更加简便易行，其装置将待测试器件的两个输出通道光信号耦合为一路，然后仅仅用一套解调干涉仪即可实现双通道性能同时测量。这很好保证了测试的一致性，提高了测试精度。
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公开(公告)号：CN103746745B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201310739371.7
申请日：2013-12-30
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: H04B10/25
Abstract: 本发明属于光纤传感与光学测量领域，具体涉及到了一种大量程光学延迟装置。大量程光学延迟装置，由阶跃型光程倍增装置与连续式光程扫描装置通过传输光纤连接而成；其中，连续式光程扫描装置的光程连续扫描范围为0～X0；阶跃型光程倍增装置（110）由n个长度固定的不同延迟光路a0、a1……an组成，延迟光路的光程分别为L0、L1……、Ln，L0=0，n=0，1，2，……，相邻延迟光路的光程增加满足Ln+1‑Ln＜X0，X0‑d＜Ln+1‑Ln＜X0，且Ln+2‑Ln+1≤Ln+1‑Ln，本发明将固定延迟模块和可变光程延迟机构组合在一起，实现了任意光程的连续扩展；通过本装置实现了光程的无缝接续，借助于扫描台的高精度，满足了在同一精度下的连续扫描功能。
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公开(公告)号：CN106441226A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610810938.9
申请日：2016-09-08
Applicant: 哈尔滨工程大学
CPC classification number: G01C9/00 , G01C2009/066 , G01D5/35325 , G01D5/35329 , G01D5/35387
Abstract: 本发明设计属于光纤干涉仪测量领域，具体涉及到一种基于复合干涉仪结构的测斜装置。该装置核心光路为复用干涉仪20，该光路封装于传感探头1中；复用干涉仪20光路连接关系为宽谱光源209连接至第二环形器222的a端口，第二环形器222的b端口连接至第一环形器221的a端口；第一环形器221的b端口连接至1号光栅261，之后通过1号光栅尾纤261a连接至2号探测器202。本发明将4个干涉仪进行复用，体积小，质量轻，节约了制作成本，提高系统集成度。抗电磁干扰能力强，能够适应几百度高温。灵敏度高，动态范围大，使用干涉信号相位作为测量标准，对加速度的频域分辨率最小可达到ng量级。
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