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公开(公告)号：CN105371992A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201510929982.7
申请日：2015-12-15
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01K15/00
CPC classification number: G01K15/005
Abstract: 本发明涉及一种温度传感器响应一致性标定测试系统，包括：大功率二氧化碳激光器1、导光管2、光学反射金属碗3、光学平面反射镜4、测试平台机构5、真空仓6和待标定温度传感器7，所述真空仓6置于所述测试平台机构5上，所述真空仓6中设置有光学反射金属碗3、光学平面反射镜4及待标定温度传感器7，所述大功率二氧化碳激光器1与导光管2连接。本发明保证了对待测温度传感器的温度响应曲线的输入变量保持一致，进而绘制的温度响应曲线只收温度传感器本身的特性影响，排除了外界环境对其的影响。
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公开(公告)号：CN119124346A
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN202310696319.1
申请日：2023-06-12
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种真空紫外滤光片式亮度计，包括依次设置在光路中的光阑(2)、滤光片轮(5)、探测器(1)、放大器(3)和采集器(4)；光路中的光阑(2)获取待测光源发出的待测光的光辐射；滤光片轮(5)用于对入射光进行分光，得到准单色光；探测器(1)用于对所述光辐射进行光电转换后输出电信号；放大器(3)用于对所述电信号进行放大；采集器(4)对放大后的电信号进行采集，根据采集的电信号计算待测光的光谱辐射亮度值。本发明用于对真空紫外波段115nm～200nm的辐射亮度进行测量，并根据采集的电信号计算待测光的光谱辐射亮度值。
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公开(公告)号：CN118165271A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202211544622.1
申请日：2022-12-04
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: C08G77/58 , C09D183/14 , C09D7/61 , C09D5/18
Abstract: 本发明提供一种耐高温高发射率涂层及其成型方法，其组成包括高发射率高吸收填料、耐高温聚合物基体、添加剂和溶剂，其中，所述耐高温聚合物基体为多杂原子掺杂有机硅树脂，其主链为Si‑O‑Si结构，所述杂原子为非金属元素和/或金属元素，所述杂原子位于主链上。本发明可以提高涂层的固化温度，使得涂层具有更高的聚合程度和交联程度，极大降低了真空条件下涂层中小分子的挥发放气，避免了涂层对光学镜组的污染。
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公开(公告)号：CN118126559A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202211544688.0
申请日：2022-12-04
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: C09D5/32 , C09D183/04
Abstract: 本发明提供一种可喷涂超黑涂层及其成型方法，其组成包括填料、聚合物基体、添加剂和溶剂，其中，所述填料为选用微纳结构碳材料作为原料，通过原位碳纳米管表面改性所形成的超黑材料，并通过溶剂分散的方式形成悬浮分散液。本发明极大提高了超黑涂层吸收能力，为碳复合结构材料性能调控和超黑涂料应用提供了充分的条件。
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公开(公告)号：CN116266529A
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN202111539926.4
申请日：2021-12-16
Applicant: 北京振兴计量测试研究所 , 复旦大学
Abstract: 本发明涉及真空紫外技术领域，公开了一种真空紫外放电管。其中，该真空紫外放电管包括出光窗口、可移动滤光装置、光阑筒、电极盒和泡壳，所述出光窗口与所述泡壳形成封闭的放电管腔体，所述光阑筒和所述电极盒设置在所述放电管腔体内，所述可移动滤光装置设置在所述光阑筒上，所述电极盒用于产生气体放电形成真空紫外‑紫外辐射，所述可移动滤光装置移动至所述光阑筒的出光口时，所述真空紫外‑紫外辐射依次通过所述光阑筒和所述可移动滤光装置后从所述出光窗口射出，所述可移动滤光装置从所述光阑筒的出光口移开时，所述真空紫外‑紫外辐射通过所述光阑筒后从所述出光窗口射出。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116165170A
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202111412977.0
申请日：2021-11-25
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01N21/55
Abstract: 本发明提供一种光谱发射率测量装置和方法，包括真空仓、光谱仪、辐射采集光路子系统、控制系统、测量子系统一、测量子系统二和数据处理系统，辐射采集光路子系统、测量子系统一和测量子系统二位于真空仓中，测量子系统一、测量子系统二和辐射采集光路子系统与控制系统链接；真空仓上设置窗口，将光透过窗口传入到光谱仪中；测量子系统一为基于能量法测量子系统，测量子系统二为基于反射法的测量子系统，控制系统控制辐射采集光路子系统采集所述测量子系统一或测量子系统二的辐射光传送给所述的光谱仪中，光谱仪将获得的辐射光转化为数字信号后传送给数据处理系统进行处理，获得样本的光谱发射率。本发明实现了宽温度测量范围下反射率的准确测量。
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公开(公告)号：CN114689181A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202011576167.4
申请日：2020-12-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种多光谱温度测量装置、系统及其测量方法，装置包括：物镜单元收集待测目标中固体颗粒的第一辐射光束后提供至辐射衰减单元；辐射衰减单元对所述第一辐射光束进行衰减后得到第二辐射光束并提供给狭缝机构；狭缝机构对所述第二辐射光束的角度进行限位以得到第三辐射光束并将所述第三辐射光束照射到凹面光栅上；凹面光栅对所述第三辐射光束进行光谱调制以获得光谱辐射；线阵探测器接收所述光谱辐射并根据所述光谱辐射输出信号值至处理单元；处理单元根据所述信号值获取待测目标的光谱辐射能量值及目标温度。该装置结构简单，没有活动部件，具有较高的可靠性，同时减少了不必要的光学元件，增强了系统的能量利用率，减小了系统的体积。
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公开(公告)号：CN114543599A
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202011327193.3
申请日：2020-11-24
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: F42B15/01
Abstract: 本文公开了一种激光目标模拟测量装置及测量方法，所述装置包括激光回波模拟源、激光测量探测器和控制系统；所述激光回波模拟源用于在所述控制系统的控制下发射预设功率的激光脉冲；所述激光测量探测器包括激光处理组件和激光参数测量组件；所述激光处理组件用于接收所述激光回波模拟源发射的激光脉冲，对所述激光脉冲进行汇聚处理，以形成汇聚光源；所述激光参数测量组件用于接收所述汇聚光源，进行光电信号转换获取电信号波形，将所述电信号波形发送给所述控制系统；所述控制系统用于接收所述激光参数测量组件发送的电信号波形，并基于量值溯源方法获得所述激光脉冲的参数，通过本发明能实现对激光脉冲参数的快速定量化测量。
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公开(公告)号：CN114383738A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202011128753.2
申请日：2020-10-22
Applicant: 中国兵器工业试验测试研究院 , 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明公开了一种用于外场目标特性校准的装置及光学系统，装置包括：光学调制器件、主离轴光学元件以及至少一个次光学元件；光学调制器件用于将标准红外辐射源发出的红外光进行调制；至少一个次光学元件用于将调制后的红外光进行折转；主离轴光学元件用于将折转后的红外光反射形成平行红外光；该系统能够实现光学目标的模拟，各个光学元件的设计能够确保高低温环境下的低变形量，适用的温度范围宽，适用于外场校准，确保良好像质的要求，校准准确性高，支撑结构的设计，能够保证各部分的结构和位置关系在环境温度变化时低变形量，保证面型精度，整体结构轻型化设计，减小系统体积与重量。
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公开(公告)号：CN114353968A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202011059644.X
申请日：2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种狭小空间温度测量现场校准方法及校准系统，所述方法包括：将具有第一发射率的第一材料涂覆于所述被测对象的第一表面，并将具有第二发射率的第二材料涂覆于所述被测对象的第二表面；所述被测对象还具有第三表面；对被测对象的第一表面、第二表面以及第三表面同时进行红外热成像；分别接收所述第一表面的第一辐射亮度，所述第二表面的第二辐射亮度以及所述第三表面的第三辐射亮度；根据所述第一辐射亮度，第二辐射亮度以及第三辐射亮度对被测对象进行校准。上述方法适合于内部狭小空间范围内的被测对象的实际温度进行准确测量，最终可以实时监测被测对象的真实温度。
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