公开(公告)号：CN106485741A

公开(公告)日：2017-03-08

申请号：CN201610911424.2

申请日：2016-10-19

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨宪强 ,  高会军 ,  白立飞 ,  孙昊 ,  刘鑫 ,  许超 ,  张智浩

IPC: G06T7/33 ,  G06T7/13

Abstract: 一种保留局部结构的非刚点集配准的方法，属于图像处理技术领域，涉及一种配准方法。解决了现有点集配准方法配准精度低，鲁棒性差的问题。本发明利用边缘特征检测算子获取参考图像和目标图像的边缘图像，对两幅边缘图像提取离散点，并定义为模板点集和目标点的点集，利用能量函数获得使能量函数E(P,f)最小的变换函数 和对应性矩阵 采用高斯混合模型建模；获取相应性矩阵P的限制项Ec(P)和相应性矩阵P的距离测量项Ed(P,f)；利用连接邻域定义局部结构，建立空间变换f限制项Et(f)模型；获得最终能量函数E(P,f)；利用EM算法求解满足公式最终能量函数E(P,f)最小的最优变换函数 和对应性矩阵 完成保留局部结构的非刚点集配准。本发明适用于点集配准。

公开(公告)号：CN106485699A

公开(公告)日：2017-03-08

申请号：CN201610842936.8

申请日：2016-09-22

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 高会军 ,  杨宪强 ,  白立飞 ,  孙昊 ,  刘鑫 ,  许超 ,  张智浩

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/33

CPC classification number: G06T7/0004

Abstract: 本发明提供一种定位精度高、实时性好及对光照具有较高鲁棒性的基于点匹配的基准标志定位方法，属于图像处理技术领域。包括如下步骤：步骤一：离线获取表征Mark点形状的关键顶点；步骤二：在线获取待定位Mark点的图片，进行角点或中心点检测，得到Mark点的角点或中心点；步骤三：对步骤二检测到的角点，进行聚合，并提取亚像素角点；步骤四：建立从步骤三中提取的亚像素角点或步骤二得到的中心点变换至步骤一得到的相应关键顶点的空间变换函数，利用配准方法，求取建立的空间变换函数的参数，即：获得待定位Mark点的图片的Mark点定位信息。本发明用于SMT对PCB板的Mark点的定位。