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公开(公告)号：CN119653877A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411753391.4
申请日：2024-12-02
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
Abstract: 本发明提供的一种全介质共振增强型光电探测器及其制作方法，属于微纳加工和硅基光电探测器领域。该增强型光电探测器包括底层SOI衬底；置于所述衬底上方的第一Si掺杂层；置于所述第一Si掺杂层上方的半导体吸收层，所述半导体吸收层内部设计为周期性层状人工单元，入射光入射后在该层实现了显著地局域场增强，并产生光生载流子；置于所述半导体层上方的第二Si掺杂层；置于最上层用于保护超构表面的沉积钝化层。本发明提供的基于全介质超构表面增强的高速光电探测器可以提高探测器的响应度，同时解决响应带宽与响应度的相互制约。
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公开(公告)号：CN119245628A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411408940.4
申请日：2024-10-10
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
Abstract: 本发明属于导航定位领域，具体涉及了一种基于混合工艺的微型多源导航模块，旨在解决难以实现可靠定位，系统功能分立、体积大、功耗高、定制性强、通用性差、成本高及生产周期长的问题。本发明包括：GNSS模块用于接收多路的GNSS射频信号并至少完成信号变频、转换、解算等功能；接口模块用于接收多种传感器数据并发送至预处理模块；预处理模块用于对多种传感器数据进行预处理，并发送至多源信息处理模块；多源信息处理模块用于进行数据融合，完成多源融合解算并输出最终定位结果；多源信息处理模块还用于数据转换；GNSS模块先通过Fan‑out集成后再集成在基板，其他模块集成在基板上。本发明提高了集成度，减小了体积，提供长时、高精度、高可靠导航定位服务。
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公开(公告)号：CN118585480A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410632741.5
申请日：2024-05-21
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
IPC: G06F15/163 , G06F13/16 , G06F13/28 , G01S7/41 , G01S13/90
Abstract: 本发明提供了一种高效能视频SAR处理微系统及其并行实现方法，图像数据在双通道DDR3和DSP之间交互完成数据的成像处理，DDR3存储器分为两个缓冲区；DSP的每个内核均在DSP的内部缓存设有四个大小相同的缓冲条，四个缓冲条形成两组Ping‑Pong结构，每组Ping‑Pong结构分别对接一个缓冲区，通过EDMA方式完成在缓冲区的顺序取数和数据转置存储，每组中的两个缓冲条交替完成数据传输；DDR3存储器的两个缓冲区内图像数据均分为若干行，每行数据大小与缓冲条大小相同，相邻两行数据以Ping‑Pong形式分别进行数据传输，并在内核进行数据处理，将前一个内核所产生的EDMA数据传输完成标志位作为后一个内核数据传输的触发信号，各个内核依次进行数据传输，并行完成数据处理，优化数据传输时间。
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公开(公告)号：CN118540958A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410368360.0
申请日：2024-03-28
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司 , 清华大学
IPC: H10B80/00 , H01L23/12 , H01L23/488 , H01L23/498 , H01L23/52 , G01D21/02 , G01D11/00 , G01D11/30
Abstract: 一种多通道传感通用微系统，由多种传感器、FPGA电路裸芯片、FPGA配置存储器裸芯片、AD转换电路裸芯片、基板、引出端组成，FPGA电路裸芯片、FPGA配置存储器裸芯片、AD转换电路裸芯片都组装在基板上，并根据功能设计在基板上进行互联，基板上另外设计引出端，用以同印制电路板实现物理连接，基板上同时提供若干焊盘，将FPGA部分IO、FPGA给出的时钟、AD的模拟输入端、电源和地连接到焊盘上，使得多种传感器可以直接安装到基板上，与前述部分共同组成多通道传感微系统。本发明所述的多通道传感通用微系统可用于工业控制、航空航天、医疗等多个领域的感知与处理系统中，其余部分制造完成后，仅通过更换所需的传感器，即可形成不同的多通道传感微系统。
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公开(公告)号：CN116609637A
公开(公告)日：2023-08-18
申请号：CN202310476572.6
申请日：2023-04-27
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 一种针对微系统内FPGA及FLASH单元的测试方法，采用由PXI测试仪、多个通用IO测试板卡以及测试夹；PXI测试仪对测试向量进行编码，控制通用IO板卡提供测试通道，测试夹具保障测试对象的电气连接。测试系统具备针对测试对象的自动化测试能力，主要包含以SELECTMAP模式对FPGA编程的能力；以测试向量的形式提供FPGA、FLASH的测试激励的能力；采集并判断FPGA、FLASH测试响应的能力。此外，在FLASH测试过程中，可以使用专用测试适配板进行多路并行测试，有效减少FLASH测试时间，提高测试效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111130545B
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN201911216273.9
申请日：2019-12-02
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明涉及一种数模混合微系统DAC/ADC单元回环测试系统，属于集成电路测试领域；包括上位机和测试板；其中，测试板包括数模混合微系统和带通滤波模块；所述数模混合微系统包括ADC单元、DAC单元、FPGA单元、Flash模块、DSP单元和DDR2模块；其中，FPGA单元包括数字下变频模块和数字上变频模块；本发明通过微系统ADC单元采集由信号回环模块处理的输入信号，将输入信号由模拟信号转换为数字信号；微系统FPGA单元对微系统ADC单元采样输出数据进行采集、存储及处理，得出微系统ADC单元的回环数据。
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公开(公告)号：CN114966366A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210472219.6
申请日：2022-04-29
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 一种针对信息处理微系统总线接口的测试系统及测试方法，基于信息处理微系统内部大容量逻辑存储单元、可编程单元、高性能运算单元构建总线接口测试配合电路，搭建具备电源供给、时序同步能力的总线接口测试设备，开发具备测试开发、测试运行、数据分析和辅助管理功能的测试主控单元，该测试主控单元与微系统主控单元配合进行测试，通过运行微系统端测试程序与测试设备端测试程序，用测试夹具将测试设备与信息处理微系统上待测总线接口连接起来，实现信息处理微系统总线接口通信功能测试。本发明有效提高了信息处理微系统总线接口功能测试效率，可用于信息处理微系统大批量生产测试，降低生产成本，可以广泛应用于各类型微系统的总线接口功能测试。
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公开(公告)号：CN112630631A
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：CN202011529550.4
申请日：2020-12-22
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/317 , G01R31/28 , H04L12/26
Abstract: 本发明提供了一种针对数字信号处理微系统的1553B通信测试方法，发送测试过程中，利用微系统内嵌FPGA单元生成测试数据，配合1553B板卡及上位机实现微系统的1553B数据发送，上位机接到数据后，将数据通过串口发送至微系统DSP单元，DSP单元通过微系统内数据总线将测试数据发送至FPGA，FPGA对测试数据进行比对，并进行测试结果判定；在接收测试过程中，利用微系统内嵌FPGA单元生成通信测试数据，并通过数据总线发送给DSP单元，DSP单元通过串口将测试数据上传至上位机，由上位机控制1553B板卡，将测试数据发送至微系统1553B接口，并利用微系统内嵌FPGA单元搭建自测试电路，完成1553B测试数据的采集与校对，最终输出测试结果。
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公开(公告)号：CN112506852A
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN202011405589.5
申请日：2020-12-02
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于系统级封装的动态可重构智能微系统，包括：处理器单元、可编程单元、第一存储器和第二存储器；其中，所述处理器单元包括低速通信接口、高速通信接口、DDR接口、ROM接口、SRAM接口、通用IO模块和IO空间；所述可编程单元包括配置接口、可编程逻辑资源、高速收发接口、可编程IO接口和可选配置接口。本发明满足了航天装备对电子系统小型化、低功耗、智能化的迫切需求。
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公开(公告)号：CN111130545A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201911216273.9
申请日：2019-12-02
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明涉及一种数模混合微系统DAC/ADC单元回环测试系统，属于集成电路测试领域；包括上位机和测试板；其中，测试板包括数模混合微系统和带通滤波模块；所述数模混合微系统包括ADC单元、DAC单元、FPGA单元、Flash模块、DSP单元和DDR2模块；其中，FPGA单元包括数字下变频模块和数字上变频模块；本发明通过微系统ADC单元采集由信号回环模块处理的输入信号，将输入信号由模拟信号转换为数字信号；微系统FPGA单元对微系统ADC单元采样输出数据进行采集、存储及处理，得出微系统ADC单元的回环数据。
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