一种用于扫描电镜真空环境的高温测试装置

    公开(公告)号:CN105043572B

    公开(公告)日:2018-03-16

    申请号:CN201510488027.4

    申请日:2015-08-10

    Abstract: 本文公开了一种用于模拟扫描电镜真空环境的高温测试装置,测试在高、低真空环境及大气环境(10‑5~105Pa)下,目标点的温度分布,并可测试施加热防护措施后对目标测试点温度降低的效果,测温范围为‑40~1600℃。该测温装置包括:真空室及真空装置,热电偶测温组件,电极法兰组件,支撑法兰组件,加热台装置,及热防护挡板。本装置结构设计简单,测温精度高,测温范围广,适用于测试不同类型扫描电镜及真空设备中的温度分布。

    一种扫描/透射电子显微镜用热驱动单轴拉伸/压缩变形装置

    公开(公告)号:CN104764660A

    公开(公告)日:2015-07-08

    申请号:CN201510142588.9

    申请日:2015-03-29

    Abstract: 一种扫描/透射电子显微镜用热驱动单轴拉伸/压缩变形装置属于材料力学性能-显微结构一体化原位表征仪器设备领域,实现微纳尺度材料变形和显微结构、物理性能演化的一体化研究。利用扫描电镜加热台或透射电镜加热样品杆,对通过腐蚀加工的、金属V型梁进行加热,使V型梁发生热膨胀。V型梁由多根结构对称的细梁组成,单根梁发生热膨胀而在应力诱导下发生弯曲变形,由于细梁的对称结构,V型梁可以实现对样品的单轴变形。通过改变V型梁的几何结构实现对样品的单轴拉伸和单轴压缩。通过控制V型梁的夹角、三维几何尺寸、加热温度和速率,调节V型梁的输出力、位移和样品变形速率。通过控制V型梁夹角的正负调节应力的输出为拉伸力或压缩力。

    一种透射电子显微镜用双轴倾转样品台

    公开(公告)号:CN104637765A

    公开(公告)日:2015-05-20

    申请号:CN201510081273.8

    申请日:2015-02-15

    CPC classification number: H01J37/20 H01J2237/20207 H01J2237/20214

    Abstract: 一种透射电子显微镜用双轴倾转样品载台,属于透射电子显微镜配件领域。包括样品杆杆身,驱动轴,连接轴,旋转轴和样品台,样品杆前端留有旋转轴孔,样品台末端有与其一体的运动导槽,样品台通过旋转轴与样品杆杆身前端相连接,通过连接轴在运动导槽位置处与驱动轴相连。通过直线步进电机使驱动轴在水平方向前进或后退,使样品台以旋转轴为中心进行旋转。采用不同形状轨迹的运动导槽可以实现双倾。根据样品载台尺寸的大小,可调节旋转轴距导槽初始水平方向的距离或者改变运动导槽与水平方向的夹角,进而调节可实现的双轴倾转角度。本装置可以与常规的透射电子显微镜配合使用,通用性广。本装置简单,装配方便,成本低,可精确控制倾转角度。

    透射电镜原位液体环境力学试验平台

    公开(公告)号:CN110044700B

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN201910347092.3

    申请日:2019-04-26

    Abstract: 本发明涉及材料原位微纳实验平台领域,提供一种透射电镜原位液体环境力学试验平台,包括样品杆和装载台,装载台包括下芯片、上芯片和加载器件。下芯片上表面设有第一凹槽,第一凹槽底面设有沟槽,沟槽的底面设有下薄膜窗口和两个第一通孔;上芯片的下表面设有第二凹槽和上薄膜窗口,第二凹槽和第一凹槽形成用于安装加载器件的容置空间,上芯片的上表面设有热电阻;上芯片下表面与下芯片上表面连接,加载器件下表面与第一凹槽底面连接,加载器件设有驱动梁,驱动梁设有样品搭载区;下薄膜窗口、样品搭载区和上薄膜窗口对中设置。本发明可实现对样品在液体腐蚀环境下力学测试,解决了目前透射电镜无法有效进行原位液体环境下力学测试的问题。

    一种原位拉伸装置及其制备方法

    公开(公告)号:CN110261221B

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN201910430801.4

    申请日:2019-05-22

    Abstract: 本发明涉及纳米材料力学性能与显微结构原位表征技术领域,提供一种原位拉伸装置及其制备方法,所述的制备方法包括:在MEMS力学芯片上对搭载的板料进行切割操作,得到第一拉伸辅助件、第二拉伸辅助件和预拉伸样品;对预拉伸样品进行减薄操作,以得到拉伸样品;第一拉伸辅助件连接MEMS力学芯片的第一搭载侧,拉伸样品的两端分别连接第二拉伸辅助件与MEMS力学芯片的第二搭载侧;第一拉伸辅助件与第二拉伸辅助件相嵌套成勾套结构;本发明设计巧妙、操作便捷,实现了在MEMS力学芯片上直接制备拉伸样品和用于辅助拉伸的勾套结构,可以有效防(56)对比文件金钦华;王跃林;李铁;李昕欣;许钫钫.用于TEM原位拉伸实验的集成单晶硅纳米梁MEMS测试芯片研究.中国科学(E辑:技术科学).2009,(第05期),全文.

    高温下兼具优秀力学性能和抗氧化的高熵合金及制备方法

    公开(公告)号:CN114752792B

    公开(公告)日:2023-04-11

    申请号:CN202210406782.3

    申请日:2022-04-18

    Abstract: 本发明涉及高熵合金领域,具体涉及一种高温下兼具优秀力学性能和抗氧化的高熵合金及制备方法。所述高熵合金的化学式记为(HfNbTiV)100‑xAlx,其中X=0~10。本发明的高熵合金在室温及高温下兼具高拉伸屈服强度、高拉伸塑性和抗氧化的优秀性能。当所述高熵合金中含有Al时,高熵合金在室温及高温下兼具高拉伸屈服强度、高拉伸塑性、抗氧化和低密度的优秀性能。其在航空航天,国防军事等重大领域具有较大的应用潜力。

    透射电镜用原位拉伸样品保护装置及其制备方法

    公开(公告)号:CN115046825A

    公开(公告)日:2022-09-13

    申请号:CN202210674942.2

    申请日:2022-06-14

    Abstract: 本发明提供一种透射电镜用原位拉伸样品保护装置及其制备方法,包括设置在MEMS力学芯片上的第一搭载侧、第二搭载侧,还包括第一拉伸辅助件、第二拉伸辅助件和载物件;第一拉伸辅助件连接MEMS力学芯片的第一搭载侧,载物件两端分别连接第二拉伸辅助件和第二搭载侧;第一拉伸辅助件与第二拉伸辅助件相嵌套成勾套结构。本发明通过在MEMS力学芯片上搭载原料块,然后切割,得到第一拉伸辅助件、第二拉伸辅助件以及载物件,并且保证第一拉伸辅助件嵌套于第二拉伸辅助件内部,形成勾套结构,由于形成了载物件,使得整个勾套自由选材,可对一维、二维材料及块状材料拉伸;设置载物件,可有效防止样品在拉伸断裂后掉落,避免透射电镜被污染。

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