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公开(公告)号：CN103616631A
公开(公告)日：2014-03-05
申请号：CN201310570956.0
申请日：2013-11-15
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/28
Abstract: 一种用加速器产生的高能质子进行器件单粒子翻转试验的方法，包括试验样品加工、单粒子试验板的要求，高能质子能量、注量率、注量的选择要求。随着集成度提高、特征尺寸减少，大规模电路的单粒子翻转趋向敏感，质子通过核反应或直接电离可引起单粒子翻转。在轨卫星发生了疑似质子单粒子翻转引起的电子系统故障。本方法为在地面开展器件质子单粒子翻转试验提供了方法。根据本方法，可以对卫星用关键器件的质子单粒子翻转敏感性进行评估，获得器件质子单粒子翻转敏感参数，为卫星抗辐射加固设计提供依据，对保证新一代卫星的可靠性有重要意义。
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公开(公告)号：CN103577643A
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201310547929.1
申请日：2013-11-06
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F17/50
Abstract: 一种SRAM型FPGA单粒子翻转效应仿真方法，包括如下步骤：1：获取待仿真器件的设计和工艺参数；2：使用建模工具构造器件的三维几何形状，并设定器件掺杂的区域、浓度以及离散化策略等；3：根据器件的I-V特性曲线，对器件的工艺和设计参数进行校准；4：生成网格化的器件结构，在沟道、轻掺杂区以及PN结边界对网格进行细化；5：根据器件电路规模和实际情况，选取器件级TCAD仿真方法或器件级TCAD和电路级Spice混合仿真方法；6：利用辐射粒子特性工具计算获得入射重离子特性；7：设定好物理模型参数、仿真时间和边界条件等，利用TCAD工具进行器件单粒子效应仿真；8：根据仿真结果，选择不同能量的粒子再次进行模拟；9：通过仿真数据分析工具获取仿真结果。
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公开(公告)号：CN102937698A
公开(公告)日：2013-02-20
申请号：CN201210390638.1
申请日：2012-10-15
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/3167
Abstract: 一种DC/DC转换器单粒子效应检测系统及检测方法，系统包括输出电压调整电路、输入保护电路、电源及其监测电路、多路采集电路以及控制与数据处理系统；检测时，控制与数据处理系统给电源及其监测电路发出控制信号令电源及其监测电路给被测DC/DC器件提供工作电压，输入保护电路对被测DC/DC的输入端进行保护；被测DC/DC转换器的输出端连接有负载电阻，输出端的输出电压通过输出电压调整电路后由多路采集电路进行采集，再送入控制与数据处理系统，通过对开冒后的被测DC/DC转换器的辐照敏感区域进行高能粒子照射，对比照射前后控制与数据处理系统接收到的电压信号，从而得出是否发生单粒子效应的结论。
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公开(公告)号：CN119766697A
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202411708556.6
申请日：2024-11-27
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: H04L43/0852 , H04L43/50 , H04L12/40
Abstract: 一种基于FPGA的SpaceWire总线网络时延测量方法及装置，在SpaceWire总线时延网络的接口控制器中加入SPW‑EOP中断模块，并连接时延测量FPGA模块，数据发送端主机CPU控制接口控制器按固定周期循环发送变长度数据包，当每个数据包的包尾离开接口控制器的主机接口时触发SPW‑EOP中断模块产生中断信号，发送给时延测量FPGA；数据包通过SpaceWire总线转发至接收端接口控制器，同样触发接口控制器的SPW‑EOP中断模块产生中断信号，发送给时延测量FPGA；时延测量FPGA采集中断信号计算传输时延。本发明在物理层上实现了对SpaceWire链路数据传输延迟的高精度测量，测得数据准确、通用性强，测量方法高效，为航天器数据传输任务的时间规划提供了可靠依据。
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公开(公告)号：CN115856431A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211528467.4
申请日：2022-11-30
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R23/20
Abstract: 本发明提供了一种放大器应用特性的定量表征方法，包括以下步骤：对在应用电路中处于工作状态的放大器的输入信号和输出信号进行采样；提取输入输出采样序列进行相关分析并计算放大器的应用特性失真度；对输出采样序列进行移位，通过计算不同移位状态下的应用特性失真度获取放大器在当前应用状态下的应用特性失真度和相移；通过改变应用状态实现放大器在不同应用状态下应用特性的定量表征。本发明还提供了一种放大器应用特性的定量表征装置，包括输入信号采集卡、输出信号采集卡、相关分析及应用特性失真度计算处理单元和显示输出单元。本发明通过应用特性失真度定量表征放大器的应用特性，相比器件电性能参数间接反映应用特性更直观、有效。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107545098B
公开(公告)日：2020-09-18
申请号：CN201710631110.1
申请日：2017-07-28
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明涉及化合物器件空间连续谱质子位移损伤地面等效评估方法，该方法能够用于指导评估宇航用化合物器件在空间辐射环境中因位移损伤效应造成的性能退化情况，获得器件抗位移损伤能力的准确数据，为器件抗辐射加固设计提供依据，也为宇航型号选择抗辐射能力满足要求的器件和进行应用加固设计提供参考数据，属于化合物器件的宇航应用技术领域。
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公开(公告)号：CN107884699A
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201710900059.X
申请日：2017-09-28
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/28 , G01R31/311
CPC classification number: G01R31/2856 , G01R31/311
Abstract: 本发明涉及一种裸芯片的脉冲激光单粒子试验装置及试验方法，属于半导体器件抗空间单粒子效应能力检测技术领域。本发明芯片安装板制作焊盘与芯片焊点顺序对应，通过键合丝连接，且芯片背面朝上与芯片安装板贴合，器件正面朝下，可用固封胶对键合丝进行固封，使芯片、键合丝处于稳定状态，芯片安装板中心镂空区可将芯片背面裸露出来，当安装板通过引出插针安装在夹具上时，镂空区朝上即芯片背面朝上，满足脉冲激光单粒子试验背面入射要求。能够保证试验的顺利进行以及试验结果的有效性。
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公开(公告)号：CN102332307B
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201110214108.7
申请日：2011-07-28
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F11/00
Abstract: SRAM型FPGA单粒子效应试验系统及方法包括：单片机处理器、RS232接口电路、USB接口电路、测试FPGA以及存储单元，可以用于SRAM型FPGA的配置存储器和BRAM的故障注入试验，实现SRAM型FPGA的单粒子功能中断检测、单粒子锁定检测和单粒子翻转检测，包括配置存储区、BRAM和触发器的单粒子翻转检测。本发明具有操作简单、检测全面、准确度高、实时性好、通用性强的优点。
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