半导体器件以及制造该半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN105244351B

    公开(公告)日:2019-11-26

    申请号:CN201510386546.X

    申请日:2015-06-30

    Abstract: 一种半导体器件包括下层叠结构,该下层叠结构包括交替地且重复地层叠在衬底上的下栅电极和下绝缘层。该半导体器件包括上层叠结构,该上层叠结构包括交替地且重复地层叠在下层叠结构上的上栅电极和上绝缘层。下沟道结构穿透下层叠结构。上沟道结构穿透上层叠结构并连接到下沟道结构。下竖直绝缘体设置在下层叠结构和下沟道结构之间。下沟道结构包括连接到衬底的第一竖直半导体图案以及设置在第一竖直半导体图案上的第一连接半导体图案。上沟道结构包括电连接到第一竖直半导体图案的第二竖直半导体图案,其中第一连接半导体图案设置在第二竖直半导体图案与第一竖直半导体图案之间。

    三维半导体器件
    36.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104900648A

    公开(公告)日:2015-09-09

    申请号:CN201510102923.2

    申请日:2015-03-09

    Inventor: 李宰求 朴泳雨

    Abstract: 本公开提供了三维半导体器件。一种三维(3D)半导体器件包括在垂直方向上彼此间隔开的导电层的叠层,该叠层在连接区域中具有阶梯状部分,导电层的端部分别构成阶梯状部分的梯面。3D半导体器件还包括设置在导电层的各端部上并在其上突出的缓冲图案、设置在该叠层之上并包括导线的互连结构、以及在导线与缓冲图案之间垂直地延伸并经由缓冲图案电连接到叠层的导电层的接触插塞。

    包括虚拟字线的非易失性存储器件及相关结构和方法

    公开(公告)号:CN101106140A

    公开(公告)日:2008-01-16

    申请号:CN200710129103.8

    申请日:2007-07-11

    CPC classification number: G11C16/0483 G11C16/3427

    Abstract: 一种非易失性存储器件可以包括:半导体衬底,该半导体衬底包括在其表面的有源区;在该有源区上的第一存储单元串;以及在该有源区上的第二存储单元串。该第一存储单元串可以包括与在该第一接地选择线和第一串选择线之间的有源区相交叉的第一多个字线,以及在该第一多个字线的相邻字线之间可以提供几乎相同的第一间隔。该第二存储单元串可以包括与在该第二接地选择线和第二串选择线之间的有源区相交叉的第二多个字线,以及在该第二多个字线的相邻字线之间可以提供几乎相同的第一间隔。而且,该第一接地选择线可以在该第二接地选择线和该第一多个字线之间,以及该第二接地选择线可以在第一接地选择线和该第二多个字线之间。而且,在该第一和第二接地选择线之间的部分有源区可以没有字线,以及在该第一和第二接地选择线之间的第二间隔可以大于第一间隔至少约3倍。还论述了相关方法。

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