公开(公告)号：CN107152970A

公开(公告)日：2017-09-12

申请号：CN201710266286.1

申请日：2017-04-21

Applicant: 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所

Inventor： 唐玉国 ,  肖昀 ,  张运海

IPC: G01J4/00 ,  G02B21/00

CPC classification number: G01J4/00 ,  G02B21/0032 ,  G02B21/0036

Abstract: 本发明提供的基于干涉阵列光场的高分辨并行显微成像仪，对照明模块进行设计以生成四束偏振光，由于上述四束偏振光干涉得到包含大量光斑的阵列光场，从而实现了样品的并行照明；同时，本发明提供的基于干涉阵列光场的高分辨并行显微成像仪，同时采用面阵探测器接收阵列光斑，并对阵列光斑中的每个光斑进行像素再分配处理，实现高分辨、高信噪比的并行显微成像。

公开(公告)号：CN107024277A

公开(公告)日：2017-08-08

申请号：CN201710230860.8

申请日：2017-04-10

Applicant: 中国科学院国家天文台

Inventor： 侯俊峰

IPC: G01J4/04

CPC classification number: G01J4/04 ,  G01J4/00 ,  G01J2004/001

Abstract: 本发明公开了一种基于磷酸二氘钾调制的线偏振分析器及基于此线偏振分析器实施的偏振测量方法。线偏振分析器包括沿同一光轴依次排列的第一、第二KD*P调制器、1/4波片、检偏器、成像透镜和探测器；探测器将光强值送给计算机；信号发生器控制交流高压调制器，通过交流高压调制器对第一、第二KD*P调制器的频率相位实现调制；计算机控制同步控制器，同步控制器对信号发生器和探测器进行同步控制。本发明使用两个固定的KD*P调制器替代了传统的旋转加KD*P调制方式，入射光束射入便开始测量，测量速度快、灵敏度高，充分利用了KD*P晶体的高调制频率。

公开(公告)号：CN106848818A

公开(公告)日：2017-06-13

申请号：CN201710036477.9

申请日：2017-01-18

Applicant: 合肥工业大学

Inventor： 胡志家 ,  梁云云 ,  夏江营 ,  谢康 ,  姜海明 ,  高朋飞

IPC: H01S3/08 ,  H01S3/0941 ,  G01N21/64 ,  G01J4/00

CPC classification number: H01S3/0941 ,  G01J4/00 ,  G01J2004/001 ,  G01N21/6445 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/08 ,  H01S3/08

Abstract: 本发明公开了一种取向的聚合物光纤偏振随机激光的获取及测试方法，制备三种取向的聚合物光纤：（1）长程无序聚合物光纤，只掺杂0.1wt.%‑0.2wt.% PM597；（2）短程聚合物光纤，掺杂15wt.%‑30wt%的POSS纳米颗粒和0.1wt.%‑0.2wt.% PM597；（3）等离子体聚合物光纤，掺杂0.01wt.%‑0.2wt.%金纳米颗粒和0.1wt.%‑0.2wt.% PM597；从这三种取向的聚合物光纤中获得偏振随机激光并测试其偏振性。本发明通过设计取向的无序聚合物光纤的散射平均自由程和长度，实现对偏振随机激光发射的控制。

公开(公告)号：CN106768345A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201611036724.7

申请日：2016-11-23

Applicant: 上海理工大学

Inventor： 王海凤 ,  林剑 ,  庄松林

IPC: G01J4/00

CPC classification number: G01J4/00

Abstract: 本发明涉及一种基于表面等离子体直接测量纵向偏振光偏振态的方法，金属纳米颗粒受到光激发时，其产生的表面等离子体的分布由激发光的偏振态决定。基于这个现象，设计了探测基片，通过观察曝光后探测基片记录层上的图案来判断激发光的偏振态。实现了对纵向偏振光的纵向偏振态的直接测量，这是目前其他偏振测量方法无法实现的；测量方法简单有效，容易实施。

公开(公告)号：CN105593652A

公开(公告)日：2016-05-18

申请号：CN201480038234.3

申请日：2014-06-20

Applicant: 斯特拉斯堡大学 ,  国立科学研究中心

Inventor： 吉哈德·扎拉特 ,  马尔克·托任斯基 ,  亚历克斯·拉勒芒 ,  克里斯蒂安·海因里希

IPC: G01J4/00 ,  G02B27/28 ,  G01N21/21

CPC classification number: G01N21/23 ,  G01J4/00 ,  G01N21/21 ,  G01N2201/0636 ,  G01N2201/0683 ,  G02B5/3016 ,  G02B5/3083 ,  G02B27/0025 ,  G02B27/286

Abstract: 本发明涉及一种用于分析和/或产生目标物体的测量点的偏振状态的装置；所述装置包括：偏振器，其适合于在入射光波中选择在预定义方向上经线性偏振的光束；第一双折射元件，其适合于使所述光束穿过；第二双折射元件，其相同于所述第一元件且适合于使所述光束穿过，所述光束接着被直接或间接朝向所述物体引导以便呈反射束的形式而反射。另外，由一个或多个光学元件组成的光学组合件位于处于所述第一元件与所述第二元件之间的光学路径中，所述光学组合件由以下各项组成：奇数数目的镜，或，奇数数目的二分之一波板，或，奇数数目的镜与二分之一波板的混合。

公开(公告)号：CN105209868A

公开(公告)日：2015-12-30

申请号：CN201480016422.6

申请日：2014-01-16

Applicant: 莱顿大学

Inventor： 克里斯托夫-乌利齐·凯勒 ,  法兰斯·斯尼克

IPC: G01J1/04 ,  G01J3/14 ,  G01J4/00 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/0224 ,  G01J1/0425 ,  G01J1/4228 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/14 ,  G01J4/00 ,  G01J4/04 ,  G02F1/0136

Abstract: 一种偏振测量装置，其包括多条柔性光导管和各偏振调制器，每条所述光导管具有第一和第二端，所述偏振调制器与每条光导管相关联，其中每条光导管被配置成经由所述第一端接收来自空间中的不同预定区域的入射光，并且使所述光经由该第二端传输至检测器，其中所述偏振调制器被配置成调制光的偏振，以使得入射光的部分或完全偏振状态能够由针对每条光导管的检测器单元来确定。

公开(公告)号：CN103759725A

公开(公告)日：2014-04-30

申请号：CN201410046227.X

申请日：2014-02-10

Applicant: 北京航空航天大学

Inventor： 郭雷 ,  罗建军 ,  杨健 ,  杜涛 ,  赵倩

IPC: G01C21/00 ,  G01C21/20 ,  G01C1/00

CPC classification number: G01C21/00 ,  G01C1/00 ,  G01C21/20 ,  G01J4/00

Abstract: 本发明涉及一种基于六通道光电传感器的偏振方位角确定方法，首先，获取各通道偏振光强测量信息，并实现测量信息的对数处理；其次，利用对数处理结果判断得到与偏振化方向夹角最小的检偏方向（最近检偏方向）；基于最近检偏方向得到偏振方位角分布区间；最后，根据偏振方位角的分布区间，选择偏振方位角计算式，实现整个定义区间的偏振方位角计算。本发明具有精度高、稳定性好等优点，可用于基于光电测量的偏振导航系统的偏振方位角的确定。

公开(公告)号：CN101893659B

公开(公告)日：2012-06-20

申请号：CN200910107490.4

申请日：2009-05-19

Applicant: 清华大学 ,  鸿富锦精密工业(深圳)有限公司

Inventor： 肖林 ,  张玉莹 ,  姜开利 ,  刘亮 ,  范守善

IPC: G01R29/08 ,  G01J4/00 ,  G01J1/42

CPC classification number: G01J4/00

Abstract: 本发明提供一种电磁波偏振方向的检测方法，包括以下步骤：将一碳纳米管结构置于一真空环境中，该碳纳米管结构包括多个沿同一方向排列的碳纳米管；提供一电磁波发射源，发射一偏振的电磁波，并使其基本垂直地入射至所述碳纳米管结构表面，该碳纳米管结构吸收该电磁波并发光；在基本垂直于电磁波入射方向的平面内旋转所述碳纳米管结构，根据所述碳纳米管结构发出可见光的变化判断所述电磁波的偏振方向。该方法简单直观。本发明也提供一种电磁波偏振方向的检测装置。

公开(公告)号：CN101087989B

公开(公告)日：2011-06-08

申请号：CN200580039773.X

申请日：2005-10-17

Applicant: 摩根研究股份有限公司

Inventor： J·L·威廉姆斯 ,  M·S·克兰茨 ,  L·C·海顿

IPC: G01B9/02

CPC classification number: G01B11/18 ,  G01B11/161 ,  G01B11/168 ,  G01J3/453 ,  G01J4/00 ,  G01M11/085

Abstract: 本发明提供了通过快速且简单的测量来确定经历可能导致降低结构寿命、强度或可靠性的损害的结构上的位置的能力。传感元件是偏振维持(“PM”)光纤的连接部分，其中PM光纤的长度表示完全分布的传感器阵列。应力引起的传感器的变化通过白光偏振干涉测量法来测量。测量的输出是表示沿传感器的长度的位置的阵列处的应力集中大小的数组。在一种应用中，已知结构上的光纤位置加上沿光纤长度的应力位置的测量允许用户确定结构上具有大的应力集中的位置。这些位置可表示结构损坏。该知识允许用户采用更加复杂的系统，尽管较大且较慢，以充分地表征和评价可能的损坏区域并采取适当的行动。

公开(公告)号：CN100520357C

公开(公告)日：2009-07-29

申请号：CN03816922.3

申请日：2003-06-19

Applicant: 科学研究国家中心 ,  皮埃尔与玛丽·居里大学

Inventor： D·奥塞尔 ,  M-P·瓦利尼亚

IPC: G01N21/21 ,  G01J4/00 ,  G01B11/00

CPC classification number: G01N21/211 ,  G01J4/00

Abstract: 本发明涉及一种支座，用于采用波长为λ、角度为θ0的入射会聚非相干照明，在正交偏振片之间观测在折射率为n0的介质(3)中的置于所述支座邻近处的物体。所述支座包括复折射率为n2的基片(1)和复折射率为n1、厚度为e1的涂层(2)。根据本发明，涂层(2)的厚度值e1具有2%的不确定度，因此：(d2/de12)ln|σ|2＝0其中:见下右式，本发明还涉及结合所述支座的观测装置。