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公开(公告)号：CN106546324B
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201610993220.8
申请日：2016-11-11
Applicant: 上海理工大学
Abstract: 本发明涉及一种测量任意偏振态小光束内部三维光强分布的方法，利用分束镜将被测光分成两部分，分别被光功率计和刀锋探测器在扫描过程中同步纪录，在测量开始前用隔离罩将整个测量装置与外界隔离；使用手动三维平台使刀锋探测器的刀锋靠近待测区域，然后使用由计算机程序控制的纳米三维扫描台对光束进行三维扫描；如果被扫描的光束不具有沿光轴方向的旋转对称的强度分布，则旋转刀锋一定角度，重复扫描，直到刀锋旋转了180度为止；使用计算机数据处理系统对测量得到的数据进行重构，得到光束内部强度的三维分布图。设计出适用于测量所有偏振态光强的刀锋，测量小光束内部光强分布不受光偏振状态和光功率波动的影响，适用范围广，稳定性高。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN106768345A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611036724.7
申请日：2016-11-23
Applicant: 上海理工大学
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01J4/00
Abstract: 本发明涉及一种基于表面等离子体直接测量纵向偏振光偏振态的方法，金属纳米颗粒受到光激发时，其产生的表面等离子体的分布由激发光的偏振态决定。基于这个现象，设计了探测基片，通过观察曝光后探测基片记录层上的图案来判断激发光的偏振态。实现了对纵向偏振光的纵向偏振态的直接测量，这是目前其他偏振测量方法无法实现的；测量方法简单有效，容易实施。
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公开(公告)号：CN106546324A
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：CN201610993220.8
申请日：2016-11-11
Applicant: 上海理工大学
CPC classification number: G01J1/00 , G01J1/0403
Abstract: 本发明涉及一种测量任意偏振态小光束内部三维光强分布的方法，利用分束镜将被测光分成两部分，分别被光功率计和刀锋探测器在扫描过程中同步纪录，在测量开始前用隔离罩将整个测量装置与外界隔离；使用手动三维平台使刀锋探测器的刀锋靠近待测区域，然后使用由计算机程序控制的纳米三维扫描台对光束进行三维扫描；如果被扫描的光束不具有沿光轴方向的旋转对称的强度分布，则旋转刀锋一定角度，重复扫描，直到刀锋旋转了180度为止；使用计算机数据处理系统对测量得到的数据进行重构，得到光束内部强度的三维分布图。设计出适用于测量所有偏振态光强的刀锋，测量小光束内部光强分布不受光偏振状态和光功率波动的影响，适用范围广，稳定性高。
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公开(公告)号：CN115774009B
公开(公告)日：2025-03-14
申请号：CN202211471422.8
申请日：2022-11-23
Applicant: 上海理工大学
IPC: G01N21/65
Abstract: 本发明公开了一种基于矢量偏振光束测量纵向偏振拉曼信号的方法，包括以下步骤：1)、搭建可以产生角向偏振和径向偏振光作为激发光源的拉曼光谱系统；2)、使用各向同性样品的拉曼信号矫正系统；3)、使用单晶硅样品验证系统；4)、分别使用角向偏振和径向偏振光作为激发光源，测量待测样品的拉曼信号；5)、使用测量的数据，结合理论计算，得到由纵向偏振光激发的拉曼信号，本发明根据角向偏振光和径向偏振光在焦点区域电场分布的关系，设计出了用于探测纵向偏振光激发的拉曼信号的方法，此方法解决了目前无法直接准确测量纵向偏振光激发的拉曼信号的难题。
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公开(公告)号：CN115774009A
公开(公告)日：2023-03-10
申请号：CN202211471422.8
申请日：2022-11-23
Applicant: 上海理工大学
IPC: G01N21/65
Abstract: 本发明公开了一种基于矢量偏振光束测量纵向偏振拉曼信号的方法，包括以下步骤：1)、搭建可以产生角向偏振和径向偏振光作为激发光源的拉曼光谱系统；2)、使用各向同性样品的拉曼信号矫正系统；3)、使用单晶硅样品验证系统；4)、分别使用角向偏振和径向偏振光作为激发光源，测量待测样品的拉曼信号；5)、使用测量的数据，结合理论计算，得到由纵向偏振光激发的拉曼信号，本发明根据角向偏振光和径向偏振光在焦点区域电场分布的关系，设计出了用于探测纵向偏振光激发的拉曼信号的方法，此方法解决了目前无法直接准确测量纵向偏振光激发的拉曼信号的难题。
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