光谱成像检测器
    21.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105044758A

    公开(公告)日:2015-11-11

    申请号:CN201510387113.6

    申请日:2009-10-29

    Abstract: 一种包括光电二极管阵列(122)的一维多元件光电检测器(120),所述光电二极管阵列(122)具有第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素。光电二极管阵列(122)是所述光电检测器(120)的一部分。闪烁器阵列(126)包括第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素。第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素分别与第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素光耦合。光电检测器(120)也包括读取电子装置(124),所述读取电子装置也是所述光电检测器(120)的一部分。电迹线(512)将光电二极管像素与读取电子装置(124)互连。

    数据采集
    22.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102414579A

    公开(公告)日:2012-04-11

    申请号:CN201080018158.1

    申请日:2010-02-18

    CPC classification number: G01T1/2018

    Abstract: 本发明公开一种成像检测器,包括闪烁器阵列(202)、光耦合到所述闪烁器阵列(202)的光传感器阵列(204)、电流到频率(I/F)转换器(314)和逻辑单元(312)。所述I/F转换器(314)包括积分器(302)和比较器(310),并且在当前积分时段期间将由所述光传感器阵列(204)输出的电荷转换为具有指示所述电荷的频率的数字信号。所述逻辑单元(312)基于对于所述当前积分时段的所述数字信号来设定所述积分器(302)对于下一个积分时段的增益。在一个实例中,相对于对于所述当前积分时段的所述增益,增大对于下一个积分时段的增益,这允许在不存在辐射的情况下降低在所述I/F转换器(314)的输入端注入的偏置电流的量以生成可测量的信号,这会降低诸如散粒噪声、闪烁噪声的噪声和/或其它噪声。

    对称多切片计算机断层成像数据测量系统

    公开(公告)号:CN1688253A

    公开(公告)日:2005-10-26

    申请号:CN03823607.9

    申请日:2003-09-22

    CPC classification number: A61B6/032 A61B6/027 A61B6/4085 G01T1/1647

    Abstract: 用于计算机断层(CT)扫描器(12)的数据测量系统(DMS)(30)包括多个连接器化的检测器子阵列模块(32)。每个检测器子阵列模块(32)包括:闪烁器(40),用于响应X射线的照射,产生闪烁事件;光电检测器阵列(42),被布置为对闪烁进行检测;以及两个对称布置的信号连接器(541,542),用于发送光电检测器信号。对称安装的管线卡(60)与每侧的检测器子阵列模块(32)组的信号连接器(54)配合,以接收光电检测器信号。与管线卡(60)通信的处理器(64)接收来自管线卡(60)的光电检测器信号并且构成根据光电检测器信号的DMS输出。

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