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公开(公告)号：CN105044758B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN201510387113.6
申请日：2009-10-29
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Abstract: 一种包括光电二极管阵列(122)的一维多元件光电检测器(120)，所述光电二极管阵列(122)具有第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素。光电二极管阵列(122)是所述光电检测器(120)的一部分。闪烁器阵列(126)包括第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素。第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素分别与第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素光耦合。光电检测器(120)也包括读取电子装置(124)，所述读取电子装置也是所述光电检测器(120)的一部分。电迹线(512)将光电二极管像素与读取电子装置(124)互连。
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公开(公告)号：CN103323871A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201310232839.3
申请日：2010-02-18
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2006 , A61B6/00 , A61B6/03 , A61B6/405 , A61B6/42 , A61B6/4233 , A61B6/585 , G01T1/2018
Abstract: 一种成像探测器，包括处理电子器件（208），该电子器件具有大致等于探测器的光传感器阵列（204）和闪烁体阵列（202）的温度系数的和的负数的温度系数。在另一种情况下，所述成像探测器包括A/D转换器（302），其交替地将与撞击辐射对应的第一电荷转换为第一信号并将与衰减电荷对应的第二电荷转换为第二信号，以及逻辑单元（308），其基于所述第二信号校正所述第一信号。在另一种情况下，所述成像探测器包括A/D转换器（302）、积分器偏置电压信号确定器（318）和逻辑单元（308），其中，所述确定器（318）经由偏置电压诱发电流，所述A/D转换器（302）测量所述电流，并且所述逻辑单元（308）基于参考电压和所测量的电流计算所述光传感器阵列（204）的阻抗。
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公开(公告)号：CN101528135B
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：CN200780040523.7
申请日：2007-10-16
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/4028 , A61B6/032 , A61B6/035 , A61B6/4488
Abstract: 一种计算机断层成像方法包括使电子束在对x射线投影抽样的多个抽样周期内沿围绕检查区域(112)设置的阳极(104)旋转。使电子束在每一抽样间隔内进行扫掠，从而在每一抽样间隔内在不同的焦斑位置生成多个相继的焦斑，其中，在给定的抽样间隔内生成的焦斑包括在前一抽样间隔内生成的焦斑的子集。在每一抽样间隔内对从所述多个焦斑中的每者辐射的x射线投影进行抽样。重建所得到的数据，以生成体积图像数据。
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公开(公告)号：CN101528135A
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN200780040523.7
申请日：2007-10-16
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/4028 , A61B6/032 , A61B6/035 , A61B6/4488
Abstract: 一种计算机断层成像方法包括使电子束在对x射线投影抽样的多个抽样周期内沿围绕检查区域(112)设置的阳极(104)旋转。使电子束在每一抽样间隔内进行扫掠，从而在每一抽样间隔内在不同的焦斑位置生成多个相继的焦斑，其中，在给定的抽样间隔内生成的焦斑包括在前一抽样间隔内生成的焦斑的子集。在每一抽样间隔内对从所述多个焦斑中的每者辐射的x射线投影进行抽样。重建所得到的数据，以生成体积图像数据。
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公开(公告)号：CN102656478B
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201080057215.7
申请日：2010-11-18
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T7/00
CPC classification number: G01T7/005
Abstract: 一种成像系统（100）的探测器瓦片（116）包括光传感器阵列（204）；以及电耦合至所述光传感器阵列（204）的电子装置（208），其中所述电子装置包括剂量确定器（402），所述剂量确定器确定所述探测器瓦片（116）的沉积剂量以及产生指示所述沉积剂量的信号。在一个非限制性的示例中，该信号用于校正诸如增益和热系数的、可能随着辐射剂量变化的参数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102448376A
公开(公告)日：2012-05-09
申请号：CN201080022949.1
申请日：2010-04-15
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/4266 , A61B6/4452 , G01T1/1644 , G01T1/2985
Abstract: 一种成像系统(100)包括辐射源(108)和探测系统(114)，辐射源(108)发射贯穿检查区域(106)的辐射，探测系统(114)探测贯穿检查区域(106)的辐射并生成指示所述辐射的信号。探测系统(114)包括第一探测器阵列(1141-114N)和第二探测器阵列(1141-114N)。第一和第二探测器阵列(1141-114N)是分离独立的探测器阵列，探测器阵列(1141-114N)的至少一个能够相对于辐射射束移动。重建器(116)重建所述信号并生成指示所述信号的体图像数据。
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公开(公告)号：CN102216806B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN200980145930.3
申请日：2009-10-29
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2018 , G01T1/00 , G01T1/161
Abstract: 一种包括光电二极管阵列(122)的一维多元件光电检测器(120)，所述光电二极管阵列(122)具有第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素。光电二极管阵列(122)是所述光电检测器(120)的一部分。闪烁器阵列(126)包括第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素。第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素分别与第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素光耦合。光电检测器(120)也包括读取电子装置(124)，所述读取电子装置也是所述光电检测器(120)的一部分。电迹线(512)将光电二极管像素与读取电子装置(124)互连。
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公开(公告)号：CN102448376B
公开(公告)日：2014-07-23
申请号：CN201080022949.1
申请日：2010-04-15
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/4266 , A61B6/4452 , G01T1/1644 , G01T1/2985
Abstract: 一种成像系统(100)包括辐射源(108)和探测系统(114)，辐射源(108)发射贯穿检查区域(106)的辐射，探测系统(114)探测贯穿检查区域(106)的辐射并生成指示所述辐射的信号。探测系统(114)包括第一探测器阵列(1141-114N)和第二探测器阵列(1141-114N)。第一和第二探测器阵列(1141-114N)是分离独立的探测器阵列，探测器阵列(1141-114N)的至少一个能够相对于辐射射束移动。重建器(116)重建所述信号并生成指示所述信号的体图像数据。
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公开(公告)号：CN102414579B
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201080018158.1
申请日：2010-02-18
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2018
Abstract: 本发明公开一种成像检测器，包括闪烁器阵列(202)、光耦合到所述闪烁器阵列(202)的光传感器阵列(204)、电流到频率(I/F)转换器(314)和逻辑单元(312)。所述I/F转换器(314)包括积分器(302)和比较器(310)，并且在当前积分时段期间将由所述光传感器阵列(204)输出的电荷转换为具有指示所述电荷的频率的数字信号。所述逻辑单元(312)基于对于所述当前积分时段的所述数字信号来设定所述积分器(302)对于下一个积分时段的增益。在一个实例中，相对于对于所述当前积分时段的所述增益，增大对于下一个积分时段的增益，这允许在不存在辐射的情况下降低在所述I/F转换器(314)的输入端注入的偏置电流的量以生成可测量的信号，这会降低诸如散粒噪声、闪烁噪声的噪声和/或其它噪声。
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公开(公告)号：CN103323870A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201310232254.1
申请日：2010-02-18
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2006 , A61B6/00 , A61B6/03 , A61B6/405 , A61B6/42 , A61B6/4233 , A61B6/585 , G01T1/2018
Abstract: 一种成像探测器，包括处理电子器件（208），该电子器件具有大致等于探测器的光传感器阵列（204）和闪烁体阵列（202）的温度系数的和的负数的温度系数。在另一种情况下，所述成像探测器包括A/D转换器（302），其交替地将与撞击辐射对应的第一电荷转换为第一信号并将与衰减电荷对应的第二电荷转换为第二信号，以及逻辑单元（308），其基于所述第二信号校正所述第一信号。在另一种情况下，所述成像探测器包括A/D转换器（302）、积分器偏置电压信号确定器（318）和逻辑单元（308），其中，所述确定器（318）经由偏置电压诱发电流，所述A/D转换器（302）测量所述电流，并且所述逻辑单元（308）基于参考电压和所测量的电流计算所述光传感器阵列（204）的阻抗。
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