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公开(公告)号：CN103323871A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201310232839.3
申请日：2010-02-18
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2006 , A61B6/00 , A61B6/03 , A61B6/405 , A61B6/42 , A61B6/4233 , A61B6/585 , G01T1/2018
Abstract: 一种成像探测器，包括处理电子器件（208），该电子器件具有大致等于探测器的光传感器阵列（204）和闪烁体阵列（202）的温度系数的和的负数的温度系数。在另一种情况下，所述成像探测器包括A/D转换器（302），其交替地将与撞击辐射对应的第一电荷转换为第一信号并将与衰减电荷对应的第二电荷转换为第二信号，以及逻辑单元（308），其基于所述第二信号校正所述第一信号。在另一种情况下，所述成像探测器包括A/D转换器（302）、积分器偏置电压信号确定器（318）和逻辑单元（308），其中，所述确定器（318）经由偏置电压诱发电流，所述A/D转换器（302）测量所述电流，并且所述逻辑单元（308）基于参考电压和所测量的电流计算所述光传感器阵列（204）的阻抗。
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公开(公告)号：CN101080653A
公开(公告)日：2007-11-28
申请号：CN200580043358.1
申请日：2005-12-05
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/29
Abstract: X射线照相成像设备(10)，包括发射辐射束到检查区域(16)的第一辐射源(14)。探测器(18)将穿过检查区域(16)的所探测的辐射线转换成表示所探测的辐射的探测器电信号。探测器(18)具有至少一个在时间上变化的特性，如偏移B(t)或增益A(t)。栅极脉冲装置(64)以每秒1000到5000个脉冲的速率将第一辐射源(14)打开和关闭，这样在每秒1000到5000次之间至少重新测量偏移B(t)，并在探测器信号产生过程中多次修正。用第二脉冲装置(88)通过发脉冲给恒定强度(XRef)的第二受脉冲作用的源(86，100，138)来测量增益A(t)。在探测器信号产生过程中对增益A(t)每秒多次重新测量和修正。
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公开(公告)号：CN102448376A
公开(公告)日：2012-05-09
申请号：CN201080022949.1
申请日：2010-04-15
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/4266 , A61B6/4452 , G01T1/1644 , G01T1/2985
Abstract: 一种成像系统(100)包括辐射源(108)和探测系统(114)，辐射源(108)发射贯穿检查区域(106)的辐射，探测系统(114)探测贯穿检查区域(106)的辐射并生成指示所述辐射的信号。探测系统(114)包括第一探测器阵列(1141-114N)和第二探测器阵列(1141-114N)。第一和第二探测器阵列(1141-114N)是分离独立的探测器阵列，探测器阵列(1141-114N)的至少一个能够相对于辐射射束移动。重建器(116)重建所述信号并生成指示所述信号的体图像数据。
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公开(公告)号：CN103323871B
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201310232839.3
申请日：2010-02-18
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2006 , A61B6/00 , A61B6/03 , A61B6/405 , A61B6/42 , A61B6/4233 , A61B6/585 , G01T1/2018
Abstract: 一种成像探测器，包括处理电子器件（208），该电子器件具有大致等于探测器的光传感器阵列（204）和闪烁体阵列（202）的温度系数的和的负数的温度系数。在另一种情况下，所述成像探测器包括A/D转换器（302），其交替地将与撞击辐射对应的第一电荷转换为第一信号并将与衰减电荷对应的第二电荷转换为第二信号，以及逻辑单元（308），其基于所述第二信号校正所述第一信号。在另一种情况下，所述成像探测器包括A/D转换器（302）、积分器偏置电压信号确定器（318）和逻辑单元（308），其中，所述确定器（318）经由偏置电压诱发电流，所述A/D转换器（302）测量所述电流，并且所述逻辑单元（308）基于参考电压和所测量的电流计算所述光传感器阵列（204）的阻抗。
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公开(公告)号：CN102428388B
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：CN201080021763.4
申请日：2010-04-14
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/29
CPC classification number: G01T1/2985
Abstract: 一种辐射敏感检测器阵列，包括相对于所述成像系统(100)沿z轴方向延伸并沿x轴方向排列的多个检测器模块(118)。检测器模块中的至少一个包括模块构架(124)和至少一个检测器组块(122)。所述至少一个检测器组块(122)通过非螺纹紧固件(142)耦合到模块构架(124)。所述至少一个检测器组块(122)包括二维检测器(126)和聚焦在成像系统(100)的焦斑(112)处的二维抗散射栅格(128)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102365562A
公开(公告)日：2012-02-29
申请号：CN201080013533.3
申请日：2010-02-18
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2006 , A61B6/00 , A61B6/03 , A61B6/405 , A61B6/42 , A61B6/4233 , A61B6/585 , G01T1/2018
Abstract: 一种成像探测器，包括处理电子器件(208)，该电子器件具有大致等于探测器的光传感器阵列(204)和闪烁体阵列(202)的导热系数的和的负数的导热系数。在另一种情况下，所述成像探测器包括A/D转换器(302)，其交替地将与撞击辐射对应的第一电荷转换为第一信号并将与衰减电荷对应的第二电荷转换为第二信号，以及逻辑单元(308)，其基于所述第二信号校正所述第一信号。在另一种情况下，所述成像探测器包括A/D转换器(302)、积分器偏置电压信号确定器(318)和逻辑单元(308)，其中，所述确定器(318)经由偏置电压诱发电流，所述A/D转换器(302)测量所述电流，并且所述逻辑单元(308)基于参考电压和所测量的电流计算所述光传感器阵列(204)的阻抗。
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公开(公告)号：CN102448376B
公开(公告)日：2014-07-23
申请号：CN201080022949.1
申请日：2010-04-15
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/4266 , A61B6/4452 , G01T1/1644 , G01T1/2985
Abstract: 一种成像系统(100)包括辐射源(108)和探测系统(114)，辐射源(108)发射贯穿检查区域(106)的辐射，探测系统(114)探测贯穿检查区域(106)的辐射并生成指示所述辐射的信号。探测系统(114)包括第一探测器阵列(1141-114N)和第二探测器阵列(1141-114N)。第一和第二探测器阵列(1141-114N)是分离独立的探测器阵列，探测器阵列(1141-114N)的至少一个能够相对于辐射射束移动。重建器(116)重建所述信号并生成指示所述信号的体图像数据。
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公开(公告)号：CN103323870A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201310232254.1
申请日：2010-02-18
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2006 , A61B6/00 , A61B6/03 , A61B6/405 , A61B6/42 , A61B6/4233 , A61B6/585 , G01T1/2018
Abstract: 一种成像探测器，包括处理电子器件（208），该电子器件具有大致等于探测器的光传感器阵列（204）和闪烁体阵列（202）的温度系数的和的负数的温度系数。在另一种情况下，所述成像探测器包括A/D转换器（302），其交替地将与撞击辐射对应的第一电荷转换为第一信号并将与衰减电荷对应的第二电荷转换为第二信号，以及逻辑单元（308），其基于所述第二信号校正所述第一信号。在另一种情况下，所述成像探测器包括A/D转换器（302）、积分器偏置电压信号确定器（318）和逻辑单元（308），其中，所述确定器（318）经由偏置电压诱发电流，所述A/D转换器（302）测量所述电流，并且所述逻辑单元（308）基于参考电压和所测量的电流计算所述光传感器阵列（204）的阻抗。
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公开(公告)号：CN102428388A
公开(公告)日：2012-04-25
申请号：CN201080021763.4
申请日：2010-04-14
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/29
CPC classification number: G01T1/2985
Abstract: 一种辐射敏感检测器阵列，包括相对于所述成像系统(100)沿z轴方向延伸并沿x轴方向排列的多个检测器模块(118)。检测器模块中的至少一个包括模块构架(124)和至少一个检测器组块(122)。所述至少一个检测器组块(122)通过非螺纹紧固件(142)耦合到模块构架(124)。所述至少一个检测器组块(122)包括二维检测器(126)和聚焦在成像系统(100)的焦斑(112)处的二维抗散射栅格(128)。
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公开(公告)号：CN101080653B
公开(公告)日：2012-02-29
申请号：CN200580043358.1
申请日：2005-12-05
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/29
Abstract: X射线照相成像设备(10)，包括发射辐射束到检查区域(16)的第一辐射源(14)。探测器(18)将穿过检查区域(16)的所探测的辐射线转换成表示所探测的辐射的探测器电信号。探测器(18)具有至少一个在时间上变化的特性，如偏移B(t)或增益A(t)。栅极脉冲装置(64)以每秒1000到5000个脉冲的速率将第一辐射源(14)打开和关闭，这样在每秒1000到5000次之间至少重新测量偏移B(t)，并在探测器信号产生过程中多次修正。用第二脉冲装置(88)通过发脉冲给恒定强度(XRef)的第二受脉冲作用的源(86，100，138)来测量增益A(t)。在探测器信号产生过程中对增益A(t)每秒多次重新测量和修正。
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