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公开(公告)号：CN104330044A
公开(公告)日：2015-02-04
申请号：CN201410584450.X
申请日：2014-10-27
Applicant: 清华大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开了一种高温错位相关系统，包括：至少一个加载装置，高温炉，高温炉具有观察窗，加载装置各个部分嵌入在高温炉内；测试样本，测试样本表面制作有高温标记点，测试样本放置在高温炉内且两端与加载装置相连；远心错位成像镜头，用于高温标记点的错位成像；数字成像设备，数字成像设备与远心错位成像镜头相连，数字成像设备包括靶面，靶面用于采集图像。本发明的高温错位相关系统可以提高图像质量，同时具有操作简便、测量精度高、量程大以的优点。
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公开(公告)号：CN103149614B
公开(公告)日：2015-01-07
申请号：CN201310070717.9
申请日：2013-03-06
Applicant: 清华大学
Abstract: 一种高温光栅的制作及转移方法，属于光测力学技术领域。本发明的技术特点是通过全息光栅制作、电铸、压印、镀膜和转移的方法在试样表面制作高温光栅，只需制作全息光栅模板，即可在试样表面制作出高温光栅，无需对试件表面进行精细抛光处理，因此操作简单、容易实现；有效克服了现有技术中直接在试样表面制作高温光栅所带来的光路复杂、难调节、高温光栅制作成本高和刻蚀难以控制等不足和缺陷。
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公开(公告)号：CN102374849B
公开(公告)日：2013-11-20
申请号：CN201110284129.6
申请日：2011-09-22
Applicant: 清华大学
Abstract: 一种高温有氧加载光学测量系统，属于光测力学、工程材料、构件变形和位移测试技术领域。该测量系统由加载系统、高温炉、数据采集与处理系统、控制及显示系统等组成。本发明可以模拟航天航空飞行器内部分元器件实际工作环境，结合数字图像相关和云纹干涉光学测量方法，可实现高温材料及构件在高温有氧环境下的力学性能、变形状态以及破坏机理研究，利用数字散斑相关系统或云纹干涉测试系统，可实现材料及结构非接触测量和变形场全场测量。该系统具有使用方便，结构紧凑、测量精度高等特点，可以实现不同温度、不同氧压、不同载荷及保护气环境下高温材料和结构的变形行为研究。
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公开(公告)号：CN102506733B
公开(公告)日：2013-10-30
申请号：CN201110284419.0
申请日：2011-09-22
Applicant: 清华大学
Abstract: 一种微米尺度散斑的制作方法，属于光测力学技术领域。本发明的技术特点是利用甩胶机将环氧固化剂和粉末混合溶液在试件表面进行均匀涂覆，完成微米尺度散斑的制作，该方法操作简单，通过改变粉末颗粒的大小、环氧固化剂和粉末的体积质量比、离心时间和甩胶速度参数来控制散斑颗粒的密度和大小，通过平均灰度梯度平方和对不同参数下得到的散斑图进行评价，选择平均灰度梯度平方和最大值的表面散斑图作为所制作的微米尺度散斑，从而实现散斑所制作的散斑适用于不同材料的微观变形行为的研究。
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公开(公告)号：CN102072877B
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN201010587490.1
申请日：2010-12-13
Applicant: 清华大学
IPC: G01N19/08
Abstract: 一种实时残余应力测量系统及方法，利用三维数字图像相关对试件进行三维表面坐标重构，对试件钻孔前后孔周边的散斑图像进行相关搜索，计算得到钻孔前后的三维位移场。试件的钻孔深度能够通过步进电机控制器对步机电机的控制，经过涡轮涡杆机构的平移实现电主轴的高精度自动进给。根据曲面的钻孔区域的平面假设，结合钻孔测量残余应力的理论公式，可以计算得到试件残余应力的大小。该系统的能够实时地高精度进给钻孔的深度，步进测量试件随深度变化时残余应力的大小。该测试系统及方法测量残余应力具有实时性，高精度，非接触，全场位移测量，操作灵活方便等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101819217B
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN201010156007.4
申请日：2010-04-27
Applicant: 清华大学
Abstract: 一种微纳米尺度平面周期性结构的反演方法，属于显微镜成像分析、平面结构检测、光测力学技术领域。本发明以扫描电子显微镜的扫描线为参考栅，微纳米表面周期性结构为试件栅，通过两栅发生几何叠加形成云纹，再通过微小的沿着与扫描线相垂直的方向随机平移扫描电镜的试件平台，即产生相移几何云纹。将得到的云纹图，根据随机相移算法求出云纹条纹相位图，通过该方法的反演得到其试件周期性结构。此方法综合了云纹法灵敏度高、测量视场大，及扫描电子显微镜分辨率高、空间定位方便等优点。该方法可用到其它带扫描线的显微镜下，用于平面周期性结构的反演及全面检测，测量精度高，操作简单，检测成本低，操作自动化，方法灵敏简单有效。
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公开(公告)号：CN102445158B
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201110286850.9
申请日：2011-09-23
Applicant: 清华大学
Abstract: 一种制作高温散斑的方法，属于光测力学技术领域。本发明的技术特点是在通过对模拟散斑进行优化，寻求最佳的散斑制作工艺参数，然后制作不同放大倍数对应下的散斑，通过打印设备将散斑图打印到聚氯乙烯片，比较方便灵活，依此为掩模板，然后通过光刻刻蚀的方法在高温材料试样表面形成散斑。该方法操作简单、散斑场可量化，容易实现，尤其适用于高温环境下不同材料的宏观变形行为的研究。
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公开(公告)号：CN103217275A
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN201310175694.8
申请日：2013-05-14
Applicant: 清华大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开一种显微镜放大倍数标定方法，包括：以已知光栅节距的标准光栅为参考，在需标定的显微镜中采集光栅图像；对采集的图像进行快速傅里叶变换，获得空间频率谱；在空间频率谱中选择某一级次的谐振频率所在区间，进行局部高分辨率离散傅里叶变换得到局部高分辨率空间频率谱；在局部高分辨率空间频率谱中选择幅值最大处的频率作为谐振频率，用谐振频率除以级次得到基频；由光栅节距和基频计算图像对应标准光栅的尺寸；由图像的显示尺寸和图像对应标准光栅的尺寸之比标定显微镜的放大倍数。本发明利用傅里叶变换的方法标定显微镜的放大倍数，相比传统的方法，精度高，标定范围大，适用性广。
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公开(公告)号：CN101832759B
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN201010138837.4
申请日：2010-04-06
Applicant: 清华大学
Abstract: 一种微纳米尺度散斑的制作方法，属于光测力学技术领域。本发明的技术特点是在聚焦离子束系统这一成熟商品仪器环境下，完成微纳米尺度散斑的制作，该方法可直接在试件表面进行刻蚀，无需掩模板和光刻胶，无温度要求，在常温下即可进行，操作简单。通过比较图像子区灰度梯度平方和选用最佳模拟散斑图，通过改变聚焦离子束系统的放大倍数可以控制散斑的大小和面积，通过改变束流强度和刻蚀时间可改变散斑形貌，所制作的散斑适用于不同材料的微纳观变形行为的研究。
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公开(公告)号：CN102374849A
公开(公告)日：2012-03-14
申请号：CN201110284129.6
申请日：2011-09-22
Applicant: 清华大学
Abstract: 一种高温有氧加载光学测量系统，属于光测力学、工程材料、构件变形和位移测试技术领域。该测量系统由加载系统、高温炉、数据采集与处理系统、控制及显示系统等组成。本发明可以模拟航天航空飞行器内部分元器件实际工作环境，结合数字图像相关和云纹干涉光学测量方法，可实现高温材料及构件在高温有氧环境下的力学性能、变形状态以及破坏机理研究，利用数字散斑相关系统或云纹干涉测试系统，可实现材料及结构非接触测量和变形场全场测量。该系统具有使用方便，结构紧凑、测量精度高等特点，可以实现不同温度、不同氧压、不同载荷及保护气环境下高温材料和结构的变形行为研究。
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