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公开(公告)号：CN111918211B
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202010712334.7
申请日：2020-07-22
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开一种基于KD树和改进加权KNN的室内指纹定位方法，包括步骤：1.1构建RSS指纹数据库；1.2采集不同位置的RSS序列，并对采集到的RSS序列进行均值平滑滤波处理，得到滤波后的RSS指纹信息；1.3基于RSS指纹数据库构建KD树存储结构，将得到的滤波后的RSS指纹信息输入KD树存储结构进行处理，得到K个近邻点的RSS指纹特征；1.4计算K个近邻点的RSS指纹特征与滤波后的RSS指纹信息的余弦相似度，得到K个近邻点的RSS指纹特征与滤波后的RSS指纹信息的余弦相似度的系数；1.5将得到的余弦相似度系数输入softmax加权KNN算法中进行处理，输出概率相似度作为加权KNN算法的权重，并计算得到最终定位结果。本发明提升了室内定位精度和定位效率，也降低了终端差异对定位精度的影响。
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公开(公告)号：CN114254538A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202111563069.1
申请日：2021-12-20
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种针对多层遮盖介质的亮温成像方法。传统的透射模型未考虑真实透射中的全反射，在计算透射率选取的积分面积时，将整个下半球面加入计算，使得计算的透射率存在误差，从而影响了整个层次透射模拟成像的准确度。因此，本发明针对遮盖场景提出一种新型透射模型来得到更加精度的亮温矩阵。具体包括：一、在传统模型上提出符合实际透射特点的改进模型。二、研究了双基散射透射系数与透射角存在的关系。三、建立被探测区域内的亮温分布图。四、对传统模型与新模型的各项指标进行对比。本发明能够更为精确地得到针对遮盖场景的亮温图像，从而进一步增加了被动毫米波多层成像模拟的准确性，也能够减模拟成像的计算时间。
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公开(公告)号：CN111463563B
公开(公告)日：2022-02-01
申请号：CN202010141048.X
申请日：2020-03-03
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开一种适用于5G通信的超宽带差分PIFA天线。本发明将原有的两个单独PIFA天线通过接地端口直接相连，并将单端口馈电改为双端口差分馈电，从而为天线提供一对极性相反的信号，从而在微带传输线上产生等幅反向的高频电流。同时利用导带直角弯曲45°外斜切的方法有效控制微带特性阻抗的连续性，并对辐射贴片进行渐变开槽设计以满足超宽带特性。本发明在通带内的差模损耗小，经过测试后发现，该款差分天线在2‑5.4GHz的差模驻波比均小于1.7，且回波损耗均大于12dB,相对带宽大于90％。另外，天线在工作频段内的增益大于5dBi，辐射效率大于95％，具有超宽带、高增益、高效率以及卓越的端口匹配等性能。
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公开(公告)号：CN113808266A
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN202110936583.9
申请日：2021-08-16
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种新型的针对指数型粗糙面的亮温成像方法。传统的粗糙面辐射模型较为简单，在考虑粗糙面时仅仅将粗糙面当作高斯型粗糙面处理，忽略了指数型粗糙面存在的场景，即使用高斯型粗糙面模型来替代指数型粗糙面模型，这样处理的弊端在于无法准确模拟出具有指数型粗糙面场景的亮温，从而极大限制了被动毫米波辐射模拟的应用范围。本发明如下：一、提出指数型粗糙面的辐射特性模型。二、研究了高斯型粗糙面与指数型粗糙面的差异。三、计算了不同粗糙度的指数型粗糙面的亮温。四、比较了在不同粗糙度下高斯型粗糙面与指数型粗糙面的亮温差。本发明完善了粗糙面成像场景，提高了在粗糙面场景下成像的准确性。
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公开(公告)号：CN109659687B
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN201910062163.5
申请日：2019-01-23
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: H01Q1/38 , H01Q1/48 , H01Q1/50 , H01Q1/52 , H01Q5/10 , H01Q5/20 , H01Q5/307 , H01Q21/06 , H01Q21/29
Abstract: 本发明公开了一种适用于5G移动终端的的六单元多频段MIMO天线，包括一介质基板，所述介质基板的底部设有地板，所述地板的两侧均匀开设N个凹槽；所述介质基板的顶部均匀设有N个天线单元，所述天线单元与地板的凹槽对应设置；每个所述天线单元由长方体支架和微带天线结构组成，所述微带天线结构刻蚀于长方体支架上，微天线结构设有馈电点。本发明由于天线对净空区需求较小，具有很高的辐射效率，在5G频段内天线的辐射效率大于62％，且本设计通过支架将天线的结构架高，提高了辐射空间，具有较高的辐射增益，结构简单、尺寸非常小，在移动终端通信中具有很高的实用价值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107728113B
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN201710947756.0
申请日：2017-10-12
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了被动毫米波成像模拟中多层亮温追踪的快速计算方法，其属计算机辅助分析与设计以及软件设计领域，主要用于被动毫米波成像模拟仿真，其目的是针对粗糙面散射系数的特殊分布，通过计算粗糙面的双站散射系数，找到其分布特点与规律，依据规律找到与之相适应的子层射线发射方法，该方法将双站散射系数较小的区域射线稀疏化，而双站散射系数较大的区域内的射线密集化，从而避免射线的冗余计算，提高计算效率，实现多层亮温追踪法的快速计算。
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公开(公告)号：CN109884619B
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN201811524844.0
申请日：2018-12-13
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种能够区分不同粗糙面的被动毫米波辐射模拟方法。现有被动毫米波辐射模拟方法只适用于深粗糙面，而无法适用于中等粗糙面或是微粗糙面。本发明的步骤如下：一、建立被测场景的三维模型。二、对步骤一中建立的三维模型进行剖分。三、定义a个射线组，一个射线组包括b条射线。四、计算沿a×b条射线到达辐射计的亮温，计算中考虑第二层反射。五、将所得的a×b个到达辐射计天线的亮温，转化为a×b分辨率的亮温成像模拟图。本发明在进一步精确地表征了粗糙面的被动辐射模型，使得本发明获取的亮温成像模拟图和实际探测情况愈加接近。本发明能够用于与辐射计拍摄出的亮温图像进行对比，从而判断辐射计的品质好坏。
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公开(公告)号：CN111148219A
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201911333822.0
申请日：2019-12-23
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于TOA/AOA的距离比圆定位方法，包括步骤：S11.获取信号源到基站的到达时间值TOA以及信号源到基站的到达方位角信息AOA；所述基站包括主基站和次基站；S12.根据获取到的到达时间值TOA得到信号源分别到主基站和次基站的距离值，并根据所述得到的距离值计算信号源到次基站与信号源到主基站的距离之比；S13.根据计算得到的信号源到次基站与信号源到主基站的距离之比以及获取的信号源到基站的到达方位角信息，构建定位融合方程，通过最小二乘估计法获得信号源的定位位置。本发明适用于无线传感器网络的信号源定位方法，具有对监测设备硬件的数目要求低等特点，能够准确获取信号源所在位置。
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公开(公告)号：CN106207479B
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201610581108.3
申请日：2016-07-22
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: H01Q15/00
Abstract: 本发明属于电磁介质特性研究技术领域，具体涉及一种左手材料的结构单元，包括介质板和金属条组元，数个金属条组元以阵列式分布于介质板的正面和反面即在介质板的正面和反面都形成组元阵列，金属条组元由两种不同宽度的矩形金属条按照一定规律排列而成；本发明还公开了由多块结构单元等间距排列得到的左手材料。该结构单元仅由两种不同宽度的矩形金属条按照一定规则排列，加工制备十分方便；在介质板的正反面上形成金属条组元阵列，且对立面之间的金属条组元阵列可通过旋转90°互得，实现左手材料的二维各向同性，克服了传统材料的维度受限的缺点；该左手材料的通带带宽可达到6GHz，实现了通带的偏移，大大拓宽了左手材料的应用范围。
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公开(公告)号：CN107066815A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201710160218.7
申请日：2017-03-17
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G06F19/00
CPC classification number: G06F19/00
Abstract: 一种计算地下导体球电磁散射的解析方法，其步骤包括：步骤1.利用均匀平面波对无界均匀媒质中的传播特性得到反射系数R和透射系数T，以及在z＝‑d处的反射电场Er(z)和透射电场Et(z)；步骤2.将透射波作为导体球的入射波，然后根据本征矢量和平面波因子乘积的解析，将透射波展开成地下各向同性的球矢量波函数，利用导体球表面的边界条件得到散射电场展开系数步骤3.导体球的散射波作为入射波对地平面进行反射和透射，其反射波又一次作为导体球的入射波，循环反复；在此循环过程中根据分界面的边界条件得到总体坐标系下的透射场的参数值与局部坐标系下反射场的参数值并利用球矢量波函数的加法定理来得到在总体坐标系下反射场的参数值
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