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公开(公告)号：CN115510718A
公开(公告)日：2022-12-23
申请号：CN202211269128.9
申请日：2022-10-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/23 , G06K9/62 , G06F119/02 , G06F111/08
Abstract: 本发明公开了一种基于多模型协同的数模混合电路设备可靠性预计方法，所述方法包括如下步骤：S1、建立适用于可靠性预计的数模混合电路设备电、热耦合数字样机模型；S2、基于数字样机模型，分析数模混合电路设备电子元器件失效模式、失效机理，确定可靠性薄弱的电子元器件及其失效物理模型；S3、建立融合性能退化和功能失效的数模混合电路设备可靠性预计模型，基于蒙特卡洛及电热耦合仿真法求解得到给定预计工作环境应力及故障判据对应的可靠度曲线。本发明能够解决数模混合电路电子设备电路仿真建模、电子元器件退化与失效行为模拟、电热耦合下同时考虑电子元器件功能失效与性能退化的可靠性预计困难的问题。
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公开(公告)号：CN115203859A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202210929175.5
申请日：2022-08-03
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/17 , G06F30/23 , G06N3/12 , G06F111/06 , G06F119/02 , G06F119/04 , G06F119/14
Abstract: 一种磁保持极化继电器全寿命周期稳健参数寻优方法，涉及一种继电器稳健参数寻优方法。分析非线性各向异性永磁体的实际工作点，计算得到磁偶极子的矢量化信息和永磁体局部磁滞回线模型；建立虚拟样机模型；以吸反力配合特征和分断动能为内核，分析性能特征和质量一致性的形成机制，建立多目标稳健参数设计模型；改进差分进化算法；对多目标稳健参数设计模型进行迭代寻优，生产批次虚拟样机模型进行验证。充分考虑非线性各向异性永磁体充退磁过程中的局部磁滞效应，通过建立综合考虑磁保持极化继电器全寿命周期的多目标稳健参数设计模型，并通过改进的多目标差分进化算法进行寻优，提升综合性能，改善质量一致性。
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公开(公告)号：CN107730127B
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN201710993431.6
申请日：2017-10-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开一种基于输出特性初始分布的继电器贮存退化数据预测方法，包括如下步骤：获取继电器输出特性的初始分布情况；开展继电器加速贮存试验，并获取贮存退化数据；根据贮存退化数据，应用极大似然估计方法拟合其退化轨迹，选定拟合效果最优的退化模型函数形式；将所选定的最优退化模型函数形式，转化为表征输出特性退化数据与输出特性初始值关系的函数表达式，作为状态转移方程；结合输出特性初始分布情况以及状态转移方程，预测继电器退化模型中未知系数的分布情况；随机抽样继电器输出特性初始分布与未知系数分布，代入状态转移方程，实现对继电器贮存退化数据的预测。本发明可有效提高继电器产品贮存可靠性的评估准确度。
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公开(公告)号：CN111626008A
公开(公告)日：2020-09-04
申请号：CN202010464342.4
申请日：2020-05-27
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/33
Abstract: 本发明目的在于提供一种可用于电路系统的分层序贯测试性建模方法，属于电子产品测试性分析与设计领域。首先确定电路系统的故障集与可用物理测点集，并通过建立多信号流图模型确定其中故障信息传播路径；以故障信息传播路径为依据，构建故障至测点的最短路径矩阵；随后以信息熵为依据确立测点可用度排序；仿真获取各故障状态下测点电信号波形；以确定的优先级排序提取各测点的可用特征，并依次增补形成故障-测试特征矩阵；对每次增补后的矩阵充足性进行验证，直至满足规定要求，给出所需的测试性模型。本发明解决了测试性建模中测点可用性评价和序贯增补建模终止时机的判定问题，为电路系统的测试性建模提供了有效手段。
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公开(公告)号：CN111046606A
公开(公告)日：2020-04-21
申请号：CN201911267987.2
申请日：2019-12-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/23 , G06F111/10
Abstract: 一种电磁继电器全寿命周期的全局时变灵敏度计算方法，涉及一种电磁继电器灵敏度计算方法。根据电磁继电器零部件加工及装配工艺特点分析确定其不确定性类型，根据不确定性类型选用合适的不确定性类型量化表征模型，在不确定性参数范围内产生固定区间列阵，同时计算稀疏网格矩阵法产生的固定区间与固定时间的结点函数以及相应节点的权重系数，使用系数矩阵积分法在相应时间按照条件概率密度函数抽取样本点，计算输出特征在具体时刻的方差和条件方差，得到灵敏度值。将灵敏度计算方法从固定中心值计算扩展到不确定性的分布领域，同时将其从固定某一时刻的灵敏度计算扩展到全寿命周期。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111027216A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201911267928.5
申请日：2019-12-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F111/10
Abstract: 一种基于多退化机理耦合的电磁继电器退化建模方法，涉及电磁继电器退化建模方法。对电磁继电器可能存在的时变退化参数进行分析，在表征参数全覆盖的条件下对时变退化参数进行实验，使用基于退化机理或者随机过程的建模方法得到电磁继电器时变退化参数退化模型，使用时变参数退化模型建立电磁继电器时变退化参数字典库，随后建立电磁继电器表征参数计算模型，在表征参数计算模型中，计算当前多退化参数阶段的状态表征参数，将状态表征参数代入退化字典库，获取下一状态的退化参数，再将此时的状态表征参数当作当前状态计算状态参数，进而获取下一状态的退化参数，循环迭代计算得到全寿命周期多源退化参数耦合作用下的时变退化参数模型。
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公开(公告)号：CN104849645A
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201510309286.6
申请日：2015-06-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/27
Abstract: 基于米勒平台电压的MOSFET退化评估方法及采用该方法的MOSFET剩余寿命预测方法，涉及半导体退化评估及寿命预测领域。解决了无法实时在线评估MOSFET退化状态的问题，同时满足了对MOSFET的剩余寿命预测方法的需求。基于米勒平台电压的以MOSFET开通波形中的米勒平台电压作为敏感特征参数的评估方法：将MOSFET的米勒平台电压作为评估器件退化状态的参数。采用基于米勒平台电压的MOSFET退化评估方法获得MOSFET退化模型，再利用粒子滤波算法对MOSFET退化模型的参数进行修正与更新，并得到新的MOSFET退化模型，从而获得MOSFET当前状态距失效阈值的时间差，实现对MOSFET的剩余寿命预测。本发明适用于半导体的退化评估及寿命预测。
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公开(公告)号：CN103149844A
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN201310097447.0
申请日：2013-03-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G05B13/04
Abstract: 继电器批次产品吸合电压一致性控制方法，本发明涉及继电器批次产品吸合电压一致性控制方法。本发明是要解决继电器产品研发过程中缺乏一致性控制方法指导研发人员对可控参数分配合理的容差，进而导致制造过程中批次产品一致性差的问题，而提出了继电器批次产品吸合电压一致性控制方法。一、正交试验设计；二、试验数据贡献率分析；三、建立容差分配目标函数；四、确定关键参数及其容差；五、继电器制造过程控制。本发明应用于继电器研发阶段的一致性控制领域。
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公开(公告)号：CN103116134A
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：CN201310049645.X
申请日：2013-02-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 双余度舵机剩余寿命预测装置及实现双余度舵机剩余寿命的预测方法，涉及直升机用双余度舵机剩余寿命预测装置及实现双余度舵机剩余寿命的预测方法。它为解决目前对应用于航空领域的小型电机剩余寿命的预测精度低的问题。舵机驱动控制器设置有舵机调速信号接口和电流信号接口；信号采集单元的舵机敏感状态信号输出端连接上位机的舵机敏感状态信号输入端；上位机接收并存储舵机敏感状态信号，预测方法：一、预先设置参数；二、舵机驱动控制器控制舵机；三、在信号采集单元采集数据发送给上位机；四、上位机存储；五、数据融合，得到状态特征曲线：得到舵机电枢电流脉动频率的初值，六、得到剩余使用寿命。它适用于舵机剩余寿命的预测。
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公开(公告)号：CN119692117A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411829483.6
申请日：2024-12-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/23 , G06F119/08 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种小样本量下电子设备性能退化预计准确度评估方法，所述方法包括如下步骤：步骤S1、考虑电子设备内元器件最高使用温度，结合电子设备热仿真模型设计试验温度；步骤S2、考虑测量误差，确定试验最短时长；步骤S3、结合性能退化预计结果，考虑退化分散性设计试验样本量；步骤S4、开展热应力加速退化试验，获得电子设备性能退化数据；步骤S5、计算电子设备性能退化预计误差区间。能够在样本量有限的条件下有效评估性能退化预计准确度，降低试验成本，提高评估严谨性。
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