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公开(公告)号：CN112782879A
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN202110019647.9
申请日：2021-01-07
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本发明公开了一种大尺寸液晶屏AOI自动检查机，包括机座、设于所述机座上的上料机构、送检机构、检测机构及下料机构，所述上料机构用于抓取待检液晶屏沿所述机座横向移动放置于所述送检机构，所述送检机构沿所述机座纵向移动输送待测待检液晶屏，所述检测机构用于对液晶屏进行检测，所述下料机构用于抓取送检机构上已检液晶屏沿所述机座横向移动下料。本发明提供一种大尺寸液晶屏AOI自动检查机，节省空间和成本，自动化程度高，转运效率快，提升检查效率。
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公开(公告)号：CN111879787A
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN202010759272.5
申请日：2020-07-31
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本发明公开了一种液晶屏缺陷自动检测设备，其包括机座、第一移送机构、第一检测机构、第二移送机构、第二检测机构、第三移送机构、贴标机构、第四移送机构及第五移送机构；第一移送机构用于抓取待检测液晶屏进行移动；第一检测机构用于对液晶屏一面进行外观检测；第二移送机构与第一移送机构用于承载待检测液晶屏进行移动；第二检测机构用于对液晶屏另一面进行外观检测；第三移送机构用于将液晶屏移送至第四移送机构；贴标机构用于标签带的放卷和标签带标签和底纸的分离；第五移送机构用于拾取标签并进行贴标；第四移送机构用于承载液晶屏向后移动进行卸料。本发明极大地提高了液晶屏的检测效率和贴标效率，又能确保所贴标签的准确度。
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公开(公告)号：CN106645170B
公开(公告)日：2019-05-31
申请号：CN201611191306.5
申请日：2016-12-21
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种台阶电极自动检查机，包括机架，机架上设有：检测平台，其包括载台及伺服系统；图像采集装置，其位于载台的上方，包括基架及设于其上的Z轴调整机构、拍摄机构、读码机构，Z轴调整机构包括PLC控制器及Z轴驱动组件，Z轴驱动组件受PLC控制器控制，并驱动拍摄机构运动，拍摄机构包括相机、点光源及激光测距仪，激光测距仪用于测量其与液晶屏表面的距离，读码机构用于读取液晶屏上携带的条码信息；横向驱动装置，其用于确定图像采集装置相对于检测平台横向移动；工控机，其分别连接伺服系统、PLC控制器、相机、点光源及激光测距仪，工控机上安装有图像采集管理系统和缺陷识别系统；显示屏，其用于显示操作界面和缺陷检测结果。
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公开(公告)号：CN108946050A
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201810891295.4
申请日：2018-08-03
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
IPC: B65G43/08 , B65G47/91 , B65G47/248 , B65G47/22
CPC classification number: B65G43/08 , B65G47/22 , B65G47/248 , B65G47/912 , B65G2201/0258 , B65G2203/044
Abstract: 本发明公开了一种AOI自动下料装置，依次包括送料装置、面板翻转机构、面板定位机构、料盘提升机构、料盘移载机构、面板移载机构、插片机构以及卡闸收料机构。其中，面板由前机机械手放置在面板翻转机构上，由面板翻转机构进行翻转后落到面板定位机构中定位，以便后续机械手移载到料盘提升机构中的料盘中及插片机构上。机械手将不合格面板放置在料盘提升机构中的料盘中，当料盘装满时，料盘移载机构将料盘移载至另一工位，面板移载机构将合格面板移载至插片机构上，插片机构将其纳入卡闸。本发明对下料装置中的各个组成机构进行了改进，从而使得面板被准确移载，降低面板在移载过程中的损耗。
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公开(公告)号：CN219978110U
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202320642780.4
申请日：2023-03-28
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种光学检测平台，包括：形状为长方体的箱体，所述箱体的上表面固定连接有相互平行的第一滑轨组和第二滑轨组，第二滑轨组位于第一滑轨组的内侧，所述第一滑轨组上滑动连接有若干个第一滑块，所述第一滑轨组通过第一滑块连接有两个支撑架，所述两个支撑架上分别设置有相机固定组件和光源固定组件，所述第二滑轨组上滑动连接有载物台，所述第二滑轨组的一侧设置有第二滑轨电机用于控制载物台在第二滑轨组上的移动，所述箱体内设置有控制电脑，所述箱体的一侧设置有按钮板，所述按钮板用于操作控制电脑控制支撑架、相机固定组件、第二滑轨电机，通过各个组件的配合可以实现工件的多角度检测，以保证缺陷的检出，且不漏检。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN217212308U
公开(公告)日：2022-08-16
申请号：CN202220922744.9
申请日：2022-04-20
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种导电粒子压痕检测装置，包括底座、横移模组、横移台、升降模组、安装基台、偏移检测组件及粒子检测组件，所述横移模组固设在所述底座上用于驱动所述横移台沿水平线扫方向移动，所述升降模组固设在所述横移台上用于驱动所述安装基台沿竖直方向升降，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述安装基台的上侧和下侧用于进行偏移检测和粒子检测。本实用新型提供由横移模组带动粒子检测相机和偏移检测相机自动进行线扫检测，取代人力，排除人为参与对产品接触的不良影响，不会对产品造成损伤，减小劳动强度，节省成本。
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公开(公告)号：CN213504520U
公开(公告)日：2021-06-22
申请号：CN202022460933.2
申请日：2020-10-29
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种FV‑AOI检测仪的出料输送装置，包括机架、输送机构、下料机构及机械定位机构，所述输送机构包括至少两组，且其沿竖直方向设置在所述机架上，所述下料机构可升降设置在所述输送机构的输出端，所述机械定位机构包括定位滑轨、定位基座、定位滑座、定位丝杆及定位卡杆，所述定位滑轨设置在所述下料机构上，且两端固设有所述定位基座，所述定位滑轨上设有两组滑动方向相反的定位滑座，所述定位丝杆转动设置在所述定位基座上，所述定位丝杆与所述定位滑座相配合，所述定位卡杆设置在所述定位滑座上。本实用新型提供一种FV‑AOI检测仪的出料输送装置，通过下料机构与多组输送机构配合出料，节省人力成本和占地成本，自动化程度高，提升效率。
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公开(公告)号：CN210092032U
公开(公告)日：2020-02-18
申请号：CN201920995782.5
申请日：2019-06-28
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种LED晶粒外观检测装置，其包括机座、纵移机构、横移机构、检测台、机架、成像组件及光源组件，纵移机构用于驱动横移机构进行纵向移动；检测台设于横移机构上，检测台包括第二底座、旋转机构及置放台，第二底座设于横移机构上，旋转机构设于第二底座上并用于驱动置放台旋转；成像组件包括第一支架、相机及镜头，第一支架设于机架上，相机安装于第一支架上，镜头与相机相连；光源组件包括第二支架、点光源及环形光源，点光源设于镜头上并形成同轴光源，环形光源安装于第二支架上。本实用新型提高了LED晶粒缺陷的检出率，从而降低漏检率，提高LED晶粒检测的准确性，且一次性检测LED晶粒的数量更多，提高了检测的效率。
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公开(公告)号：CN209089098U
公开(公告)日：2019-07-09
申请号：CN201920063051.7
申请日：2019-01-15
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种基于物联网的人工智能图像检测装置，其包括机台、机身、图像采集单元及控制器，机台的顶部设有凹槽，凹槽内设有夹具，机身设于机台上，机身的前侧设有立柱，图像采集单元包括壳座、第一摄像头、位置传感器、驱动件及第二摄像头，壳座固设于立柱的上端，第一摄像头设于壳座的底部，位置传感器设于夹具上，驱动件设于壳座上，驱动件用于使第二摄像头沿着立柱上下升降，控制器设于机身内部，控制器包括主单片机模块、从单片机模块、数据模块及第一物联网通信模块。本实用新型可以通过第一摄像头或第二摄像头采集到清晰、完整的图像信息提供给主单片机模块处理，可以保证图像检测的准确度。
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公开(公告)号：CN206421118U
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201720089340.5
申请日：2017-01-23
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司 , 厦门大学
IPC: G02F1/13 , G02F1/1362
Abstract: 本实用新型公开了一种用于AOI检测的旋转校正平台，包括样品载台、与样品载台连接的安装台、与安装台连接的旋转驱动装置、安装在安装台上的直线驱动装置及由直线驱动装置驱动并伸出样品载台端面的定位块，本实用新型利用特定分布形态的定位块实现待检测样品在样品载台上的精确定位，利用样品载台形成的负压对待检测样品进行吸附，利用AOI设备的图像采集系统确定需旋转校正的角度，再由旋转驱动装置补偿角度，从而减少了在传统检测过程中的缺陷造成的系统误差及随机误差，也提高了产品的检测效率及检测过程中的检测精度。
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