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公开(公告)号：CN106645170A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611191306.5
申请日：2016-12-21
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01N21/8851
Abstract: 本发明公开了一种台阶电极自动检查机，包括机架，机架上设有：检测平台，其包括载台及伺服系统；图像采集装置，其位于载台的上方，包括基架及设于其上的Z轴调整机构、拍摄机构、读码机构，Z轴调整机构包括PLC控制器及Z轴驱动组件，Z轴驱动组件受PLC控制器控制，并驱动拍摄机构运动，拍摄机构包括相机、点光源及激光测距仪，激光测距仪用于测量其与液晶屏表面的距离，读码机构用于读取液晶屏上携带的条码信息；横向驱动装置，其用于确定图像采集装置相对于检测平台横向移动；工控机，其分别连接伺服系统、PLC控制器、相机、点光源及激光测距仪，工控机上安装有图像采集管理系统和缺陷识别系统；显示屏，其用于显示操作界面和缺陷检测结果。
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公开(公告)号：CN106645169A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611191302.7
申请日：2016-12-21
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N2021/8829 , H04N5/23212
Abstract: 本发明公开了一种用于液晶屏边沿线路检测的图像采集系统，包括：检测平台，所述检测平台包括载台及伺服系统，所述载台用于承载待检测液晶屏，其上设有真空吸附孔和气动定位夹，所述伺服系统驱动载台运动；图像采集装置，所述图像采集装置位于所述载台的上方，其包括基架及设于其上的Z轴调整机构、拍摄机构，所述Z轴调整机构包括PLC控制器及Z轴驱动组件，所述Z轴驱动组件受所述PLC控制器控制，并驱动所述拍摄机构运动，所述拍摄机构包括相机、点光源及对焦调整组件，所述对焦调整组件用于测量其与液晶屏表面的距离；工控机，所述工控机分别连接所述伺服系统、PLC控制器、相机、点光源及对焦调整组件。
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公开(公告)号：CN106645169B
公开(公告)日：2019-06-04
申请号：CN201611191302.7
申请日：2016-12-21
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本发明公开了一种用于液晶屏边沿线路检测的图像采集系统，包括：检测平台，所述检测平台包括载台及伺服系统，所述载台用于承载待检测液晶屏，其上设有真空吸附孔和气动定位夹，所述伺服系统驱动载台运动；图像采集装置，所述图像采集装置位于所述载台的上方，其包括基架及设于其上的Z轴调整机构、拍摄机构，所述Z轴调整机构包括PLC控制器及Z轴驱动组件，所述Z轴驱动组件受所述PLC控制器控制，并驱动所述拍摄机构运动，所述拍摄机构包括相机、点光源及对焦调整组件，所述对焦调整组件用于测量其与液晶屏表面的距离；工控机，所述工控机分别连接所述伺服系统、PLC控制器、相机、点光源及对焦调整组件。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106645170B
公开(公告)日：2019-05-31
申请号：CN201611191306.5
申请日：2016-12-21
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种台阶电极自动检查机，包括机架，机架上设有：检测平台，其包括载台及伺服系统；图像采集装置，其位于载台的上方，包括基架及设于其上的Z轴调整机构、拍摄机构、读码机构，Z轴调整机构包括PLC控制器及Z轴驱动组件，Z轴驱动组件受PLC控制器控制，并驱动拍摄机构运动，拍摄机构包括相机、点光源及激光测距仪，激光测距仪用于测量其与液晶屏表面的距离，读码机构用于读取液晶屏上携带的条码信息；横向驱动装置，其用于确定图像采集装置相对于检测平台横向移动；工控机，其分别连接伺服系统、PLC控制器、相机、点光源及激光测距仪，工控机上安装有图像采集管理系统和缺陷识别系统；显示屏，其用于显示操作界面和缺陷检测结果。
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公开(公告)号：CN210092032U
公开(公告)日：2020-02-18
申请号：CN201920995782.5
申请日：2019-06-28
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种LED晶粒外观检测装置，其包括机座、纵移机构、横移机构、检测台、机架、成像组件及光源组件，纵移机构用于驱动横移机构进行纵向移动；检测台设于横移机构上，检测台包括第二底座、旋转机构及置放台，第二底座设于横移机构上，旋转机构设于第二底座上并用于驱动置放台旋转；成像组件包括第一支架、相机及镜头，第一支架设于机架上，相机安装于第一支架上，镜头与相机相连；光源组件包括第二支架、点光源及环形光源，点光源设于镜头上并形成同轴光源，环形光源安装于第二支架上。本实用新型提高了LED晶粒缺陷的检出率，从而降低漏检率，提高LED晶粒检测的准确性，且一次性检测LED晶粒的数量更多，提高了检测的效率。
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公开(公告)号：CN209372711U
公开(公告)日：2019-09-10
申请号：CN201920073397.5
申请日：2019-01-17
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种可在线识别灰尘与划伤的智能检测设备，其包括检测处理单元、光源处理系统、取图系统及自动追焦系统，光源处理系统包括光源切换装置、第一光源装置及第二光源装置，光源切换装置用于控制切换第一光源装置和第二光源装置，第一光源装置包括第一线性光源和斜光源，第二光源装置包括第二线性光源，取图系统包括第一摄像装置和第二摄像装置，第一摄像装置与第一线性光源的垂直线成5-25度夹角，第二摄像装置垂直于被测物平面，自动追焦系统用于对被测物平面进行实时追焦。本实用新型采用暗场光源和亮场光源的同时检测来精确识别灰尘与划伤，可以极大地减少漏检、误判。
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公开(公告)号：CN208621493U
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201820989648.X
申请日：2018-06-26
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种硅片成像系统，包括机架、相机、镜头、光源及输送带。所述输送带用于承载待测硅片，所述光源为组合光源，其由四个条形光源组合成框式，所述四个条形光源的光源角度分别可调；所述光源的中心与所述镜头的中心同心，且其中心投影位于所述输送带沿输送方向的中心线上，所述镜头到所述待测硅片的检测面的距离为500±3mm，所述光源的发光面距所述待测硅片的检测面的距离为120±3mm。本实用新型对光源进行革新，对相机安装高度及光源安装高度进行优化，对对应的器件进行优选与参数调试，降低硅片本身的杂纹影响，有利于提升脏污的检出效果。
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公开(公告)号：CN208386764U
公开(公告)日：2019-01-15
申请号：CN201821078899.9
申请日：2018-07-09
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种带自动测距对焦功能的成像装置，包括驱动装置、成像装置、第一安装座、位移传感器、第二安装座机PLC控制模块。驱动装置包括伺服电机、伺服驱动器、丝杆组件及升降板，所述伺服电机在所述伺服驱动器控制下驱动所述丝杆组件，所述升降板在所述丝杆组件驱动下升降；成像装置包括相机及与相机相连的镜头；第一安装座可调高低地连接在升降板上，相机安装在第一安装座中；位移传感器用于检测其距待检测物表面的距离并通过电压信号表达；第二安装座可调高低地连接在升降板上，位移传感器固定在第二安装座中，位移传感器的测量点与镜头的中心点重合；PLC控制模块根据电压信号发送校正脉冲给伺服驱动器，完成自动测距对焦。
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