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公开(公告)号：CN116545418A
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202310369146.2
申请日：2023-04-07
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03K3/3562 , H03K3/011
Abstract: 本发明公开了一种抗单粒子瞬态和抗单粒子翻转的抗辐射加固触发器电路，包括：反相器电路、时钟控制反相器电路、锁存单元、延迟电路和驱动反相器电路；第一反相器电路的输出端接第一时钟控制反相器电路的输入端和延迟电路的输入端；延迟电路的输出端接第二时钟控制反相器电路的输入端；第一时钟控制反相器电路的输出端接第一锁存单元和第三时钟控制反相器电路；第二时钟控制反相器电路的输出端接第一锁存单元和第四时钟控制反相器电路；第四时钟控制反相器电路的输出端接第二锁存单元；第三时钟控制反相器电路的输出端接第二锁存单元和驱动反相器电路。本发明可同时实现抗单粒子翻转加固和抗单粒子瞬态加固。
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公开(公告)号：CN115547401A
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202211139602.6
申请日：2022-09-19
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G11C29/56
Abstract: 本申请涉及阻变存储器领域，具体公开了一种阻变存储器总剂量辐射测试方法，包括：将对多个阻变存储器进行分组，得到M组阻变存储器，每组阻变存储器包括N个阻变存储器，M组阻变存储器分别对应M个初始阻态；对M组阻变存储器进行总剂量辐射实验；对M组阻变存储器进行循环耐受性实验，循环耐受性实验的结果用于指示阻变存储器的与总剂量辐射相关的测试结果。通过该测试方法，可以模拟阻变存储器受到总剂量辐射后的耐受性变化，以对阻变存储器在总剂量辐射环境中的应用提供优化方案。
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公开(公告)号：CN111487472B
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202010247272.7
申请日：2020-03-31
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种测量单粒子瞬态脉冲宽度的电路结构，包括控制电路、衰减单元、延迟单元、驱动Buffer、计数电路。所述的控制电路用于单粒子瞬态脉冲到来后控制此脉冲传输到由此电路和衰减单元、延迟单元、驱动buffer构成的循环结构中。所述的衰减单元用于减小脉冲宽度，延迟单元用于使循环结构的延时宽度大于脉冲宽度。计数电路利用寄存器和加法器实现对脉冲在循环结构中循环的次数的计数，寄存器的时钟信号由脉冲提供不需额外提供，单粒子瞬态脉冲宽度的测量结果是每次循环衰减的量乘以循环的次数。本发明实现的电路结构，可测范围大，测量精度高。
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公开(公告)号：CN113868043A
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN202111015116.9
申请日：2021-08-31
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种动态可重构芯片的单粒子功能错误测试方法，针对不同功能模块编写对应的测试程序，并按照设计的测试方案进行辐射试验，得到不同测试程序下单粒子功能错误截面联立解得各个独立功能模块的单粒子功能错误截面，为动态可重构芯片的单粒子辐射性能评估提供参考，为动态可重构芯片的抗辐射加固设计提供方向，本发明还公开了一种动态可重构芯片的单粒子功能错误测试系统，包括程控电源模块、上位机控制中心模块和控制区模块，为动态可重构芯片的单粒子功能错误测试方法的实现提供了稳定的测试环境。
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公开(公告)号：CN114582861B
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202210221675.3
申请日：2022-03-09
Applicant: 西安电子科技大学 , 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种单粒子效应加固的印刷转移GaN/Ga2O3Cascode功率器件，低压增强型GaN HEMT的漏极Drain2和高压耗尽型Ga2O3FET的源极Source1相连通，低压增强型GaN HEMT的源极Source2和高压耗尽型Ga2O3FET的栅极Gate1相连通，低压增强型GaN HEMT和高压耗尽型Ga2O3FET之间连通的方式通过将各个外延片结构之间的相互印刷转移，形成单片集成。本发明采用上述结构的一种单粒子效应加固的印刷转移GaN/Ga2O3Cascode功率器件，实现新型的GaN与Ga2O3级联的增强型器件，降低航天系统的复杂度，提升器件的抗辐照能力，提高器件在宇航辐照环境应用下的单粒子烧毁阈值电压。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118282357A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410357059.X
申请日：2024-03-27
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基于冗余结构的抗多位翻转锁存器电路，其中抗翻转模块包括抗翻转电路、两个传输门电路和互锁环；抗翻转电路包括两个二输入C单元、两个三输入C单元、时钟控制C单元和四输入C单元，两个二输入C单元和第一三输入C单元的不同输入端从抗翻转的不同输入端获取信号，第二三输入C单元分别从两个二输入C单元和第一三输入C单元获取信号，时钟控制C单元从第二三输入C单元获取信号，四输入C单元分别从两个二输入C单元、时钟控制C单元和互锁环获取信号，两个传输门从第二三输入C单元获取信号，抗翻转从时钟控制C单元冗余模块、两个传输门和互锁环获取信号，信号输出模块从四输入C单元获取信号，能够有效抵抗多点意外翻转。
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公开(公告)号：CN116885011A
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202310798197.7
申请日：2023-06-30
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H01L29/808 , H01L21/337 , H01L29/16
Abstract: 本发明一种抗单粒子烧毁的高压沟槽型SiC JFET器件结构和制备方法，所述新型抗单粒子烧毁的沟槽型SiC JFET结构的元胞包括：漏极金属电极、N+衬底区、N‑漂移区、栅极金属电极、栅极沟槽底部和侧壁离子注入形成的P型掺杂区、电流扩展层、N+源区以及与源区相连的源极金属电极。其中，P型掺杂区整体与栅极相连，其内部由不同掺杂浓度的P型区域构成，重掺杂区域位于栅极沟槽拐角处。该结构改善了器件内部的电场分布，可有效缓解重离子入射引发的器件内部局部高温情况，具有较强的抗单粒子烧毁能力。同时，该结构可于漂移区额外添加缓冲层，进一步提高器件的抗单粒子烧毁能力。
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公开(公告)号：CN112234954B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202011018917.6
申请日：2020-09-24
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03K3/02
Abstract: 本发明一种节点反馈的单粒子翻转加固触发器电路结构，包括：第一反相器电路、延时电路、C单元结构、第一时钟控制输入电路、第二时钟控制输入电路、第三时钟控制输入电路、第四时钟控制输入电路、主锁存器电路、从锁存器电路、第二反相器电路、第三反相器电路、第四反相器电路和第五反相器电路。反相器电路用于反相输入数据信号D、产生时钟信号CLKN、CLKNN以及输出Q；延时电路用于延时瞬态脉冲；C单元结构用于滤波；时钟控制输入结构用于控制信号在主从锁存器中的传播；主从锁存器电路用于保证电路在受到单粒子辐射时信号保持正确的状态。本发明设计的电路结构，针对单粒子翻转，加固效果好，敏感节点划分容易，版图布局易实现。
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公开(公告)号：CN116131811A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202211485591.7
申请日：2022-11-24
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种FDSOI工艺的双电源冗余纠错瞬时剂量率辐射加固触发器，采用了电路和版图结合的设计加固方法。针对瞬时剂量率辐射导致电源电压发生扰动的问题，设计了双电源冗余纠错电路结构，可以将瞬时剂量率辐射导致的脉冲信号过滤；版图加固设计中将冗余电源设计为最短长度和最大宽度走线，可减小冗余电源电压的扰动。本发明通过双电源冗余纠错结构抑制了电源电压扰动造成的逻辑错误，提高了触发器单元的抗瞬时剂量率辐射能力，同时冗余电源非全局使用，加固代价小。
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公开(公告)号：CN114297097B
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202111452275.5
申请日：2021-12-01
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 一种众核可定义分布式共享存储结构，包括内部数据总线系统、路由单元、处理器核、网络接口单元和存储器模块；横向双向数据线和纵向双向数据线的交叉点放置路由单元；处理器核通过网络接口单元与路由单元连接，路由单元和网络接口单元之间通过处理器核存储访问总线连接；存储器模块直接与路由单元连接。网络接口单元内部集成路由表，它直接根据处理器核发出的存储访问地址查询到目的物理坐标位置，此目的坐标位置添加到数据包的包头后，数据包能够在目的坐标的指引下，通过路由单元，到达要访问的存储器模块。本发明能够克服目前众核处理器存储系统地址空间固定、不支持乒乓操作、存储器模块间无法灵活组合的缺点。
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