电池
    22.
    发明公开
    电池 失效

    公开(公告)号:CN101542790A

    公开(公告)日:2009-09-23

    申请号:CN200780044063.5

    申请日:2007-11-15

    CPC classification number: H01M2/1673 H01M6/40 H01M10/052 H01M10/0585

    Abstract: 本发明的电池具有正极层20、负极层50和电解质层40,其中离子传导经由该电解质层而在两电极层之间进行。在所述电池中,正极层20和负极层50相互层叠在一起,并且在正极层20和负极层50之间设置有绝缘层30。所述绝缘层30的面积小于正极层20和负极层50中的一者的面积并且大于另一者的面积。不存在正极层20和负极层50只隔着电解质层40而彼此相对的部位。即使当电解质层40具有穿孔时,正极层20和负极层50间存在的绝缘层30也可抑制正极层和负极层间的短路。

    操作真空沉积装置的方法和真空沉积装置

    公开(公告)号:CN1966757A

    公开(公告)日:2007-05-23

    申请号:CN200610160377.9

    申请日:2006-11-15

    CPC classification number: C23C14/30 C23C14/16 C23C14/20 C23C14/546 C23C14/562

    Abstract: 在长条状基材上沿其纵向沉积具有均匀厚度薄膜的沉积作业初步试验中,测量从沉积作业开始时的经过时间以及在该经过时间下电源的输出功率。并将所得到的经过时间和输出功率之间的关系储存在存储装置中。随后通过这样一种方法,在长条状基材上进行沉积,其中首先在沉积作业开始之前的预加热步骤中,使用晶体振荡器测厚仪,将该电源的输出功率控制稳定在期望值,然后驱动该基材输送装置,从而在获得期望的沉积速度之后,在该长条状基材上开始沉积作业。在开始该沉积作业之后,将电源的输出功率控制成与储存在该存储装置中的该经过时间下的输出功率相一致。

    锂电池
    25.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101388470B

    公开(公告)日:2013-09-18

    申请号:CN200810212345.8

    申请日:2008-09-10

    Abstract: 本发明涉及一种锂电池,其包括:基板、正极层、负极层以及设置在正极层和负极层之间的硫化物固体电解质层,其中正极层、负极层和硫化物固体电解质层设置在基板上。在该锂电池中,正极层通过气相沉积法形成,并且在正极层和硫化物固体电解质层之间设置有缓冲层,该缓冲层用于抑制锂离子在正极层和硫化物固体电解质层之间的界面附近的不均匀分布。作为缓冲层,优选使用锂离子传导性氧化物,特别是LixLa(2-x)/3TiO3(x=0.1至0.5)、Li7+xLa3Zr2O12+(x/2)(-5≤x≤3,优选-2≤x≤2)或LiNbO3。

    锂电池
    28.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101388470A

    公开(公告)日:2009-03-18

    申请号:CN200810212345.8

    申请日:2008-09-10

    Abstract: 本发明涉及一种锂电池,其包括:基板、正极层、负极层以及设置在正极层和负极层之间的硫化物固体电解质层,其中正极层、负极层和硫化物固体电解质层设置在基板上。在该锂电池中,正极层通过气相沉积法形成,并且在正极层和硫化物固体电解质层之间设置有缓冲层,该缓冲层用于抑制锂离子在正极层和硫化物固体电解质层之间的界面附近的不均匀分布。作为缓冲层,优选使用锂离子传导性氧化物,特别是LixLa(2-x)/3TiO3(x=0.1至0.5)、Li7+xLa3Zr2O12+(x/2)(-5≤x≤3,优选-2≤x≤2)或LiNbO3。

    涂层厚度测量机构和利用该机构的涂层形成设备

    公开(公告)号:CN101078613A

    公开(公告)日:2007-11-28

    申请号:CN200710103255.0

    申请日:2007-05-10

    CPC classification number: C23C14/545 C23C14/562

    Abstract: 在用于连续测量涂层的厚度的测量机构中,该测量机构设置在用于在导电细长基底材料(1)被供给的同时在该基底材料(1)上形成涂层的设备中,用于测量涂层的电容的探测部分(4、8)布置在基底工作站之前和之后,在探测部分(4、8)施加到基底材料(1)的张力被设定成大于在基底工作站施加到基底材料(1)上的张力。从而,在基底材料(1)被连续供给的同时在细长基底材料(1)上形成涂层的过程中,供给速度的变动被抑制,在供给过程中在厚度探测部分(4、8)处沿厚度方向的测量表面的摆动被最小化,且可以高精度测量涂层的厚度。

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