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公开(公告)号：CN109870424B
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN201910163686.9
申请日：2019-03-05
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种基于彩色三步移相技术的哈特曼光线追迹方法，包括采用彩色三步移相法对影像进行计算并得到相位信息；本发明采用彩色三步移相法，结合三维非均匀介质场的反积分曲线三维重建算法，通过投影屏和远心光学系统的组合设置，实现了对非均匀介质场的测量光线的准确追迹及对三维空间折射率的瞬态折射特性测量，大大提高了测量精确度和效率；并且基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量系统整体设计精密，测量精度高，成本较低，应用范围广，具有重要的理论意义和工程应用价值，适合推广应用。
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公开(公告)号：CN109883996A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910164089.8
申请日：2019-03-05
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量方法，包括采用彩色三步移相法对影像进行计算并得到相位信息，采用反积分曲线三维重建算法计算得到测量空间内部存在的气液混合介质的折射率的变化数据；本发明采用彩色三步移相法，结合三维非均匀介质场的反积分曲线三维重建算法，通过投影屏和远心光学系统的组合设置，实现了对非均匀介质场的测量光线的准确追迹及对三维空间折射率的瞬态折射特性测量，大大提高了测量精确度和效率；并且基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量系统整体设计精密，测量精度高，成本较低，应用范围广，具有重要的理论意义和工程应用价值，适合推广应用。
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公开(公告)号：CN109341523A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201811166364.1
申请日：2018-10-08
Applicant: 中国计量大学 , 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明提供一种点衍射干涉三坐标测量装置探头端面调平方法，涉及测量技术领域。采用基于波面对称的探头零点位置调整方法，探测器获取初始波面数据，将探头旋转180°，平移探头再次获取波面，将波面数据旋转180°后与初始波面数据作差值，将探头平移至初始位置和差值为极小值位置的中点位置，为探头零点位置，调整探头的倾斜角并获取波面数据，利用泽尼克多项式拟合方法对波面数据进行拟合得到xy方向倾斜项系数，调节至该系数为极大值时的角度，实现探头端面调平。本发明解决了现有技术中探头端面相对探测面调平困难影响测量精度的技术问题。本发明有益效果为：确定探头端面状态，满足测量模型求解要求，使三维坐标重构结果更加快速和精确。
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公开(公告)号：CN108507495A
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201810225433.5
申请日：2018-03-19
Applicant: 中国计量大学
Abstract: 本发明提供一种基于逆向哈特曼检测的自由曲面检测方法，涉及测量技术领域。标定光路系统结构位置参数；建立被测物置为理想面的理想光路系统模型；依据理想光路系统模型，实验测得包含表面误差与结构误差的波前像差；调整理想光路系统模型参数，对测得数数据进行基于低、高阶像差分离优化的两步结构误差校正，得到标准光路系统模型；对标准光路系统模型进行光线追迹，测得只有由被测物表面误差造成的波前像差，计算得到被测物表面误差。本发明解决了现有技术中高精度检测自由曲面不具有通用性的技术问题。本发明有益效果为：对结构误差进行基于泽尼克拟合的两步优化，有效消除系统的结构位置误差，提升了系统检测精度，检测通用化。
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公开(公告)号：CN117912862A
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202311783065.3
申请日：2023-12-22
Applicant: 中国计量大学
Abstract: 本发明提出了一种表面VxOy量子点修饰的N/S共掺杂碳复合材料的制备方法和用途。选取高蛋白质含量的生物质固体膜作为碳源和氮源，通过超声空化对生物质固体膜进行物理修饰；将低剂量的钒源和硫源试剂与空化后的生物质固体膜恒温磁力搅拌混合均匀，随后采用固液共热法在生物质固体膜细颗粒表面形成化学风化层。本发明以高蛋白质含量生物质固体膜为基底限制了金属氧化物聚集生长，且可实现化学试剂的高效利用，利用极低剂量的化学试剂制得了表面VxOy量子点修饰的N/S共掺杂碳复合材料，提供了新的量子点和富氮碳材料的制备思路，解决了化学试剂大量使用带来的成本和环境问题，同时用于超级电容器电极，显著提高了生物质衍生碳材料的电容特性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111256582B
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN202010075881.9
申请日：2020-01-22
Applicant: 中国计量大学
Abstract: 本发明公开了一种瞬态移相横向剪切干涉仪，包括线性偏振器、偏振分光板、平面反射镜、四分之一波片、成像透镜以及偏振相机，其中，所述线性偏振器设置于偏振分光板的上方，所述四分之一波片、成像透镜、偏振相机依次设置于所述偏振分光板的一侧，所述偏振分光板与X轴方向呈45°夹角，所述平面反射镜设置于偏振分光板下方并与偏振分光板平行。相应的，本发明还公开了瞬态移相横向剪切干涉仪的测量方法。通过本发明提供了一种测量速度快、剪切量任意可调的瞬态移相横向剪切干涉仪。
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公开(公告)号：CN113129213A
公开(公告)日：2021-07-16
申请号：CN202010034447.6
申请日：2020-01-14
Applicant: 中国计量大学
Abstract: 本发明公开了一种数字全息子孔径相位图自动拼接融合方法，包括：采用相位相关算法对相邻两子孔径相位图进行粗匹配，得到两子孔径相位图之间的初始相对位置和初始重叠区域；根据Harris算子分别对两幅子孔径相位图的初始重叠区域进行角点检测，并进行对应的角点匹配和误配点对的剔除，得到最佳Harris角点匹配点对；以得到的得到最佳Harris角点匹配点对为中心，分别在两幅子孔径相位图中选择相应的子图像块，并根据全匹配搜索算法(FS)计算得到最佳匹配点对及其对应的偏移量；根据两幅子孔径相位图、最佳匹配点对及其对应的偏移量，对两幅子孔径相位图进行平移，并对重叠区域进行相位融合,实现对数字全息子孔径相位图的自动拼接融合。
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公开(公告)号：CN109883995B
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN201910164088.3
申请日：2019-03-05
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量系统及其方法，包括内部存在非均匀介质场的测量空间、用于向测量空间射出与光轴形成偏转角为θ的入射光线的投影屏、用于对入射光线穿透测量空间内部的非均匀介质场折射形成平行于光轴的偏折光线进行汇聚成影像的物方远心光学系统；本发明采用彩色三步移相法，结合三维非均匀介质场的反积分曲线三维重建算法，通过投影屏和远心光学系统的组合设置，实现了对非均匀介质场的测量光线的准确追迹及对三维空间折射率的瞬态折射特性测量，大大提高了测量精确度和效率；并且该系统整体设计精密，测量精度高，成本较低，应用范围广，具有重要的理论意义和工程应用价值，适合推广应用。
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公开(公告)号：CN110146154B
公开(公告)日：2021-04-16
申请号：CN201910367953.4
申请日：2019-05-05
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明公开了一种用于物体振动测量的点衍射干涉装置及方法，包括：光源，发射初始光至光路处理模块；光路处理模块，将初始光转换为若干束出射光并入射至测量模块；测量模块，连接被测物体，采集入射光产生的干涉图并处理。单纵模激光器发出的激光经光路处理模块后射入测量模块；入射光经偏振数字相机前置的偏振片阵列后发生干涉；记录四步移相干涉图及各瞬态位置的干涉图；根据干涉图对不同瞬态位置空间三维坐标值进行分析，测量出物体振动过程。本发明通过将被测物体与测量探头固定，并利用偏振数字相机来采集振动过程中各个瞬态位置的干涉图，通过对各个瞬态位置的空间三维坐标进行分析，实现了对物体振动的测量，提高了装置的抗干扰能力。
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公开(公告)号：CN110375643B
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN201910394168.8
申请日：2019-05-13
Applicant: 中国计量大学
Abstract: 本发明公开了一种基于激光连续扫频的三维坐标测量装置及测量方法，包括：光源，产生偏振初始光至第一分光模块；第一分光模块，将偏振初始光分为参考光及第二初始光；第二分光模块，将第二初始光分为若干束检测光至检测模块；检测模块，通过检测光经被测物反射后生产测量光入射到第一分光模块；处理模块，接收第一分光模块的参考光及测量光，并处理。方法包括：根据测量装置建立坐标系；打开光源进行测量数据获取；根据数据计算被测物三维坐标。本发明的实质性效果是：结构简单，不需要采集整幅的干涉信号，且对外界干涉不敏感，仅依靠微弱的激光就可以实现拍频信号的测量，能够实现远距离的三维坐标测量与定位。
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