一种新型持续表面剪切力光学测量方法

    公开(公告)号:CN116973018A

    公开(公告)日:2023-10-31

    申请号:CN202311188881.X

    申请日:2023-09-15

    Abstract: 本发明提供一种新型持续表面剪切力光学测量方法,其解决了传统方法中分辨率低、干扰流场等缺陷;本发明方法包括:设计并制备纳米材料结构色器件,采用旋转加载方式,对纳米材料结构色器件进行校准,校准过程中,多次改变旋转加载方式的条件参数,确定出纳米材料结构色器件的颜色‑剪切力映射关系表,完成校准过程,将校准完成的纳米材料结构色器件置入剪切力光学测量系统中,依据颜色‑剪切力映射关系表,完成飞行器模型表面剪切力的持续测量过程;整个方法中,旋转加载方式采用旋转加载台实现,旋转角速度是其中重要条件参数;本发明实现了飞行器模型表面剪切力的高时间/空间分辨率、可持续观测、高精度的非侵入式测量。

    可见光多光路系统的光轴平行性自准直检测装置及方法

    公开(公告)号:CN116105983B

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN202310398487.2

    申请日:2023-04-14

    Abstract: 本发明提供一种可见光多光路系统的光轴平行性自准直检测装置及方法,所述装置包括可升降支架以及安装在可升降支架上的角锥棱镜和两个光学铰链;光学铰链由两个铰接的斜方棱镜构成,一个斜方棱镜上具有入射光窗口,另一个斜方棱镜上具有出射光窗口;可升降支架上设置有中心为凹槽的圆盘;角锥棱镜设置凹槽中,圆盘以角锥棱镜中心轴为轴心;圆盘上环绕角锥棱镜有一个圆形导轨,圆形导轨上设有两个与圆形导轨滑移连接的滑块底座;每个滑块底座上设置有直线滑轨,每个光学铰链在直线滑轨的径向上与直线滑轨滑移连接。本发明能够适应多光路之间不同的光轴跨度,具有适应性强,操作简单,能够不依赖人为操作而客观检测出光轴平行度误差等特点。

    可见光多光路系统的光轴平行性自准直检测装置及方法

    公开(公告)号:CN116105983A

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN202310398487.2

    申请日:2023-04-14

    Abstract: 本发明提供一种可见光多光路系统的光轴平行性自准直检测装置及方法,所述装置包括可升降支架以及安装在可升降支架上的角锥棱镜和两个光学铰链;光学铰链由两个铰接的斜方棱镜构成,一个斜方棱镜上具有入射光窗口,另一个斜方棱镜上具有出射光窗口;可升降支架上设置有中心为凹槽的圆盘;角锥棱镜设置凹槽中,圆盘以角锥棱镜中心轴为轴心;圆盘上环绕角锥棱镜有一个圆形导轨,圆形导轨上设有两个与圆形导轨滑移连接的滑块底座;每个滑块底座上设置有直线滑轨,每个光学铰链在直线滑轨的径向上与直线滑轨滑移连接。本发明能够适应多光路之间不同的光轴跨度,具有适应性强,操作简单,能够不依赖人为操作而客观检测出光轴平行度误差等特点。

    基于0.3米跨声速低温风洞的PIV测试试验方法

    公开(公告)号:CN119860903A

    公开(公告)日:2025-04-22

    申请号:CN202510354580.2

    申请日:2025-03-25

    Abstract: 本发明属于低温试验技术领域,公开了一种基于0.3米跨声速低温风洞的PIV测试试验方法,包括确定粒子发生器的功率;粒子发生器内加装加热装置和温度传感器,进行地面试验;粒子发生器上加装常温氮气管路;建造和连接液氮闪蒸罐;在各管路上加装匹配的调节阀组件;制造并调节冰粒子粒径;开展PIV测试试验。试验方法利用纯净水作为示踪粒子材料,规避了传统油性示踪粒子和固态示踪粒子对低温风洞防护材料的污染问题,产生的冰粒子粒径均匀、光散射性良好、成本低廉、浓度可控,能够满足0.3米跨声速低温风洞PIV测试试验需求,也可用于其它对示踪粒子污染问题有较高要求的低温环境PIV测试试验需求,具有工程实用价值。

    一种用于复合式纹影技术的图像配准方法

    公开(公告)号:CN118967767A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202411441848.8

    申请日:2024-10-16

    Abstract: 本发明属于航空航天及实验空气动力学技术领域,特别涉及一种用于复合式纹影技术的图像配准方法。其技术方案为:一种用于复合式纹影技术的图像配准方法,包括以下步骤:拍摄标定板图像和实验图像:在实验前,将标定板放置在光路中,拍摄标定板图像;接着撤掉标定板后,保证光路和相机的位置不动,拍摄实验图像;采用基于特征点全局‑局部结构一致性的图像配准方法:特征提取、特征粗匹配、误匹配移除、估计空间变换矩阵、图像变换。本发明无需精确调节光斑和感光元件的相对关系,只需保证物像完整成像在靶面上即可。通过标定和具体的算法,自动将四幅图像配准,以满足计算密度场、速度场的要求。

    一种持续表面剪切力光学测量方法

    公开(公告)号:CN116973018B

    公开(公告)日:2023-12-05

    申请号:CN202311188881.X

    申请日:2023-09-15

    Abstract: 本发明提供一种持续表面剪切力光学测量方法,其解决了传统方法中分辨率低、干扰流场等缺陷;本发明方法包括:设计并制备纳米材料结构色器件,采用旋转加载方式,对纳米材料结构色器件进行校准,校准过程中,多次改变旋转加载方式的条件参数,确定出纳米材料结构色器件的颜色‑剪切力映射关系表,完成校准过程,将校准完成的纳米材料结构色器件置入剪切力光学测量系统中,依据颜色‑剪切力映射关系表,完成飞行器模型表面剪切力的持续测量过程;整个方法中,旋转加载方式采用旋转加载台实现,旋转角速度是其中重要条件参数;本发明实现了飞(56)对比文件刘志勇;张长丰;代成果.表面摩擦应力油膜干涉测量技术在Ma=8的应用.实验流体力学.2015,(06),全文.陈星;毕志献;宫建;姚大鹏;文帅.基于剪敏液晶涂层的光学摩阻测量技术研究.实验流体力学.2012,(06),全文.

    一种新型流场压力光学测量方法

    公开(公告)号:CN116735069B

    公开(公告)日:2023-10-31

    申请号:CN202311023856.6

    申请日:2023-08-15

    Abstract: 本发明提供一种新型流场压力光学测量方法,属于高速流场压力测量技术领域,解决了现有技术空间分辨率低、破坏流场、信号干扰等各类局限性问题;包括:S1、采用柔性材料,设计具有压力敏感特性的超材料结构色器件;S2、设计完成后,制备并获得超材料结构色器件;S3、对超材料结构色器件进行压力定标,获得超材料结构色器件的压力定标数据;S4、搭建试验压力测量系统,应用超材料结构色器件,测量飞行器模型在高速流场下的表面压力,结合压力定标数据,得出模型表面二维压力场分布;本发明创新性的提出超材料结构色测量流场的思路理念,其应用性能稳定,试验可重复性高,可实现较高分辨率的二维压力分布测量。

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